Устройство для измерения радиусов кривизны сопряженных сферических поверхностей

 

ОП ИКАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

338774

Союз Советских

Социалистический

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 26 Ч.1970 (№ 1444248/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 15.Ч.1972. Бюллетень № 16

Дата опу бликования описания 6.Ч1,1972

М. Кл. б 01Ь 5 22

Комитет по делаю ввобрвтеиий и открытий при Совете Иииистроа

СССР

УДК 531.717.7(088.8) Автор изобретения

3. А. Степоиавичюс

Заявитель Вильнюсский филиал экспериментального научно-исследовательского института металлорежущих станков

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ РАДИУСОВ КРИВИЗНЫ

СОПРЯЖЕННЫХ СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ

Изобретение относится к области технологии машиностроения, а именно, к средствам для измерения радиусов кривизны сопряженных поверхностей.

Известны устройства для измерения радиуса кривизны сферических поверхностей, содержащие основание, предметный стол, шпиндель образцового вращения, несущий кривошип с измерительной головкой, на которой установлен с .возможностью перемещения вдоль кривошипа измерительный щуп, гзаимодесйтвующий с контролируемой поверхностью, Однако известные устройства недостаточно точны при измерении сопрягаемых поверхностей, пос колыку охватывающую (вопнутую) и охватываемую (выпуклую) сферические поверхности необходимо измерять отдельно, сра ни вая с соответствующими эталонами.

В предлагаемом устройстве измерительная головка выполнена поворотной вокруг оси, параллельно оси шпинделя образцового вращения, и снабжена вторым измерительным щупом, удаленным от первого на величину, равную удвоенному расстоянию между осями шпинделя образцового вращения и измерительной головки. Это повышает точность измерения.

На чертеже изображено предлагаемое устройство.

Устройство содержит основание 1, несущее предметный стол 2, снабженный элементами для установочного перемещения вдоль трех координатных осей. В основании 1 закреплен шпиндель 8 образцового вращения, который несет кривошип 4, на котором на поворотной оси, параллельной оси образцового шпинделя, установлена измерительная,головка 5. Расстояние между осями шпи нделя и поворотной измерительной головки .равно А. Для поворо10 та и фиксации измерительной головки предусмотрена рукоятка б. Измерительная головка снабжена направляющими, параллельными кривошипу 4, по которым может перемещаться .и закрепляться измерительная каретка 7.

Измерительная каретка снабжена двумя измерительными,щупа ми 8 и 9, перемещения которых могут быть отсчитаны с помощью соответствующих измерителей, например и ндуктивных (Ha чертеже не показаны) . Расстоя20 ние между вершинами измерительных щупов

8 .и 9 (прп нулевых показаниях измерителей) равно 2А.

Устройство работает следующим образом.

Деталь с контролируемой сферической поверхностью устанавливают иа предметный стол 2, Перемещают предметный стол до совпадения центра сферической .поверхности с осью шпинделя 8 образцового вращения, а пзмерителыного щу па 9 — с экваториальной

30 плоскостью, перемещают измерительную ка3,38774

Соста внтель Й. Романова

Техред Л. Богданова

Корректор Л. Бадылама

Редактор С. Титова

Заказ 1763/4 Изд. № 656 Т ираж 448 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам нзобретеннй н открытий при Совете Министров СССР

Москва, 3(-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 ретку 7 по направляющим измерительной головки 5, настраивая устройство на контролируемый радиус кривмзны и закрепляют ее в найденном положении, затем поворачивают шпиндель 8 образцового вращения ча некоторый угол, обеспечивающий прохождение измерительного щу па 9 IIQ всем точкам экваториального сечения контролируемой сферической поверх ности, и регистрируют отклонения контролируемой сферы, например, записывая показания измерителя линейных перемещений, связанного с измерительным щупом 9. Далее снимают с предметного стола 2 лроконтролированную деталь и уста навливают туда сопряженную, поворачивают на 180 измермтельную головку 5 и фиксируют ее в этом положении, обеспечивая взаи модействие измерительного щупа 8 с установленной сопряжен ной деталью.

В случае необходимости регулируют положение предметного стола 2, добиваясь соблюдения тех же условий, что и при первом измерении. Затем поворачивают щпи|ндель 8 образцового вращения и регистрируют отклонения сопряжений поверхности с помощью измерителя линейных перемещений, связанного с измерительным щупом 8. Различие радиусов крив изны сопряженных сферических поверхностей оценивают по разности записей при первом и втором измерениях.

Предмет изобретения

Устройство для измерения радиусов кривизны сопряженных сферических поверхностей, 10 содержащее основание, предметный стол, шпиндель образцового вращения, несущий кривошип с измерительной головкой, на которой установлен с возможностью перемещения вдоль кривошипа измерительный:щуп, взаи15 модейсввующий с контролируемой,поверхностью, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, измерительная головка выполнена поворотной вокруг оси, па раллельной оси,ш пин деля образцового вращения, и снабжена вторым измерительным щупом, удаленным от первого на величину, рав ную удвоенному ра сстоянию между осями шпинделя образцового вращения и измерительной головки.

Устройство для измерения радиусов кривизны сопряженных сферических поверхностей Устройство для измерения радиусов кривизны сопряженных сферических поверхностей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технологии машиностроения и приборостроения, к технике метрологического обеспечения, а именно к средствам для измерения действительных размеров параметров наружных поверхностей и радиусов сферических изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения форм поверхностей, например поверхности вымени коров

Изобретение относится к измерительной технике и применяется для измерения действительных размеров параметров внутренних поверхностей и радиусов сферических изделий

Изобретение относится к области машиностроения, а именно к способам контроля шаров, и может быть использовано в подшипниковой промышленности для промежуточного и окончательного контроля шаров

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля шаров

Изобретение относится к средствам для измерения сферических изделий

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике
Наверх