Способ изготовления поверхностно-барьерных детекторов на кремнии n-типа проводимости

Изобретение относится к области технологии изготовления диодов Шоттки, включающей также детекторы ядерного излучения, в частности поверхностно-барьерные детекторы. Техническим результатом изобретения является уменьшение величины обратных токов, улучшение вида вольт-амперных характеристик, устранение избыточных шумов, что повышает выход годных детекторов. Способ изготовления поверхностно-барьерных детекторов на кремнии n-типа проводимости включает химическое травление кремниевой пластины, прогрев на воздухе после травления, защиту края перехода диэлектрическим покрытием, термическое напыление выпрямляющего контакта. В состав диэлектрического покрытия добавляют органическое соединение нуклеофильного типа, содержащее азот. 3 з.п. ф-лы, 4 ил., 1 табл.

 

Область техники

Изобретение относится к области технологии изготовления полупроводниковых диодных структур с барьером Шоттки, включающую полупроводниковые детекторы ядерного излучения, в частности, поверхностно-барьерные детекторы (ПБД) на основе выпрямляющего контакта металл-полупроводник, например, Au-n-Si.

Уровень техники

Согласно [С.И. Лашаев. Кремниевые ПБД большой площади и сложной конфигурации. // Диссертация на соискание канд. техн. наук. Радиевый институт им. В.Г. Хлопина, 1986 г., Ленинград] герметизация края перехода использовалась первоначально для стабилизации характеристик перехода в условиях воздействия внешней среды, а также для удобства монтажа кремниевых пластин в корпус с обеспечением надежного электрического контакта с напыленным на поверхность полупроводника тонким металлическим слоем. Однако дальнейшие исследования, проведенные в этой работе, показали, что, именно, электрофизическое состояние края перехода в ПБ структурах практически целиком определяет его электрические и шумовые характеристики. Этот вывод инициировал поиск оптимальных герметиков для защиты края перехода с целью не только стабилизации параметров диода, но и улучшения их обратных вольт-амперных характеристик (ВАХО и уменьшения шумов, что позволяет получать детекторы с более высоким энергетическим разрешением.

Проблема края перехода на кремнии в настоящее время решена в планарной технологии в диодных структурах с имплантированным переходом, с применением пассивации поверхности термическим окислом и создание структуры охранных колец по периметру выпрямляющего контакта.

Однако данная технология требует высокотемпературных обработок полупроводниковых подложек, что не всегда приемлемо в технологии детекторов, например, для материалов, в которых для улучшения их параметров используется дрейфо-литиевая технология. В случае детекторов сложной конфигурации (например, канальный детектор цилиндрической формы с чувствительной поверхностью внутри канала) невозможно применение планарной технологии, либо она крайне затруднена. Кроме того применение имплантации для создания выпрямляющего контакта может приводить к снижению радиационной стойкости структур, что является критически важным параметром для детекторов ядерных излучений.

Таким образом, поверхностно-барьерная технология с герметизацией края перехода компаундами или лаками остается актуальной и в настоящее время.

Известно защитное покрытие на основе спиртового раствора канифоли для кремниевых ПБД, которое наносится на всю поверхность кремния после напыления выпрямляющего контакта из золота [Й. Крацикова, Ли Чен Сон, Лим Хен Тхек, Б.П. Осипенко, Л.А. Пермякова. Защитное покрытие для кремниевых поверхностно-барьерных детекторов ядерного излучения. // Препринт ОИЯИ, 13-6016, 1971 г.]. Данное покрытие стабилизирует и улучшает ВАХ детекторов при их длительном хранении в комнатных условиях. Недостатками данного покрытия является возможность его применения только после напыления электродов, ввиду низкой температуры плавления (размягчается уже при 60-70°С), что мешает созданию надежного контакта с поверхности пластины через слой канифоли на корпус оправки. Используемый в работе вариант технологии не позволяет существенно снизить токи утечки. Кроме того, канифоль является природным материалом, в котором затруднен контроль загрязнений, в связи с чем ухудшается воспроизводимость результатов. Счетчики с покрытием из канифоли невозможно подвергать даже низкотемпературным отжигам в случае радиационных повреждений. Использование спиртового раствора канифоли затрудняет получение однородного по толщине слоя, увеличивает толщину входного окна, что ухудшает энергетическое разрешение и приводит к большой интенсивности «хвостов» в спектрах при регистрации альфа-частиц и, тем более, в спектрах осколков деления.

