Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа



Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа
Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа
Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа
Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа
Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа
Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа
Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа
Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа
Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа
Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа
Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа

Владельцы патента RU 2592048:

Закрытое акционерное общество "Нанотехнология МДТ" (RU)

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии и может использоваться в условиях ограниченного доступа к зондам, например, в вакууме или агрессивной среде. Многозондовый датчик контурного типа содержит основание, на котором по внешнему контуру первыми концами закреплены гибкие консоли с зондами, имеющими заострения на вторых концах, где гибкие консоли с зондами представляют собой зондовые модули (8). Основание включает установочный модуль, имеющий координатную привязку с зондовыми модулями (8) и включающий первый выступ (55), второй выступ (56) и отверстие (57). Технический результат - обеспечение возможности быстрой смены зондов. 11 ил.

 

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим быструю смену зондов, и может использоваться в условиях ограниченного доступа к зондам, например, в вакууме или агрессивной среде.

Известен многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа, включающий основание, на котором по внешнему контуру первыми концами закреплены гибкие консоли с зондами, имеющими заострения на вторых концах, при этом гибкие консоли с зондами представляют собой зондовые модули [1]. Это устройство выбрано в качестве прототипа предложенного решения.

Недостаток этого устройства заключается в его низких функциональных возможностях, связанных с невозможностью его использования в различных режимах работы.

Технический результат изобретения заключается в расширении функциональных возможностей.

Указанный технический результат достигается тем, что в многозондовом датчике контурного типа для сканирующего зондового микроскопа, содержащем основание (1), на котором по внешнему контуру (2) первыми концами (3) закреплены гибкие консоли (4) с зондами (5), имеющими заострения (6) на вторых концах (7), согласно изобретению гибкие консоли (4) с зондами (5) представляют собой зондовые модули (8), основание (1) включает установочный модуль (9), имеющий координатную привязку с зондовыми модулями (8).

Существует вариант, в котором зондовые модули (8) имеют индивидуальную маркировку.

Существуют также варианты, в которых гибкие консоли (4) имеют различную длину, и(или) различную ширину, и(или) различную толщину.

Существуют также варианты, в которых по меньшей мере одна гибкая консоль (4) имеет переменную ширину и(или) переменную толщину.

Существует также вариант, в котором по меньшей мере одна гибкая консоль (4) имеет V-образную форму (11).

Существует также вариант, в котором гибкие консоли (4) отличаются друг от друга механическими характеристиками.

Существуют также варианты, в которых зондовые модули (8) включают покрытия (15), которые могут быть проводящими, и(или) ферромагнитными, и(или) магнитными, и(или) пьезоэлектрическими.

Существуют также варианты, в которых основание (1) имеет переменную толщину и(или) выполнено композитным.

Существуют также варианты, в которых основание (1) содержит по меньшей мере один функциональный модуль (25), сопряженный с по меньшей мере одним с зондовым модулем (8), при этом по меньшей мере один функциональный модуль (25) выполнен в виде электронного модуля (30) и(или) в виде магнитопровода (35).

Существует также вариант, в котором установочный модуль (9) включает первое отверстие (40), второе отверстие (41) и третье отверстие (42).

Существует также вариант, в котором установочный модуль (9) включает первый выступ (55), второй выступ (56) и четвертое отверстие (57).

Существует также вариант, в котором установочный модуль (9) включает магнитный материал (65).

На фиг.1 изображен многозондовый датчик контурного типа для

сканирующего зондового микроскопа.

На фиг.2 изображен V-образный вариант зондового модуля.

На фиг.3 изображен вариант зондового модуля с покрытием.

На фиг.4 изображен вариант основания переменной толщины.

На фиг.5 изображен вариант композитного основания.

На фиг.6, фиг.7, фиг 8 изображен многозондовый датчик с функциональным модулем.

На фиг.9, фиг.10, фиг.11 изображены варианты выполнения установочного модуля.

Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа содержит основание 1 (фиг.1), на котором по внешнему контуру 2 первыми концами 3 закреплены гибкие консоли 4 с зондами 5, имеющими заострения 6 на вторых концах 7, при этом гибкие консоли 4 с зондами 5 представляют собой зондовые модули 8. Основание 1 включает установочный модуль 9, имеющий координатную привязку с зондовыми модулями 8. Количество зондовых модулей 8 может быть от 4-х и до нескольких сотен. Однако надо иметь в виду, что при увеличении количества зондов необходимо будет увеличивать диаметр основания 1, чтобы обеспечить расстояние между ними, при котором соседние зонды не будут мешать функционированию рабочего зонда.

