Способ обнаружения дырчатости в частично пропускающих свет материалах

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

27I09l

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства хе

Заявлено 04,XI.1968 (№ 1283218/29-33) Кл. 421, 52 с присоединением заявки М>—."у1ПК G Oln

УДК 676.019.258(088.8) Приоритет

Опубликовано 12Л .1970. Бюллетень хе 17

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Дата опубликования описания 19Л 111.1970 (л у1чу уg ° ° jE 2ол В лл

- - - - Т " - e P с т ноллнллоуно-оунолнлотлу-,нл

Лвтор изобретения

И. H. Лихтман

Заявитель Украинский научно-исследовательский институт промышленности

СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЫРЧАТОСТИ В ЧАСТИЧНО

ПРОПУСКАЮЩИХ СВЕТ МАТЕРИАЛАХ

Известный способ обнаружения дырчатости в частично пропускающих свет материалах, например бумаге, путем сканирования материала на просвет световым лучом отличается сложностью процесса и низкой степенью точности обнаружения дырчатости.

По предлагаемому способу весь световой поток одного луча развертки разделяют на две компоненты — прямую с примесью диффузной и диффузную, причем прямую компоненту с примесью диффузной используют для получения основного сигнала, а диффузную для получения компенсирующего сигнала датчика.

Предлагаемый способ повышает степень точности обнаружения дырчатости и упрощает процесс, На фиг. 1 изображена схема просмотра материала по предложенному способу; на фиг.

2 — ход лучей сквозь контролируемый материал при попадании в зону контроля отверстия (дырки) в материале; на фиг. 3 — ход лучей сквозь контролируемый материал при нахождении в зоне контроля участка материала без дырчатости; на фиг. 4 — оптическая схема для осуществления предложенного спосооа.

Способ осуществляется следующим ооразом. Контролируемый материал 1 освещают последовательно световым лучом 2 развертки, просматривающим вс|о подлежащую контролю поверхность материала. Поперечнос сечение луча развертки представляет собой вытянутую поперек направления движения по5 лоску с длиной, равной или несколько большей ширины материала, т. е. в данном случае используют всего один элемент развертки.

Продольное ссчстше луча развертки в плоскости А, перпендикулярной поверхности мате10 риала, представляет собой конус с вершиной, находящейся в плоскости источника 8, что достигают с помощью диафрагмы 4, вырезающей из всего светового потока и точника 8 необходимый для получения элем нта развертки

15 пучок лучей с угловым размером и.

Если луч развертки попадает на поверхность частично пропускающего свет п рассеивающего пропущенный световой поток материала 1 (фиг. 3), то направление хода лучей

20 после выхода из материала изменится, что приводит к тому, что угол выхода лучей а )u.

Выходящий из материала диффузный пучок лучей промодулирован по интенсивности не25 одиородностями структуры материала.

Если в материале имеется равное или большее элемента развертки отверстие, то направление хода лучей пучка развертки не изменится, т. е. а =а, и весь луч развертки, ис изме30 нившись ни по интенсивности. ни по направлеП едмет изобр етения

271091

4 го ослабления ОНОВОГО СИГ

3 ле д, я еще большег го потока ди ффузной ком е стие в материа ала часть светова отоприемника и сквозь отверс нала нию, проходит ие мень- ПОНЕНТЫ OO P але имеется Отверстие, меньЕсли в материале име ие мень

ОД KOTOPOI О поДают его сигнал о гпее п оходящая сквозь на- емника, е ал не меняя ся за матери ., Л С ОТОПРИЕМ мника б содера другая часть а сигнал с фотоправления и и нтенсивности, а жит только фонов а с хо- а

ый сигнал, а с чей части чно поглощаясь в I и узн

Рф но рассеиваяс ь в yI - жит — и оновыи и п

10 е вычита ния выходной

" сигит сквозь него, д н ве ст то в результат ержит только дит оходящ ве стие лы, то ого силителя соде нал разностного у а ним диффракцион- ого

2 (фиг 4) Эту полезнь " азвертки ное изображение р ез отверстие диачасть лучей р п опускают через . е ы которого го выбирают в со- 15 пос ия дырчатос и д р ости в частично фрагмы 4, размер иффракционного изоСпособ обнаружени д р

2. Попадая на фот р азмерами ди ак топ исвет материалах, HB вания м атериала на прбр р Р п тем сканиро ийся тем, что, "" ООР 1 ют ом отличающи

В точности обна хОдит и некотор мате, иале. ме ая 20 свет ния степени то ф агмы про. его с 1 и п ощения процесса, ве сь отверстие Р ия дырчатости звертки раздеф зной компонен чен- жени ного луча раз дифч У иал светового оненты †пр ка основного сиги сигкомпонентой, авномерн

ЧЯ ПОЛУЧЕНИЯ е д. ения комп енсирующего си1 ельно осла ляе о ную— риала, значитель ч зной нала датчика. ненты, заключенной в угл

Составитель В. Распопова

Редактор С. И. Хейфиц Техред Л. В. Куклина Корректор Т. Лаврухина

Заказ 2208/13 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4, 5

Типография, пр. Сапунова, 2

Способ обнаружения дырчатости в частично пропускающих свет материалах Способ обнаружения дырчатости в частично пропускающих свет материалах Способ обнаружения дырчатости в частично пропускающих свет материалах 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому приборостроению

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в фотографической, бумажной, текстильной и металлообрабатывающей промышленностях для проверки качества движущихся ленточных гибких материалов

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к отделочному производству текстильной промышленности, а именно к устройствам контроля качества поверхности текстильных полотен, в частности, при отделке полотен на печатных валах, и может быть использовано в браковочных отделах ткацкого и отделочного производств

Изобретение относится к оптическим дифракционным методам неразрушающего контроля структурных геометрических периодических параметров непрозрачных тканых полотен любой природы, а также может найти применение при контроле любых пропускающих свет или не пропускающих свет плоских текстильных полотен, которые недоступны для непосредственного дифракционного анализа, но доступы для фотографирования, например музейные тканые образцы

Изобретение относится к устройству и способу контроля поверхности объекта для идентификации поверхностных характеристик типа дефектов структуры

Изобретение относится к оптическим дифракционным методам неразрушающего контроля структурных геометрических периодических параметров тканных или трикотажных полотен любой природы и может найти применение при контроле любых не пропускающих свет плоских материалов, имеющих на поверхности оптический периодический рельеф, которые недоступны для непосредственного дифракционного анализа, но доступны для ксерокопирования
Наверх