Известен способ изготовления кремниевых ПБД [С.И. Лашаев. Кремниевые ПБД большой площади и сложной конфигурации. // Диссертация на соискание канд. техн. наук. Радиевый институт им. В.Г. Хлопина, 1986 г., Ленинград], в котором в качестве защиты края перехода использовался кремнийорганический компаунд типа КЭН-2, широко используемый в микроэлектронике для герметизации полупроводниковых структур от воздействия внешней среды. Однако применение данного компаунда практически не влияло на электрические параметры (В АХ и шумы) ПБ структур для варианта защиты края перехода после напыления выпрямляющего контакта и не убирало избыточные шумы для отдельных образцов в случае защиты края перехода перед напылением выпрямляющего контакта.

Известен способ изготовления диодов с барьером Шоттки [RU 2550374 С1, МПК H01L 29/872, 21/329, опубликовано 10.05.2015], в котором диод Шоттки на эпитаксиальном слое формировался на основе меза-структуры со специально подобранной геометрией и защитой периферийной области диода оксидом кремния. Дополнительно использовалось диэлектрическое покрытие из алюмосиликатного стекла, толщина которого превышала высоту меза-структуры. Данный способ улучшал электрические характеристики перехода и уменьшал температурную зависимость обратных токов. Однако, недостатком данного способа, с точки зрения его применения для изготовления детекторов ядерного излучения, является неприемлемо высокий уровень токов утечки (до 10 мкА).

Наиболее близким к предлагаемому изобретению и выбранным в качестве способа-прототипа является способ герметизации края ПБ перехода на кремнии с помощью безаминовой эпоксидной смолы, в которую для улучшения электрических характеристик перехода добавлялся йод. [Дж. Дирнли, Д. Нортроп. Полупроводниковые счетчики ядерного излучения. // из-во «Мир», Москва, 1966 г., с. 173]. Рабочее напряжения таких детекторов достигало 1 кВ, что актуально для Si(Li) счетчиков. Недостатком данного способа являются высокие для сегодняшнего дня обратные токи (более 1 мкА/см2 при 100В). Ход В АХ имел вид зависимости от смещения пропорциональный V1/2, что обусловлено отсутствием оптимальных электрофизических характеристик поверхности кремния на краю перехода. Кроме того, для короткопробежных заряженных частиц нет необходимости использования толстых кремниевых пластин. Вполне достаточна толщина стандартная для микроэлектронной промышленности-менее 300 мкм. В этом случае применение эпоксидной смолы для герметизации края перехода может приводить к потере работоспособности детекторов при низкой температуре ввиду различия коэффициентов температурного расширения кремния и герметика.

Задача изобретения и технический результат.

В основу изобретения положена задача разработки способа изготовления ПБ структуры, включая кремниевые ПБД, который за счет финишной химической обработки пластины (после химического травления под барьер) и изменения химического состава герметизирующего покрытия края перехода обеспечивает улучшение хода ВАХ, выраженное в уменьшении зависимости тока от обратного смещения, вплоть до снижения тока с увеличением напряжения (в случае структур площадью до 5-ти см кв., в которых вклад краевого тока преобладает над объемным) при обеспечении пониженного тока утечки при рабочем напряжении по сравнению с известными технологиями изготовления ПБД. Кроме того, в результате применения изобретения достигается устранение избыточных шумов ПБД и увеличения выхода годных детекторов в обоих вариантах защиты края перехода: до напыления выпрямляющего контакта, либо после.

Сущность изобретения.

Указанный технический результат достигается способом изготовления поверхностно-барьерных детекторов на кремнии n-типа проводимости, который включает химическое травление кремниевой пластины, прогрев на воздухе после травления, защиту края перехода диэлектрическим покрытием, термическое напыления выпрямляющего контакта, при этом в предлагаемом способе в состав диэлектрического покрытия добавляют органическое соединение нуклеофильного типа, содержащее азот.

В частных случаях реализации способа в качестве диэлектрического покрытия используют кремнийорганический компаунд типа КЭН-2, а качестве органического нуклеофильного соединения используют пиридин, взятые в объемном соотношении 20-25:1.

В частных случаях реализации способа перед зашитой края перехода кремниевая пластина подвергается выдержке в парах пиридина при комнатной температуре в течение 10-15 минут.

Способ изготовления кремниевых ПБД включает следующие технологические стадии:

- стандартная химическая полировка в смеси концентрированных азотной и плавиковой кислоты в объемном соотношении 3:1,

- прогрев обработанной пластины на воздухе в термостате при температуре 325-350°С в течение 6-8 часов,

- по первому варианту: предварительная выдержка образца в течение 10-15 минут в парах пиридина (в чашке Петри при комнатной температуре при испарении пиридина с поверхности площадью 1,5-2 см2), защита края перехода кремнийорганическим компаундом типа КЭН-2 с добавлением в него пиридина в объемном соотношении 20-25:1 (КЭН-2 и пиридин, соответственно), с последующим термическим напылением золотого выпрямляющего контакта с палладиевым подслоем.