Существует вариант, в котором зондовые модули 8 имеют индивидуальную маркировку. Эта маркировка может быть выполнена, например, в виде цифр, букв и (или) их сочетаний (не показана).

Существуют также варианты, в которых гибкие консоли 4 имеют различную длину, и(или) различную ширину, и(или) различную толщину (не показано).

Существуют также варианты, в которых по меньшей мере одна гибкая консоль 4 имеет переменную ширину и(или) переменную толщину (не показано).

Существует также вариант, в котором по меньшей мере одна гибкая консоль 4 имеет V-образную форму 11.

Существует также вариант, в котором гибкие консоли 4 отличаются друг от друга механическими характеристиками. Это может быть обеспечено за счет выполнения их из различных материалов

Существуют также варианты, в которых зондовые модули 8 включают покрытия 15 (фиг.3), которые могут быть проводящими 16, и(или) ферромагнитными 17, и(или) магнитными 18, и(или) пьезоэлектрическими 19.

Существуют также варианты, в которых основание 1 имеет переменную толщину и(или) выполнено композитным. Переменная толщина, например, кремниевого основания 1 (фиг.4) может быть ступенчатой и иметь большую величину в центре за счет более высокого первого элемента 20 по сравнению со вторым элементом 21 в зоне установочного модуля 9. Выполнение основания 1 (фиг.5) композитным возможно в виде первого круглого фрагмента 22, изготовленного, например, из керамики или титана и склеенного эпоксидной смолой со вторым фрагментом 23 из кремния, имеющим форму кольца с зондовыми модулями.

Существуют также варианты, в которых основание 1 содержит по меньшей мере один функциональный модуль 25 (фиг.6), сопряженный с по меньшей мере одним зондовым модулем 8. При этом по меньшей мере один функциональный модуль 25 выполнен в виде электронного модуля 30 (фиг.7) и(или) в виде магнитопровода 35 (фиг.8). Электронный модуль 30 может включать, например, предусилитель, обеспечивающий усиление рабочего сигнала от пьезоэлектрического покрытия 15. Магнитопровод 35 может быть соединен с магнитным покрытием 18. При этом через него может осуществляться модуляция магнитного поля на зонде 7.

Существует также вариант, в котором установочный модуль 9 (фиг.9) включает первое отверстие 40, второе отверстие 41 и третье отверстие 42. Посредством отверстий 40 и 41 можно базировать основание 1 на захвате 43 сканирующего зондового микроскопа 44 (показаны условно) с использованием штырей 45 и 46. При этом возможно обеспечение упора этих штырей в стенки отверстий 40 и 41. При таком базировании можно обеспечить погрешность установки основания 1 на захвате 43 в пределах 2-3 мкм. Отверстия 40 и 41 могут быть преимущественно выполнены в композитном основании 1, в титановом фрагменте 22. Закрепление основания 1 на захвате 43 может быть осуществлено через отверстие 42 винтом (не показано). Существует также вариант, в котором установочный модуль 9 включает первый выступ 55 (фиг.10), второй выступ 56 и четвертое отверстие 57. Выступы 55 и 56 могут быть преимущественно выполнены в композитном основании 1, в титановом фрагменте 22. Посредством выступов 55 и 56 можно базировать основание 1 на захвате 43 сканирующего зондового микроскопа 44 (показаны условно) с использованием квадратных отверстий 58 и 59 захвата 43. При этом возможно обеспечение упора этих штырей в стенки отверстий 60, 61 и 62. При таком базировании можно обеспечить погрешность установки основания 1 на захвате 43 в пределах 1 мкм. Закрепление основания 1 на захвате 43 может быть осуществлено через отверстие 57 винтом (не показано).

Существует также вариант, в котором установочный модуль 9 включает магнитный материал 65 (фиг.11), нанесенный на поверхность основания 1, посредством которого может быть осуществлено закрепление основания 1 на захвате 43. При этом захват 43 может включать соленоид 68. Базирование основания 1 в этом случае может быть осуществлено, как показано на фиг.9. Следует заметить, что через соленоид 68 может одновременно осуществляться модуляция магнитного поля на зонде. В этом случае магнитный материал 65 может быть соединен с магнитопроводом 35.

