Способ измерения толщины изоляционного покрытия провода

 

1, ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

336500

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 11 VII.1969 (№ 1348215/25-28) М. Кл. G OIb 7/OG с присоединением заявки №вЂ”

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Приоритет—

Опубликовано 21.1V.1972. Бюллетень ¹ 14

Дата опубликования описания 27Х11.1972

УДК 621.317:531.717.! 1 (088.8) Авторы изобретения

Л. П. Керницкий, П. A. Самосудов и К. М. Цайреф

Кишиневский научно-исследовательский институт электроприборостроения

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ИЗОЛЯЦИОННОГО

ПОКРЫТИЯ ПРОВОДА

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и. изделий;и может быть использовано при контроле изделий кабельной про мышленности.

Известен спосоо измерения толщины изоляц июнного покрытия провода, заключающийся в том, что посрвдством прибора измеряют ем кость между токопроводящей жилой и электрюдом, прилегающоом к наружной поверхности провода. Однако точность контроля по этом у спосооу,недостаточна из-за влияния микрснеровности поверхности изоляции провода.

Цель изобретения — повышение точности измерения. Для этого по предлагаемому способу контролируемый провод и электрод помещают в диэлектрик,,диэлектрическая проницаемость которого равна диэлектрической проницаемости изоляциоHHQI покрытия.

На чертеже представлена с.;ема, поясняющая предлагаемый способ.

Овна содержит электрод 1, прилегающий к изоляционному покрытию провода, и жилу 2 провода, включе|сные в прибор (на чертеже не показан) для измерения емкости, провод

5 и электрод помещены в диэлектрик 8 с диэлектрической проницаемостью, равной диэлектрической проницаемости изоляционного

II oKtp ы тия.

10 Предмет изобретения

Способ измерения толщины изоляционного покрытия провода, заключающийся в том, что посредством прибора измеряют емкость между токопроводящей жилой и электродом, прилегающим к наружной поверхности провода, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, контролируемый провод н электрод помещают в диэлектрик, диэлектрическая проницаемость которого равна дпэлектр ической проницаемости изоляционного покрытия.

336500

Составитель А. Духанин

Техред Е. Борисова

Корректор О. Тюрина

Редактор И, Бродская

Тип. Харьк. фил. пред. «Патент»

Заказ 222/1061 И зд. № 588 Тираж 448 Подписное

ЦН1ЛИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Способ измерения толщины изоляционного покрытия провода Способ измерения толщины изоляционного покрытия провода 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх