Планшет параметров к дефектоскопу

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

363909

Сома Советскик

Социалистические

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹â€”

М.Кл. С 01п 29/04

Заявлено 01.!Х.1970 (№ 1472346/25-28) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет—

Комитет по делам изобретений и открытий ари Совете Министров

СССР

УДК 620.179.16(088.8) Опубликовано 25.XI I.1972. Бюллетень ¹ 4 за 1973.

Дата опубликования описи шш 2.111.1%3

Авторы изобретения

В. С. Попо:

Заявитель

ПЛАНШЕТ ПАРАМГil ÎÂ К ) ЕФЕКТОСКОйУ

Изобретение относится к области неразрушающих средств и методов контроля и может быть использовано в ультразвуковой дефектоскопии изделий типа сплошных цилиндров н труб. 5

Известен планшет параметров к дефектоскопу для ультразвукового контроля изделий цилиндрической формы, содержащий основание и линейки.

Целью изобретения вяляется повышение 10 производительности и надежности контроля.

Для этого предлагаемый планшет выполнен в виде установленных на общей оси линейки со шкалами радиусов контролируемых заготовок и глубин прозвучивания, сектора угломе- 15 ра, двухпластинчатого основания, между пластинами которого подвижно закреплена линейка со шкалой расстояний от точки ввода до дефекта, на верхнем основании выполнены прорези, шкалы углов наклона призматических 20 искателей дефектоскопа и шкалы углов ввода ультразвуковых колебаний.

На чертеже показан описываемый планшет, две проекции.

Планшет содержит верхнее основание 1 25 с установочным пазом 2 и нанесенными шкалами 8 — 5 углов, соответствующими углами наклона искателя при контроле различных материалов, шкалой б углов, соответствующей углу ввода ультразвуковых колебаний в металл, зо

2 и шкалами 7 — 9 значений металлических эквивалентов пути ультразвука в теле искателя.

Основание снабжено отверстием 10, являющимся общим центром всех шкал планшета, кроме шкалы сектора угломера.

На линейке 11 с нанесенной шкалой 12, соответствующей шкале глубиномерного устройства дефектоскопа, вырезан установочный паз 13 для перемещения ее при определении металлического эквивалента пути ультразвука в теле искателя. Линейка 14 с установочным пазом 15 для перемещения фиксатора 1б при установке величины радиуса контролируемого изделия снабжена шкалами 17 (для отсчета глубины прозвучивания) и 18 (шкала радиусов контролируемых изделий).

Планшет содержит также сектор угломера 19 с нанесенной шкалой 20 углов для определения величины центрального угла между радиусом, проведенным в точку ввода ультразвуковых колебаний, и радиусом, проведенным через дефект, а также нанесенной риской 21 для установки величины радиуса контролируемого изделия, ограничитель 22 для установки линейки в исходное положение и координатную сетку 28, нанесенную на нижнее основание 24.

Планшет при определении металлического эквивалента пути ультразвука в теле искателя функционирует следующим образом.

363909

13

21 22 18

Составители А. Духанин

Техред Т. Миронова Корректоры Г. Запорожец и E. Сапунова

Редактор Т. Горячева

Зак. ¹ 202 Изд. зак. 1078 Тираж 404 Подписное

ЦНИИПИ Когпптста по дспагп изобретений и открытий прп Совете Министров СССР

Москва, )К-35, Раушская паб., д. 4/5

Загорская типография

Устанавливается нуль шкалы 12 по одной пз шкал 7, 8 или 9 (в зависимости от контролируемого мет11лла) на деление, соответствующее расстояпшо от пьезоэлемента до точки ввода искателя, и по показанию шкалы 12 в отверстие 10 судят о величине металлического эквивалента для данного искателя.

Планшет позволяет определять координаты обнаруженных дефектов, возможность контроля всего сечения металла на заданную глубину выбранным искателем, угол искателей, неооходимый для контроля на заданную глубину, угол ввода в зависимости от положения пьезопластины на искателе, зону автоматического контроля и металлический эквивалент пути ультразвука в теле искателя.

Предмет изобретения

Планшет параметров к дефектоскопу для ультразвукового контроля изделий цилиндрической формы, содерж11щ11й основание и ли пейки, от1ичаюшткя тем, что, с целью повышения производительности и надежности контроля, оп выполнен в виде установленных на общей оси линейки со шкалами радиусов контролируемых заготовок и глубин прозвучивания, сектора угломера, двухпластинчатого основания, между пластинами которого располо>кена линейка со шкалой расстояний от точки ьвода до дефекта, на верхнем основании выполнены прорези, шкалы углов наклона призматических искателей дефектоскопа и шкалы углов ввода ультразвуковых колебаи П1 1.

Планшет параметров к дефектоскопу Планшет параметров к дефектоскопу 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения скорости потока и расхода вещества ультразвуковым методом, а также в устройствах ультразвуковой дефектоскопии

Изобретение относится к области неразрушающих методов контроля цилиндрических изделий и может быть использовано в области конструирования оборудования для осуществления контроля опорных валков прокатных станов

Изобретение относится к области ультразвуковой дефектоскопии сварных соединений тонкостенных оболочек с заглушками тепловыделяющих элементов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля, а именно к ультразвуковой дефектоскопии, и предназначено для контроля сварных швов тепловыделяющих элементов ядерных реакторов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля, а именно к ультразвуковой дефектоскопии, и предназначено для контроля прилегания оболочки к сердечнику тепловыделяющих элементов втулочной формы

Изобретение относится к области неразрушающего контроля

Изобретение относится к машиностроению, а именно к изготовлению оснастки оборудования для неразрушающего контроля диффузионной сваркой, и может быть использовано для получения титановых образцов с искусственными дефектами, преимущественно плоскодонных отражателей для ультразвука с широким диапазоном диаметров плоского дна отверстия - имитатора дефекта

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для ручного и автоматизированного ультразвукового контроля
Наверх