Способ определения качества пористого оксидирования малоуглеродистого железа
О П И CA Н И Е
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕПДЬСТВУ
Союз Соеетскик
Социалистических
Респуалик
Зависимое от авт, свидетельства №
Заявлено 05.11.1971 (№ 1619279/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 31.Х.1972. Бюллетень К 33
Дата опубликования описания 2б.XII.1972
М. Кл. G 01п 13/00
G 01п 27/62
Комитет па делам изобретений и открытий при Совете Миииатрав
СССР
УДК 620.191(088.8) Авторы изобретения
И. T. Поляков, Б. М. Лапшин, В. И. Полюбин, А. M. Мельников, Г. Ю. Кустова и М. И. Трофименко
Ивановский химико-технологический институт
Заявитель
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПОРИСТОГО
ОКСИДИРОВАНИЯ МАЛОУГЛЕРОДИСТОГО ЖЕЛЕЗА
Изобретение относится к области контроля за качеством покрытий на поверхности металлических изделий, в частности за распределением пор окисла малоуглеродистого железа в производстве химических источников тока.
Известный способ определения распределения пор в пленке на поверхности металла путем фиксирования поля потенциалов перехода коронного разряда в искровой, происходящего в месте наличия поры, при сканировании изучаемой поверхности отрицательно заряженным индикатор ным электродом, связали с локальным разрушением пленки в области поры при возникновении искрового разряда.
Предлагаемый способ оставляет покрытие неповрежденным благодаря тому, что начальный потенциал индикаторного электрода в контролируемом участке поверхности поддерживают ниже потенциала зажигания коронного разряда. При последующем увеличении потенциала индикаторного электрода в области расположения поры происходит зажигание коронного разряда в ее местоположение можно зафиксировать, причем покрытие остается
5 неповрежденным.
Предмет изобретения
Способ определения качества пористого оксидирования малоуглеродистого железа в
10 производстве химических источников тока путем сканирования поверхности исследуемого образца электродом, находящимся под потенциалом в плоскости, параллельной образцу, и фиксирования поля зажигания электрического
15 разряда, соответствующего распределению пор, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности определения, начальный потенциал сканирующего электрода поддерживают ниже потенциала зажигания корон ного
20 разряда.