Способ диагностирования цепей измерения температур



Способ диагностирования цепей измерения температур
Способ диагностирования цепей измерения температур
G01R31/2619 - Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды G01R 1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H01H 71/04,H01H 73/12, H02B 11/10,H02H 3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H01L 21/66; испытание линий передачи энергии H04B 3/46)

Владельцы патента RU 2724247:

Акционерное общество "Научно-исследовательский институт физических измерений" (RU)

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах автоматического измерения, управления и аварийной защиты, в состав которых входят измерители температуры на основе термопар. Предложен способ диагностирования цепей измерения температур включает нагрев термопар с последующим измерением температур и анализом результатов измерения температур. При этом проводят нагрев холодных спаев термопар, а анализ проводят путем сравнения температур холодного спая и температур измеряемой среды до и после нагрева, причем исправность цепей измерения температуры выявляют по величине приращения температуры холодного спая ΔТХС и стабильности температуры измеряемой среды. Технический результат - упрощение схемы диагностирования и обеспечение непрерывного контроля температуры во время проведения диагностирования. 1 ил.

 

Предлагаемое изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах автоматического измерения, управления и аварийной защиты, в состав которых входят измерители температуры на основе термопар (ТП).

Известные способы диагностирования цепей измерения температур с помощью ТП основаны на отслеживании изменения результатов последовательности измерений температуры тестируемой ТП, измерении сопротивления ТП, закорачивании цепей ТП. Ни один из указанных методов не обеспечивает быстрый, простой, надежный контроль всего тракта измерения температуры.

Так, анализ последовательности измерений температуры не пригоден в применениях к объектам контроля, для которых характерны высокие градиенты изменения температуры, и имеет длительное время готовности к работе.

Известны способы диагностирования цепей измерения температур а.с. 669224 G01K 15/00, 960763 G05D 23/22, 2598703 G01R 31/02, основанные на измерении сопротивления рабочего спая ТП и термокомпенсационных проводов. Общими недостатками этих способов являются достаточная сложность дополнительной аппаратуры контроля, невозможность диагностирования всей совокупности преобразовательных элементов тракта измерения температуры и перерывы в измерении температуры на время проведения диагностирования.

Известен способ диагностирования цепей измерения температуры а.с. 2196307 МПК G01K 15/00, G01R 31/28, основанный на замыкании цепей ТП, проверяющие с высокой точностью исправность всей совокупности преобразовательных элементов тракта измерения температуры. Однако для проведения проверки требуется дополнительная аппаратура, включающая многоканальный коммутатор, прецизионный источник напряжения, прецизионный резистор. Кроме этого, во время проведения диагностирования не производятся измерения температуры.

Наиболее близким, принятым за прототип, является способ диагностирования цепей измерения температуры, основанный на подогреве горячего сплава ТП с последующим измерением термоЭДС и реализованный в устройстве а.с. 302622 МПК G01K 7/02. Известный способ не обеспечивает диагностирование исправности схемы компенсации температуры холодного спая и имеет недостаточную точность измерения температуры во время проведения диагностирования.

Целью заявляемого способа является обеспечение возможности диагностирования цепей измерения температуры и упрощение схемы диагностирования.

Поставленная цель достигается тем, что в способе диагностирования цепей измерения температур, включающем нагрев термопар с последующим измерением температур и анализом результатов измерения температур, согласно изобретению проводят нагрев холодных спаев термопар, а анализ проводят путем сравнения температур холодного спая и температур измеряемой среды до и после нагрева, причем исправность цепей измерения температуры выявляют по величине приращения температуры холодного спая ΔТХС и стабильности температуры измеряемой среды.

Нагрев ХС увеличивает температуру ХС на величину ΔТХС и на такую же величину уменьшает разность температур между горячим и холодным спаями ТП, что вызывает снижение термоЭДС термопары. При исправности вычисленная по термоЭДС разность температур термопары ТТП снижается также на величину ΔТХС, а температура измеряемой среды, как сумма ТХС (температуры ХС) и ТТП, не изменяется.

Таким образом, предлагаемый способ обеспечивает возможность диагностирования цепей измерения температуры, упрощает схему элементов диагностики.

На фиг. 1 представлен вариант устройства измерителя температуры на основе ТП, позволяющего реализовать предлагаемый способ диагностирования цепей измерения температуры. Устройство содержит ТП, состоящую из горячего спая (ГС) 1 и ХС 2, усилитель термоЭДС (УТ) 3, термосопротивление (ТС) 4, преобразователь сопротивления в напряжение (ПСН) 5, аналого-цифровой преобразователь (АЦП) 6, центральный процессор (ЦП)7, термо-электронагревательный элемент (ТЭН) 8 и силовой ключ (СК) 9.

