Способ спектрального исследовапия структуры электронных пучков
О П
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 18.VII I.1969 (№ 1356496/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 11 VI.1971. Бюллетень № 19
Дата опубликования описания 21Х11.1971
МПК G 011 5/00
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете министров
СССР
УДК 621.384.6(088.8) Авторы изобретения Б. М, Заморозков, А. А. Муравьев, О. M. Радюк и Ю. В. Ставский
Заявитель
СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ
ЭЛЕКТРОННЫХ ПУЧКОВ
Изобретение относится к способам экспериментального исследования электронных пучков.
Известны невозмущающие способы, основанные на исследовании информации, которая содержится в оптическом излучении пучка при его прохождении через разряженные газы (остаточные газы в разрядном промежутке).
Применение этих способов для исследования распределения плотности электронного тока или плотности электронов в поперечном сечении пучка основывается на предположении, что интенсивность интегрального оптического излучения в каком-либо месте пучка пропорциональна плотности электронного тока в этом месте. Однако это предположение справедливо только в том случае, когда при шной излучения является возбуждение пейтральпь1х атомов остаточных газов ударами электронов пучка с последующим высвечиванием при переходе атомов в невозбужденное состояние.
Однако столкновения электронов пучка с нейтральными атомами приводят не только к возбуждению, но и к ионизации, в результате которой в объеме пучка появляются положительные ионы и вторичные электроны.
Наличие в объеме пучка ионов является причиной того, что оптическое интегральное излучение пучка состоит из только из излучения возбуждения нейтральных атомов, но и из свечения возбуждения ионов. Поэтому распределение интенсивности интегрального излучения по сеченшо пучка зависит не только от распределения 1лотности тока первичны.; электронов пучка по его поперечному сеченшо, 5 но и от распределения ионов, что искажает пнформацшо о структуре первичного электронного пучка.
Чтобы устранить искажающее влияние излучения ионов, предлагается способ исследо10 вания структуры электронных пучкоь, основанный на регистрации не интегрального излучения электронного пучка, а излучения отдельной спектральной линии или полось1 спектра возбуждения нейтральных атомов илп
)5 молекул остаточных газов (например, водорода). Так как нейтралы распределены по сеченшо пучка равномерно, то распределение интенсивности такого монохроматического излучения по сечению пучка будет повторять
20 искомое распределение плотности тока первичных электронов пучка.
Методика нахождения радиального распределения электронов (плотности тока) в любом поперечном сечении пучка предлагаемым спектральным способом сводится к получению изображения соответствующего участка пучка в монохроматическом свете выбранной спектральной линии спектра возбуждения нейтронов остаточных газов, к последующему
30 определению р аспределения интенсивности свечения в выбранном сечении полученного
306432
Составитель И. Петров
Редактор T. 3. Орловская Тсхрсд Л. Я. Левина Корректор О. С. Зайцева
Заказ 2030/5 Изд. № 858 Тираж 473 Подписное
1П-1ИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4 5
Типография, пр. Сапунова, 2 изображения и в пересчете найденного распределения свечения на радиальное распределение плотности электронов в пучке по методу щелевой диафрагмы.
Предмет изобретения
Способ спектрального исследования структуры электронных пучков, основанный на излучепни собственного оптического излучешlя пучка, отличающийся тем, что, с целью уменьшения погрешности измерений, излучение распределения плотности электронов и плотности тока в поперечном сечении пучка осуществляют в монохроматическом свете излучения одной из линий спектра возбуждения нейтральных атомов остаточных газов.