- по второму варианту - напыление выпрямляющего контакта с последующей аналогичной обработкой в парах пиридина и защитой края перехода компаундом того же состава.

Следует отметить, что в качестве органического соединения нуклеофильного типа, содержащего азот, может быть использован пиридин и другие нуклеофильные соединения с содержанием азота, например, триэтиламин.

На фиг. 1 приведены типичные ВАХ детекторов различной площади с защитой края перехода, выполненной перед напылением выпрямляющего контакта, с использованием пиридина (П) и без пиридина. Верхняя кривая-защита без пиридина (образец №3-14-18, 3см2), средняя кривая- защита без пиридина (образец №20-6-18, 20 см2), нижняя кривая- защита с пиридином (образец №20-4-18, 20 см2). На фиг. 2 приведен пример ВАХ, на которой на начальном участке наблюдается понижение обратных токов с увеличением обратного смещения с дальнейшем выходом на плато в диапазоне рабочих напряжений.

Из сравнения этих характеристик следует, что использование предлагаемого способа приводит к более пологим ВАХ и уменьшением токов утечки при рабочем напряжении. Для детекторов площадью до 5 см2 (в этом диапазоне площадей вклад объемно-генерационного тока в ток утечки диода меньше вклада тока, обусловленного краевым эффектом) может наблюдаться уменьшение обратного тока с увеличением обратного смещения (фиг. 2).

В табл. 1 для иллюстрации положительного действия паров пиридина на аномальные шумовые характеристики ПБД, в которых защита края перехода проводилась до напыления выпрямляющего контакта и без пиридина в составе герметизирующего покрытия, приведены величины обратных токов и шумов до обработки образцов парами пиридина и после выдержки детекторов на воздухе с наличием в нем паров пиридина. Следует отметить, что все эти образцы имели приемлемые токи утечки, но при этом показывали аномальную величину шумов, вплоть до пробоя.

После выдержки этих образцов с аномальными шумами в парах пиридина, обычно в течение нескольких минут, причем время выдержки контролировалось до момента минимизации токовых шумов (по ширине шумовой дорожки осциллографа, подключенного на выходе стандартного спектрометрического тракта, используемого для работы с кремниевыми ПБД, в котором альфа частица с энергией 5,5 МэВ генерировала на выходе тракта сигнал амплитудой около 8В), происходило устранение избыточных шумов и восстановление работоспособности детекторов. Данный эффект носит относительно кратковременный характер (не более месяца при хранении образцов в комнатных условиях в темноте), но он подтверждает положительное воздействие паров пиридина на избыточные шумы детекторов, выполненные по первому варианту. Поэтому для достижения долговременного эффекта положительного воздействия пиридина на токовые и шумовые характеристики детекторов и, соответственно, на основную спектрометрическую характеристику-энергетическое разрешение, предлагается включить пиридин в состав герметизирующего покрытия края перехода.

Наиболее показателен результат воздействия пиридина на характеристики ПБД (токовые и шумовые), в которых защита края перехода проводилась после напыления выпрямляющего контакта, так как в этом случае нам известны параметры ПБД до защиты края перехода, которые можно сравнить с полученными характеристиками уже после защиты края перехода как с пиридином по предлагаемому способу, так и без него. В последнем случае характеристики детекторов практически не изменяются и защита выполняет только роль герметизации детекторов от воздействия внешней среды.

На фиг. 3 приведены ВАХ детектора площадью 12 см2 (образец №12-02-18) до защиты и после зашиты края перехода компаундом КЭН-2 с добавлением пиридина по предлагаемому способу. На фиг. 4 показан аналогичный результат положительного действия пиридина, при его добавлении в состав компаунда для защиты края перехода, на токовые характеристики детектора площадью 2 см2. Влияние пиридина особенно показательно для детекторов с аномальными ВАХ (фиг. 3) наблюдаемых после напыления выпрямляющего контакта.

Улучшенные характеристики детекторов (токовые и шумовые) остаются стабильными в течение более 1,5 лет, при хранении в комнатных условиях (в темноте) и при периодической работе в форвакууме.

В качестве исходного материала использовался кремний n-типа проводимости, бездислокационный, с уд. сопротивлением 0,5-2 кОм.см и временем жизни неосновных носителей не менее 200 мкс.

Следует отметить, что кроме пиридина могут быть использованы и другие нуклеофильные соединения с содержанием азота, например, триэтиламин.