Материалы, размеры и технология изготовления зондовых модулей являются традиционными для изготовления кантилеверов сканирующих зондовых микроскопов и подробно описаны в [2, 3, 4, 5, 6, 7].

Устройство работает следующим образом. Основание 1 закрепляют на захвате 43 СЗМ 44. После завершения работы с одним зондовым модулем 8 осуществляют поворот основания 1 на требуемый угол и продолжают работу с другим зондовым модулем. Подробнее функционирование предложенного устройства описано в [1].

То, что основание (1) включает установочный модуль (9), имеющий координатную привязку с зондовыми модулями (8), позволяет автоматически сопрягать светоотражающие консоли с оптической системой слежения за гибкой консолью (4) после поворота основания (1), что упрощает использование многозондового датчика, особенно в условиях агрессивной среды и вакуума. При использовании других систем слежения обеспечивается более точный выход зонда (5) в зону измерения, что создает возможность исследования более широкого круга объектов. В обоих случаях расширяются функциональные возможности устройства.

То, что зондовые модули (8) имеют индивидуальную маркировку, позволяет в процессе работы оперативно выбирать необходимый режим работы, что расширяются функциональные возможности устройства.

То, что гибкие консоли (4) имеют различную длину, и(или) различную ширину, и(или) различную толщину, по меньшей мере одна гибкая консоль (4) имеет переменную ширину и(или) переменную толщину, по меньшей мере одна гибкая консоль (4) имеет V-образную форму (11), позволяет исследовать более широкий круг материалов, что расширяются функциональные возможности устройства.

То, что гибкие консоли (4) отличаются друг от друга механическими характеристиками, одновременно позволяет оперативно выбирать необходимый режим работы и исследовать более широкий круг материалов, что расширяются функциональные возможности устройства.

То, что зондовые модули (8) включают покрытия (15), которые могут быть проводящими, и(или) ферромагнитными, и(или) магнитными, и(или) пьезоэлектрическими, позволяет оперативно выбирать необходимый режим работы и исследовать более широкий круг материалов, что расширяются функциональные возможности устройства.

То, что основание (1) имеет переменную толщину и(или) выполнено композитным, упрощает его замену, а также повышает точность его установки, что упрощает его эксплуатацию в условиях ограниченного доступа.

То, что основание (1) содержит по меньшей мере один функциональный модуль (25), сопряженный с по меньшей мере одним зондовым модулем (8), при этом по меньшей мере один функциональный модуль (25) выполнен в виде электронного модуля (30) и(или) в виде магнитопровода, (35) позволяет исследовать более широкий круг материалов, что расширяет функциональные возможности устройства.

То, что установочный модуль (9) включает первое отверстие (40), второе отверстие (41) и третье отверстие (42) или включает первый выступ (55), второй выступ (56) и четвертое отверстие (57), повышает точность его установки, что упрощает его эксплуатацию в условиях ограниченного доступа.

То, что установочный модуль (9) включает магнитный материал (60), упрощает его замену, что упрощает его эксплуатацию в условиях ограниченного доступа.

Литература

1. Патент RU 2244256.

2. Патент RU 2121657.

3. Патент RU 2340963.

4. Патент US 4943719.

5. Патент US 5264696.

6. Патент US 5345815.

7. Патент US 6156216.

Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа, содержащий основание (1), на котором по внешнему контуру (2) первыми концами (3) закреплены гибкие консоли (4) с зондами (5), имеющими заострения (6) на вторых концах (7), при этом гибкие консоли (4) с зондами (5) представляют собой зондовые модули (8), отличающийся тем, что основание (1) включает установочный модуль (9), имеющий координатную привязку с зондовыми модулями (8) и включающий первый выступ (55), второй выступ (56) и отверстие (57).