Устройство функционирует в двух режимах: обычном режиме измерения температуры и режиме самодиагностики. В обоих режимах ТП генерирует термоЭДС, зависящую от разности температур ГС 1 и ХС 2, величина термоЭДС усиливается УТ 3, преобразуется в код КТП с помощью АЦП бив цифровом виде поступает в ЦП 7. Температура ХС 2 определяет величину сопротивления ТС 4, которое преобразуется в напряжение посредством ПСН 5, оцифровывается с помощью АЦП 6 в код КХс и в цифровом виде поступает в ЦП 7, который вычисляет измеряемую температуру объекта и передает ее потребителю.

Отличия между режимами состоят в том, что при обычном измерении температуры СК 9 разомкнут, ТЭН 8 не выделяет тепло и не нагревает ХС 2, а в режиме самодиагностики по команде ЦП 7 замыкается СК 9, ТЭН 8 начинает выделять тепло и нагревать одновременно и ХС 2 и ТС 4 до одинаковой температуры. Нагрев ТС 4 увеличивает код КХС, а нагрев ХС 2 уменьшает термоЭДС термопары и соответственно код КТП, однако при исправно функционирующей аппаратуре измерителя результирующая температура объекта не будет изменяться. Неисправность любого из элементов цепей измерения температуры приведет к отклонению приращения температуры холодного спая от типового значения или к изменению вычисленной температуры объекта. Результат самодиагностики центральный процессор передает потребителю.

Таким образом, представленное техническое решение обеспечивает возможность диагностирования цепей измерения температур, упрощает схему диагностирования и обеспечивает непрерывный контроль температуры во время проведения диагностирования.

Способ диагностирования цепей измерения температур, включающий нагрев термопар с последующим измерением температур и анализом результатов измерения температур, отличающийся тем, что проводят нагрев холодных спаев термопар, а анализ проводят путем сравнения температур холодного спая и температур измеряемой среды до и после нагрева, причем исправность цепей измерения температуры выявляют по величине приращения температуры холодного спая ΔТХС и стабильности температуры измеряемой среды.



 

Похожие патенты:

Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.

Изобретение относится к технике измерения тепловых параметров кристаллов бескорпусных полупроводниковых изделий в составе электронных модулей и может быть использовано для контроля качества сборки электронных модулей как на этапах разработки и производства электронных модулей, так и на входном контроле предприятий-потребителей электронных модулей при оценке их температурных запасов.

Изобретение относится к тестированию функциональных блоков встроенной системы. Технический результат – повышение точности тестирования.

Изобретение относится к тестированию функциональных блоков встроенной системы. Технический результат – повышение точности тестирования.

Изобретение относится к контролю и испытанию электронных схем, в частности, к тестовым системам для контроля электронных соединений электронных узлов с контролируемой печатной платой.

Тестовая система для контроля электронных соединений, в частности паяных соединений, между электронными узлами контролируемой печатной платы с этой печатной платой, причем тестовая система содержит устройство для измерения температуры и/или для определения параметров тепла электрических соединений печатной платы и/или электронных узлов.

Изобретение относится к радиотехнике, радиолокации и вычислительной технике и может быть использовано в стендовой аппаратуре для настройки, контроля и диагностики аналого-цифрового преобразователя (АЦП) радиолокатора, а также при предъявлении блока АЦП ОТК и представителям заказчика.

Группа изобретений относится к измерительной и испытательной технике, в частности, к тестовым системам электронных компонентов на печатных платах. Тестовая система (1) для контроля электрических соединений между электронными элементами с контролируемой печатной платой (6) содержит коммуникационный интерфейс (5), по меньшей мере, с тремя электропроводящими контактными щупами (22, 32), которые за счет контактирования с контактирующим устройством (12) на печатной плате (6) с несколькими участками (11) контактирования обеспечивают обмен данными по коммуникационному протоколу с памятью (10) данных и/или коммуникационным модулем (9) контролируемой печатной платы (6).

Изобретение относится к области электронной техники и предназначено для разбраковки полупроводниковых приборов и интегральных схем по радиационной стойкости. Сущность: определяют для тестовых полупроводниковых структур и/или изделий электронной техники совокупность информативных параметров и измеряют значения этих параметров.

Изобретение относится к области производства и диагностики высокоинтегрированных электронных модулей в авиационной и космической промышленности. Сущность: устройство содержит персональный компьютер с программным обеспечением, подключенный через JTAG контроллер к JTAG интерфейсу тестируемого электронного модуля и бесконтактный датчик тока в виде преобразователя магнитного поля в электрический сигнал, подключенный ко входам неинвертирующего и инвертирующего усилителей.

Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.
Наверх