Магнитный индукционный дефектоскоп

Авторы патента:


 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ЗШ94

Сс;сз Соеетскик

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 12.Х11.1966 (№ 1117553/25-28) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет—

Опусликовано 09.V111.1971. Бюллетень ¹ 24

Дата опубликования описания 2Л1.1971

МПК 0 01п 27 86

11омитет па делам изобретений и аткрмтий при Сосете Министрсе

СССР

УДК 620.179.143.05 (088.8) Авторы изобретения

В. А. Сандовский и Н. M. Родигин

Институт физики металлов АН СССР

Заявитель

МАГНИТНЫЙ ИНДУКЦИОННЫЙ ДЕФЕКТОСКОП

Известны магнитные индукционные дефектоскопы,,содержащие корпус, несущий магнит .и датчик, передвигающийся вдоль конпролируемого изделия.

Предлагаемый дефектоскоп отличается от язвестных тем, что его магнезит укреплен на оси перпендикулярной к плоскости дьижения корпуса с возможностью поворота относительно нее, Это создает возможность регулировки чув ствительности и упрощения настройки дефектоскопа.

На фиг. 1 изображен описываемый дефектоскоп, в плане; а фиг. 2 — разрез по А — А на фиг. 1.

Дефектоскоп содержит корпус 1, несущий магнит 2 и датчик. Последний выполнен в виде феррнтового кольца 3 с тороидальной обмоткой 4. Магнит 2 укреплен на оси 5, перт пендикулярнои к плоскости движения корпуса с возможностью поворота относительно нее.

Работает дефектоскоп,следующим образом .

Контроль производится, например, в процессе в ращения иззтеряезтой детали с дефектоскопом, устанавливаемым на небольшом расстоянии от контролируемой поверкности. Намагничивание детали 6 и настройку дефектоскола на максимальную чувствительность про изводят поворотом магнита 2. При прохождении дефекта под датчиком в последнем наводится импульс электродвижущей силы, который фиксируется осциллографом, подключенн ы м к де ф екто скопу.

Предмет изобретения

Магнитный индукционный дефектоскоп, содержащий корпус, несущий магнит н датчик, передвигающийся вдоль контролируемого изделия, отличающийся тем, что, с целью регулировки чувствительности и упрощения настройки дефектоскопа, его магнит укреплен на оси, перпендикулярной K плоскости движенатя корпуса с возможностью поворота относительно нее. свих /

А — А

Фиг 3

Составитель Г. Корчагина

Тскрсд Л. В. Куклина Корректор E. Н, Миронова

1 сдакгор Юркова

Тип. Харви. фпл. пред. <гПатент»

Заказ 390/1377 Изд, М 1089 Тираж 473 Г1одпис! ое

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Я-35, Раушская иаб., д. 4/5

Магнитный индукционный дефектоскоп Магнитный индукционный дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам для внутритрубных обследований трубопроводов, рассчитанным на перемещение по обследуемому трубопроводу потоком транспортируемого по нему продукта, и может быть использовано для контроля технического состояния трубопроводов, предназначенных преимущественно для дальней транспортировки нефтепродуктов и природного газа

Изобретение относится к измерительной технике для неразрушающего контроля качества материалов и предназначено для локального измерения ферромагнитной фазы аустенитных сталей при литье, в заготовках и готовых изделиях, сварных швах, наплавках и др

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и преднааначено для магнитной дефектоскопии тонкостенных ферромагнитных

Изобретение относится к устройствам контроля трубопроводов, а именно - к устройству для измерения и неразрушающего контроля состояния материала трубопровода

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для выявления продольных трещин в заглубленных магистральных трубопроводах
Наверх