 

Похожие патенты:

Устройство манипулирования относится к области точной механики и может быть использовано для точного перемещения объектов, например, в зондовой микроскопии. Заявленное устройство манипулирования включает основание (1) с блоком направляющих, на котором установлена подвижная каретка (2), включающая блок опор, сопряженная с блоком направляющих посредством блока опор, и привод (13), сопряженный с рычагом (18), имеющий возможность разъемного соединения с подвижной кареткой (2) Согласноизобретению подвижная каретка (2) установлена на блоке направляющих при помощи блока опор с возможностью однозначной установки в рабочее положение, при этом подвижная каретка (2) в рабочем положении имеет минимум потенциальной энергии.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в зондовой сканирующей микроскопии и атомно-силовой микроскопии для диагностирования и исследования наноразмерных структур.

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения линейных перемещений по трем взаимоортогональным осям. Интерферометр содержит одночастотный лазер, коллиматор для ввода излучения в транспортное волокно, коллиматор, вводящий излучение в оптическую схему, акустооптический модулятор, формирующий опорное и измерительное плечи интерферометра, поляризационный светоделитель, позволяющий развести лучи на расстояние, достаточное для их независимого использования зеркалами, систему зеркал, которая расположена вокруг пьезоэлектрического стола, триппель-призмы, закрепленные на пьезоэлектрическом столе так, что их оси симметрии проходят через центр вращения пьезоэлектрического стола, фотоприемники, подключенные к соответствующим измерительным входам фазометра, а также генератор сдвиговой частоты, связанный с акустооптическим модулятором и опорным входом фазометра.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в зондовой сканирующей микроскопии и атомно-силовой микроскопии для диагностирования и исследования наноразмерных структур.

Изобретение относится к сканирующим зондовым микроскопам, адаптированным для измерения поверхности образца, полученной после механической модификации этой поверхности.

Изобретение относится к креплению для сенсорного блока сканирующего зонда. Крепление для сенсорного блока (27, 127) включает опору (1, 101, 201, 301), образующую в креплении плоскость, подвижные фиксирующие соединительные элементы (9, 109, 208), расположенные по краю опоры (1, 101, 201, 301) и выполненные с возможностью взаимодействия с соответствующей ответной частью (43, 143) сенсорного блока и возможностью перемещения в первое положение, в котором они прикладывают усилие к установленному сенсорному блоку (27, 127) таким образом, чтобы действовать на него в направлении опоры (1, 101, 201, 301) по нормали к указанной плоскости, и во второе положение, в котором они позволяют производить установку сенсорного блока (27, 127) на опору (1, 101, 201, 301) или снятие этого блока с опоры в направлении вдоль нормали к плоскости.

Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии. Сканер содержит корпус сканера, включающего привод и датчик для обнаружения движения сканера.

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии. Согласно способу работы сканирующего зондового микроскопа генерируют относительное периодическое перемещение между зондом и образцом, детектируют перемещение зонда, восстанавливают из продетектированного перемещения зонда мгновенную силу между зондом и образцом при взаимодействии зонда и образца, определяют интересующую временную зону, связанную с восстановленной мгновенной силой, и стробируют ее.

Изобретение относится к области техники зондовой спектроскопии, которая занимается разработкой устройств и методов для исследования спектров поверхности с нанометровым разрешением.

Изобретение относится к способу нанесения покрытия на зонды для атомно-силовой микроскопии (АСМ). Способ включает нанесение покрытия по меньшей мере на один АСМ-зонд посредством источника ионных кластеров.

Способ измерения поверхности объекта в режиме сканирующего зондового микроскопа относится к измерительной технике и может быть использован для исследования структур образцов, например биоматериалов и изделий медицинского назначения. Согласно способу проводят подготовку поверхности 10 объекта 9 путем ее среза за счет относительного перемещения по третьей координате Z объекта 9 и ножа 3 с кромкой 4, расположенной вдоль второй координаты Y. Осуществляют сближение зонда 13 с поверхностью 10 объекта 9 по первой координате X, относительное сканирование зонда 13 и поверхности 10 объекта 9 в плоскости второй координаты Y и третьей координаты Z и проведение измерения поверхности 10 объекта 9 составлением карты поверхности 10 объекта 9. При этом подготовку поверхности 10 объекта 9 дополняют периодическим перемещением поверхности 10 объекта 9 относительно ножа 3. Технический результат изобретения заключается в повышении качества подготовки поверхности объектов к измерению и повышении качества зондовых измерений за счет уменьшения влияния неровностей срезанной поверхности объектов на процесс измерений. 11 з.п. ф-лы, 1 ил.

