Способ определения логарифмического

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Соцмдлмстимеских

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

М. Кл. G Oln 29/00

Заявлено 04.1.1970 (№ 1391522/18-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 17.1Х.1973. Бюллетень № 37

Дата опубликования описания 31 1.1974

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изооретений

И OTKPbITNII

УДК 534.6.08(088.8) Автор изобретения (() 1 1т (";

А. А. Балодис

Институт механики полимеров АН Латвийской ССР

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЛОГАРИФМИЧЕСКОГО

ДЕКРЕМЕНТА

ЗАТУХАНИЯ КОЛЕБАТЕЛЬНОЙ СИСТЕМЫ ром измеряют отношения — и — частот доfo fo

Л Л полнительного генератора и образца.

Цел есообразно выбирать уровень резонансной кривой, на котором амплитуда колебаний образца уменьшается1 -- +1 раз по отношению к ее резонансному значению. Декремснт

6 при этом получают по формуле:

10 3 = — — —.

f fo

fl f2

При использовании частотомера с возможностью реверсивного счета значение декремента может быть получено непосредственно по

15 табло частотомера.

Способ определения логарифмического де20 кремента затухания колебательной системы путем подстройки ее частоты на резонансную и выбранные на определенном уровне резонансной кривой до и после резонансные значения, отличающийся тем, что, с целью по25 вышения точности и сокращения времени измерения, преимущественно при низких часто тav, измеряют отношения резонансной частоты к частотам до и после резонанса и III0 разности этих отношений судят об искомой вс30 личине.

Изобретение относится к области акустических измерений и может быть использовано при определении логарифмического декремента затухания колебательной системы, в част:ности образца материала. Возможно его применение и в радиоизмерительной технике.

Известные способы определения логарифмического декремента затухания колебательной системы путем подстройки сс частоты на резонансную и выбранные на определенном уровне резонансной кривой до и после резонансные значения нс позволяют пзмсрпп с достаточной точностью декрсмснт, а также сократить время его измерения при низких частотах.

Предлагаемый способ отличается тем, что, преимущественно при низких частотах, измеряют отношения резонансной частоты и частотам до и после резонанса и по разности этих отношений судят об искомой величине.

Способ осугцсствляют сл едуюгцпм образом. ,При измерении логарифмического дскремепта затухания образца материала образец возбуждают на его резонансной частоте fII. Частоту дополнительного генератора устанавливают равной fo. Далее образец возбуждают на частотах fI u f. до и после резонанса, при которых амплитуда колебательной скорости образца уменьшается определенное число раз, и, например, электронно-счстным частотомсПредмет изобретения