Способ контроля толщины последовательно наносимых на подложку слоев диэлектрикови металла

Авторы патента:


 

326535

Предмет изобретения

Составитель А. Шеломова

Техред Л. Куклина

Корректор Л. Царькова

Редактор Т. Орловская

Заказ 514/14 Изд. М 112 Тираж 448 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Способ контроля толщины последовательно наносимых на подложку слоев диэлектриков и металла с определением толщины диэлектрических слоев по измерению пропускания на длине волны Х1, соответствующей наибольшему отражению диэлектрического покрытия, отличаюи1ийся тем, что, с целью повышения точности, контроль пропускания при нанесении слоя металал ведут на длине волны Х2, соответствующей области высокого пропускания

S диэлектрического покрытия, и момент достижения заданной толщины слоя определяют по достижению минимального значения разности пропускания на длинах волн Х1 и Х2.

Способ контроля толщины последовательно наносимых на подложку слоев диэлектрикови металла Способ контроля толщины последовательно наносимых на подложку слоев диэлектрикови металла 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к интерференционным покрытиям и может быть использовано для создания зеркальных, светоделительных фильтрующих и других многослойных покрытий для оптических элементов широкого применения, в том числе для лазерной техники в области длин волн от 0,4 до 9,0 мкм

Изобретение относится к области изготовления оптических элементов, отражающих интерференционных фильтров и обработки поверхности стекла, а более конкретно к слоистым изделиям, включающим основу из стекла и многослойное покрытие из специфицированного материала, имеющее различный состав, из органического материала, оксидов, металлов и неметаллов, наносимых преимущественно осаждением из газовой среды

Изобретение относится к теплоизоляционному покрытию, применяемому в защите от теплового излучения жилых, офисных или промышленных зданий
Изобретение относится к способу изготовления диэлектрического многослойного зеркального покрытия

Изобретение относится к интерференционным покрытиям и, в частности, может быть использовано в оптическом приборостроении для широкополосного отражения света

Изобретение относится к области оптического приборостроения и предназначено для получения изображений поверхности Земли из космоса и с воздушных носителей различного класса

Изобретение относится к области оптического приборостроения и может быть использовано при построении приборов для спектральной фильтрации оптических изображений, например, перестраиваемых по длине волны оптических фильтров, тепловизоров, работающих в заданных узких спектральных диапазонах

Изобретение относится к интерференционным покрытиям и, в частности, может быть использовано в оптическом приборостроении для узкополосной фильтрации света
Наверх