Изобретения относятся к измерительной технике, в частности к способу и системе нанопозиционирования объекта. Система содержит неподвижное основание, опору для объекта, привод для приложения силы с целью перемещения опоры относительно неподвижного основания, датчик для измерения силы нагрузки на опору и контроллер для обработки измеренной силы нагрузки с целью управления положением опоры и/или для подавления по меньшей мере одной резонансной частоты системы. Кроме того, предлагается способ управления такой системой. Технический результат заключается в повышении точности позиционирования, уменьшении времени установки и увеличении скорости сканирования. 2 н. и 41 з.п. ф-лы, 20 ил., 2 табл.

Изобретение относится к областям микро- и наноэлектроники, физики поверхности и может быть использовано для исследования информационных характеристик поверхности наноструктурированных и самоорганизующихся твердотельных материалов. Сущность способа заключается в том, что получают изображения исследуемой поверхности с высоким разрешением средствами атомно-силовой микроскопии, вычисляют с помощью метода средней взаимной информации характеристики поверхности, классифицируют исследуемую поверхность по величине энтропии и степени упорядоченности. 1 ил.

Изобретение относится к области формирования зондов сканирующих зондовых микроскопов и к их конструкциям, в частности кантилеверов, состоящих из консоли и иглы. Зонд для сканирующих приборов содержит кантилевер на массивном держателе и монолитный с кантилевером ус, расположенный на свободной части кантилевера. Кантилевер выполнен из металлического монокристаллического слоя, а ус эпитаксиален указанному слою. Использование устройства обеспечивает его проводимость при одновременном улучшении разрешения и повышении надежности зонда. 4 з.п. ф-лы, 1 ил.

Изобретение относится к области техники зондовой спектроскопии, которая занимается разработкой устройств и методов для исследования спектров поверхности с нанометровым разрешением. Согласно способу измерения энергетических спектров квазичастиц в конденсированной среде возбуждают квазичастицы с нужными свойствами, производят распространение, отражение, повторное распространение отраженных квазичастиц, регистрацию отраженных квазичастиц, обработку полученной информации и восстановление спектра квазичастиц в исследуемом образце. При этом измерение может проводиться однократно или двукратно. Техническим результатом является упрощение настройки, повышение стабильности работы, уменьшение искажений. 2 н.п. ф-лы, 2 ил.

Использование: для комплексной диагностики физико-химических свойств наноструктурированных покрытий на основе единичных наночастиц металлов и металлооксидов. Сущность изобретения заключается в том, что образец, представляющий собой проводящую или полупроводниковую подложку с нанесенным на ее поверхность покрытием на основе единичных наночастиц металлов и металлооксидов, сканируют с помощью металлического острия сканирующего туннельного микроскопа и исследуют спектроскопически путем измерения вольт-амперных зависимостей туннельного наноконтакта с целью установления формы и размеров наночастиц, электронной структуры наночастиц, степени кристалличности наночастиц и наличия у наночастиц дефектов, после чего, не прекращая процессов сканирования и измерения вольт-амперных зависимостей туннельного наноконтакта, подвергают дозированной выдержке в газовой среде химического реагента с целью расчета адсорбционного коэффициента прилипания и установления продуктов и формы адсорбции химического реагента на поверхности наночастиц, с последующим удалением адсорбировавшегося на наночастицах покрытия реагента путем прогрева образца, причем в процессе выдержки образца в газовой среде химического реагента время сканирования выбранного участка поверхности образца и давление реагента подбирают так, чтобы их произведение составляло не более 1×10-6 торр×сек. Технический результат: обеспечение возможности одновременно определить большое число различных параметров, характеризующих как сами наночастицы покрытия, так и их физико-химические свойства. 1 н. и 3 з.п. ф-лы, 5 ил., 1 табл.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в зондовой сканирующей и атомно-силовой микроскопии. Магнитопрозрачный кантилевер соединен с электропроводящей магнитопрозрачной зондирующей иглой, вершина которой подвижно соединена с помощью двух вложенных углеродных нанотрубок с магнитопрозрачной сферой, выполненной из стекла со сквозными нанометровыми порами малого и большого диаметра, заполненными соответственно квантовыми точками и магнитными наночастицами структуры ядро-оболочка. Управление возбуждением квантовых точек структуры ядро-оболочка и их перемещение по координате Z относительно объекта диагностирования осуществляется с помощью электромагнитных полей. Техническим результатом является возможность сканирования боковых стенок 3-D нанообъектов и наноколодцев по координате Z с одновременным сочетанием комбинаций точечного теплового, магнитного и электромагнитного с оптической длиной волны воздействия с одновременным измерением характеристик электрического отклика на это стимулирующее воздействие в одной общей точке поверхности объекта с координатами X, Y без влияния на соседние участки. 2 ил.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в атомно-силовой микроскопии. Сущность изобретения заключается в том, что магнитопрозрачный кантилевер соединен с электропроводящей магнитопрозрачной зондирующей иглой, вершина которой соединена с магнитопрозрачной полимерной сферой с нанометровыми конусообразными порами наименьшего диаметра, которые заполнены квантовыми точками структуры ядро-оболочка, а поверхность вершины зондирующей иглы подвижно соединена с помощью двух вложенных углеродных нанотрубок с магнитопрозрачной стеклянной сферой со сквозными нанометровыми порами малого и большого диаметра, заполненными соответственно квантовыми точками и магнитными наночастицами структуры ядро-оболочка. Техническим результатом является возможность осуществления сканирования боковых стенок 3D нанообъектов и наноколодцев по координате Z с одновременным сочетанием комбинаций точечного теплового, магнитного и электромагнитного с оптической длиной волны воздействия с одновременным измерением механической реакции в одной общей точке поверхности объекта диагностирования с координатами X, Y без влияния на соседние участки. 2 ил.

