Нановеберметр

 

Есе-., иато;,:277081 о п ис-зт -тт--:и-.в

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советсииз

Социалистическиз

Республии

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 12Х.1968 (№ 1241016(18-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 22ХI 1.1970. Бюллетень ¹ 24

Дата опубликования описания 6.XI.1970.

Кл. 21е, 12

Комитет по делам изобретений и отирытий при Совете Министров

СССР

МПК G Оlг 33/02

УДК 621.317 444 (088.8) Автор изобретения

Г. А. Забиров

Заявитель

НАНОВЕБЕРМЕТР

Перемагничивающие обмотки соединены с источником переменного тока. Испытуемый образец 4 дважды перемагничивается за каждый период переменного тока. Импульс напряжения, возникающий при перемагничивании образца, интегрируется колебательным контуром, образованным измерительной обмоткой 8, катушкой 5, конденсатором б и катушкой 9, и преобразуется им в свободные зату10 хающие колебания. Эффективное значение этих колебаний измеряется милли (микро) вольтметром 8, шкала которого отградуирована в единицах измеряемого потока с помощью эталонного образца и резистора 7.

15 Измерительная обмотка 8 выполнена укороченной из тонкого провода, что повышает коэффициент охвата потока образца.

Катушка 9 индуктивности повышает добротность колебательного контура и для обеспе20 чения его линейности выполнена на тороидальном сердечнике из ферродпэлектрика, например феррита. При этом площадь сечения кольца сердечника должна быть достаточно большой.

Нановеберметр, содержащий две идентичные

30 катушки, измерительные обмотки которых обИзобретение относится к области магнитных измерений и предназначено для измерения потока насыщения тонких и сверхтонких ферромагнитных лент, пленок и микропроволок.

Известные устройства для измерения потока насыщения тонких ферромагнитных образцов, содержащие интегрирующий колебательный контур, имеют небольшой коэффициент охвата потока образца, что не обеспечивает достаточной чувствительности при измерении потока коротких или неоднородности потока длинных образцов.

Предлагаемый нановеберметр отличается от известных тем, что он снабжен высокодобротной линейной индуктивностью, включенной последовательно в цепь колебательного контура, а измерительные обмотки выполнены с повышенным коэффициентом охвата потока образца.

Это повышает чувствительность нановеберметра.

На чертеже изображена схема предлагаемого прибора.

Схема состоит из идентичных катушек l индуктивности с перемагничивающими 2 и измерительными 8 обмотками, испытуемого образца 4, катушки 5 установки нуля, конденсатора б, переменного калибровочного резистора 7, милли (микро) вольтметра 8, высокодобротной катушки 9 индуктивности.

Предмет изобретения

277081

Составитель В. Н. Фетина

Текред 3. M. Тараненко Корректор Т. А. Абрамова

Редактор Т. Иванова

Заказ 3200/4 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, )К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 разуют с конденсатором интегрирующий колебательный контур, отлича(ощийся тем, что, с целью повышения чувствительности, он снабжен высокодобротной линейной индуктивностью, включенной последовательно в цепь колебательного контура, а измерительные обмотки выполнены с повышенным коэффициентом охвата потока образца.

Нановеберметр Нановеберметр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Изобретение относится к электроизмерительной технике и, прежде всего, к магнитометрии

Изобретение относится к области электротехники, в частности к магниторезистивным считывающим элементам, и может быть использовано в компьютерной технике для считывания информации с магнитных носителей с высокой информационной плотностью, а также в сенсорной технике и автоматике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения напряженностей магнитных полей, например, в геофизических исследованиях

Изобретение относится к электроизмерительной технике

Изобретение относится к приборостроению и может быть использовано для определения полей рассеяния микроскопических объектов, в частности магнитных головок

Изобретение относится к способам измерений параметров тонких магнитных пленок (ТМП) и может найти применение при научных исследованиях и технологическом контроле образцов ТМП, например, гранатовых эпитаксиальных структур
Наверх