Способ оценки качества поверхности

 

j ч

ОПИСАНИЕ

ИЗОЬЕЕтЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

30I5I8

Союз Сооетокнк

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 10.Х1.1969 (№ 1375319/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 21.1Ч.1971. Бюллетень № 14

Дата опубликования описания 11.VI.1971

МПК 6 01Ъ 7/34

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров сеср

УДК 531.717.2(088.8) Авторы изобретения

Г. Б. Кайнер и Н. Н. Марков

Заявитель

СПОСОБ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ

Изобретение относится к области методов и средств линейных измерений в машиностроении.

Известен способ оценки качества поверхности с использованием прибора с контактным датчиком, при котором датчик перемещают наконечником по исследуемой поверхности на заданную базовую длину с заданной скоростью.

Целью изобретения является повышение полноты контроля. Это достигается тем, что в качестве датчика используют термочувствительный элемент.

Оценку качества поверхности по предлагае. мому способу производят следующим образом.

По поверхности проверяемой детали на базовой длине перемещают наконечник датчика, например низкоомного термистра типа КМТ, При этом определяют изменение температуры контакта измерительного наконечника датчика с деталью, По изменению температуры определяют коэффициент трения и соответственно характер контактировапия поверхностей в зависимости от параметров шероховатости поверхности детали. Так как при этом EblHBляется эксплуатационный показатель качества поверхности, то нет необходимости учитывать спектральный состав поверхностных неровпо10 стей.

Предмет изобретения

Способ оценки качества поверхности с использованием прибора с контактным датчи15 ком, при котором датчик перемещают наконечником по исследуемой поверхности на заданную базовую длину с заданной скоростью, отличающийся тем, что, с целью повышения полноты контроля, в качестве датчика исполь20 зуют термочувствительный элемент.

Способ оценки качества поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам обнаружения движения активного устройства относительно поверхности для управления работой этого устройства при обработке поверхности

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при активном контроле шероховатости поверхности детали в процессе ее обработки преимущественно на станках токарной группы

Изобретение относится к области материаловедения, точнее к исследованию поверхностной структуры кристаллов и пленок в мезоскопическом диапазоне размеров методом атомно-силовой микроскопии и прецизионному инструментарию для научных и производственно-технологических исследований

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а именно к способам измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с применением сканирующего зонда (атомно-силового микроскопа, магнитосилового микроскопа)

Изобретение относится к транспортной измерительной технике и предназначено для использования при измерении ускорения автомобиля в системе электронного управления двигателем
Наверх