1. Способ изготовления поверхностно-барьерных детекторов на кремнии n-типа проводимости, включающий химическое травление кремниевой пластины, прогрев на воздухе после травления, защиту края перехода диэлектрическим покрытием, термическое напыление выпрямляющего контакта, отличающийся тем, что в состав диэлектрического покрытия добавляют органическое соединение нуклеофильного типа, содержащее азот.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что в качестве диэлектрического покрытия используют кремнийорганический компаунд типа КЭН-2, а в качестве органического нуклеофильного соединения используют пиридин, взятые в объемном соотношении 20-25:1.

3. Способ по п. 1 или 2, отличающийся тем, что перед защитой края перехода кремниевая пластина подвергается выдержке в парах пиридина при комнатной температуре в течение 10-15 минут.

4. Способ по п. 1, отличающийся тем, что защиту края перехода осуществляют до или после напыления выпрямляющего контакта.



 

Похожие патенты:

Высокочастотный силовой диод содержит полупроводниковую подложку, имеющую первую главную сторону (101) и вторую главную сторону (102), первый слой (103) первого типа проводимости, сформированный на первой главной стороне (101), второй слой (105) второго типа проводимости, сформированный на второй главной стороне (102) подложки, и третий слой (104) второго типа проводимости, сформированный между первым слоем (103) и вторым слоем (105).

Изобретение относится к области вакуумных туннельных диодов (ВТД). Одним из основных применений изобретения является создание высокоэффективных преобразователей тепловой энергии в электроэнергию или электрической энергии в холод или тепло.

Изобретение относится к области конструирования и производства мощных кремниевых ограничителей напряжения (защитных диодов), преимущественно с напряжениями пробоя от 3 В до 15 В, предназначенных для защиты электронных компонентов - интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в радиоэлектронной аппаратуре (РЭА) от воздействия мощных импульсных электрических перенапряжений различного рода.

Изобретение относится к полупроводниковой электронике. Способ изготовления диода с вискером "Меза-подложка" терагерцового диапазона включает нанесение на поверхность гетероэпитаксиальной структуры диэлектрической пленки, в которой по маске фоторезиста травлением до высоколегированного катодного слоя создается окно катодного контакта U-, или О-образной формы, формирование в нем металлизации низкоомного омического катодного контакта с последующим удалением резиста, отжигом и гальваническим утолщением, формирование с использованием тонких резистивных масок на поверхности активных слоев окна анодного контакта микронного или субмикронного диаметра между U-выступами катода, или в центре О-образного катода, удаление в окне анодного контакта слоя диэлектрика, проведение финишных обработок, формирование металлизации анодного контакта, удаление резиста, формирование резистивной маски или маски диэлектрика для травления мезы вокруг площадки с расположенными на ней анодом и катодом, травление мезы как минимум до полуизолирующего слоя подложки, формирование анодной и катодной контактных площадок на полуизолирующем слое у основания мезы, соединение анода со своей контактной площадкой металлическим воздушным мостом, место соединения которого с анодом представляет собой расширенный контакт, выступы поля которого опираются на слой диэлектрика, соединение катода со своей контактной площадкой осуществляется либо металлическим воздушным мостом, либо металлической шиной, лежащей на боковой поверхности мезы или на слое диэлектрика, утонение подложки и разделение на отдельные кристаллы.

Изобретение относится к быстродействующим диодам. Диод содержит полупроводниковый слой, имеющий первую сторону и противоположную первой стороне вторую сторону, полупроводниковый слой имеет толщину между первой стороной и второй стороной, при этом толщина полупроводникового слоя сравнима со средней длиной свободного пробега носителей заряда, эмитированного в полупроводниковый слой.

Изобретение относится к области микроэлектроники, в частности к представляющему собой меза-структуру с барьером Шоттки полупроводниковому кремниевому диоду, который может быть использован в качестве выпрямительного диода или сверхвысокочастотного детектора, и способу его изготовления.

Изобретение позволяет значительно упростить способ изготовления полупроводниковых приборов для управления СВЧ мощностью, в частности ограничительного элемента на основе p-i-n диодов.

Изобретение относится к твердотельной электронике, в частности к технологии изготовления высоковольтных карбидокремниевых полупроводниковых приборов на основе p-n-перехода с использованием ионной имплантации.

Изобретение относится к области полупроводниковой промышленности, в частности к диодам Шоттки, и может быть использовано при создании микросхем радиочастотной идентификации в диапазоне частот сканирующего электромагнитного поля СВЧ-диапазона.

Изобретение относится к изготовлению полупроводниковых диодов с барьером Шоттки на основе синтетического алмаза, широко применяющихся в сильнотоковой высоковольтной и твердотельной высокочастотной электронике.

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления полевого транзистора с пониженными значениями токов утечек.
Наверх