Изобретение предназначено для оптической микроскопии и спектрометрии комбинационного рассеяния, люминесценции или флуоресценции с использованием зондового датчика в качестве оптической антенны. Микроскоп содержит основание 1, измерительную головку 2, зондовый датчик 3, держатель зондового датчика 4, сканирующее основание 5 с держателем образца 6, первый объектив 7 и первую систему визуализации 9, оптически сопряженную с первым объективом 7 и образцом 10. Также в микроскоп введены первая система ввода/вывода излучения 8, расположенная со стороны измерительной головки 2 относительно основания прибора 1, конфокальный микроскоп 11, оптически сопряженный с, по меньшей мере, одним источником излучения 12 и с первой системой ввода/вывода излучения 8, спектрометр 13, содержащий, по меньшей мере, один детектор 14 и оптически сопряженный с первой системой ввода/вывода излучения 8. Зондовый датчик 3 оптически открыт для доступа источника излучения 12, оптически сопряжен посредством первого объектива 7 с первой системой ввода/вывода излучения 8 и содержит оптически активную зону 15. Технический результат – повышение универсальности конструкции, усиление флуоресценции, комбинационного рассеяния, повышение пространственного разрешения оптической спектроскопии. 22 з.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение предназначено для исследования и модификации поверхности измеряемых объектов с помощью источников излучения. Сканирующее устройство локального воздействия включает образец (1) с первой (2) и второй поверхностями (3), зонд (4) с острием (5), закрепленный в модуле зонда (7), сканер (8), первый модуль перемещения (9) и блок управления (10). Сканер (8) и первый модуль перемещения (9) установлены на платформе (11). Зонд (4) расположен с возможностью относительного сканирования острия (5) и первой поверхности (2) образца (1). Блок управления (10) адаптирован для сканирования поверхности (2) острием (5). Зонд (4) включает модуль излучения (6). Также устройство снабжено вторым модулем перемещения (13) и пуансоном (14), установленным на третьем модуле перемещения (15), и датчиком излучения (19), установленным со стороны второй поверхности (3) образца (1) с возможностью сопряжения с модулем излучения (6). Образец (1) установлен на сканере (8), закрепленном на втором модуле перемещения (13), расположенном на платформе (11). Модуль зонда (7) с зондом (4) установлен на первом модуле перемещения (9), расположенном на платформе (11). Пуансон (14) с третьим модулем перемещения 15 установлен на платформе (11) с возможностью взаимодействия с образцом (1). Технический результат - увеличение глубины воздействия на образец, расширение диапазона воздействий. 4 з.п. ф-лы, 4 ил.
© Патентный поиск, поиск патентов на изобретения - FindPatent.RU 2012-2024
Политика конфиденциальности 2016-07-20 2016-07-20T00:51:03
Наверх