Устройство для толщинометрии стенок пустотелых электропроводных изделий

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

37I4I2

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое o ." авт. свидетельства ¹

Кл. б 01Ь ji 06

Заявлено 02.II.1971 (№ 1615993/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 22 11,1973. Бюллетень № 12

Дата опубликования описания 12Л,1973

Комитет по делам изоеретений и открытий при Совете Мнниотрое

СССР

УДК 531.717.1(088.8) Лвтор изобретения

Б. П. фридман

Уфимский авиационный институт им. С. Орджоникидзе

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТОЛЩИНОМЕТРИИ СТЕНОК

ПУСТОТЕЛЫХ ЭЛЕКТРОПРОВОДНЫХ ИЗДЕЛИЙ

:Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для двухсторонней профильной электроконтактной толщинометрии стенок полых немагнитных изделий.

Известно устройство для толщинометрии стенок пустотелых электропроводных изделий, содержащее внешний магнитный щуп, внутренний щуп в виде стального посеребренного шарика, посеребренный медный тросик, связывающий оба щупа, и включенные в разрыв тросика измеритель электрического сопроти влен ия и стабилизированный источник питания.

Однако известное устройство не обеспечивает достаточную точность ориентации и автоматического фиксирования внутреннего щупа под действием магнитного поля внешнего щупа из-за отрицательного влияния на взаимную ориентацию щупов качества обработки или свойств внутренней поверхности контрол и|р уем ых изделий.

Предлагаемое устройство снабжено контактирующей с внутренней поверхностью диамагнитной цилиндрической кареткой со сквозным каналом, расположенным по ее оси, и латунным стержнем, соединенным с внутренним щупом и подпружиненным вдоль оси в канале каретки, а на контактирующей поверхности каретки установлены по окружности подшипники качения в виде металлических шариков, например, из латуни.

На чертеже показано предлагаемое устройство, Оно содержит внешний 1 и внутренняй 2 щупы. Щупы расположены в процессе контроля с двух сторон изделия 8 напротив друг друга и соединяются посеребренным медным тросиком 4, в разрыв которого включены мик1О ромиллиомметр 5 и источник б питания.

Внутренний щуп состоит из латунного стержня 7 со сферическим стальным посеребренным наконечником 8. Он установлен на каретке 9 в отверстии 10. Стержень снабжен упор15 но-ограничительным пояском 11 и спиральной втягивающей пружиной 12.

Каретка 9 выполнена цилиндрической формы и в своей нижней части снабжена расположенными по окружности сферическичи

20 сальниковыми гнездами 18, в которых размещены элементы качения — шарики 14 из латуни или бронзы.

Устройство работает следующим образом.

При измерении толщины стенок полых изде2ч лий часть тросика с внутренним щупом вводится в полость изделия. В нешний щуп устанавливают на наружной поверхности изделия.

Под действием магнитного поля, создаваемого внешним щупом, сферические части внешнего

30 и внутреннего щупов автоматически взаимно

714!2

Составитель И. Кесоян

Редактор Н. Воликова Корректор Л. Царькова

Заказ 1301/5 Изд. М 1212 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 475

Типография, пр. Сапунова, 2

3 ориентируются в рабочее положение, при котором контактные электроды устанавливаются на кратчайшей дистанции.

Одновременно с взаимной ориентацией происходит вытягивание стержня 7 из корпуса каретки до упора сферического окончания стержня во внутреннюю поверхность стенки контролируемой детали.

На микром|иллиомметр и связанные с ним участки измерительной цепи с источника питания подается эталонное напряжение.

О моменте ориентации судят по индикатору прибора, стрелка которого в этот момент получает наибольшее отклонение. Перемещая внешний щуп по поверхности детали вдоль линии контроля, фиксируют по показаниям прибора результаты измерений. Шкала прибора заранее отградуирована для материала исследуемой серии деталей в значениях контролируемого параметра — толщины стенки.

Предмет изобретения

Устройство для толщинометрии стенок пустотелых электропроводных изделий из парамагнитных и диамагнитных материалов с затрудненными доступом внутрь полости, содержащее два щупа, устанавливаемые при контроле с двух сторон стенки издел ия, один из которых — внешний щуп — выполнен в виде цилиндрического магнита со сферическим посеребренным стальным наконечником, а другой — внутренний щуп — в виде посеребренного стального шарика, медный посеребренный

l0 тросик, соединяющий оба щупа, источник питания и измерительный пр ибор, отличающееся тем, что, с целью повышения точноспи контроля, оно снабжено контактирующей с внутренней поверхностью диамагнитной ц|илиндриls ческой кареткой со сквозным каналом, расположенным по ее оси, и латунным стержнем, соединенным с внутренним щупом и подпружиненным вдоль оси в канале каретки, а на контактирующей поверхности каретки уста20 новлены по окружности подшипники качения в виде металлических шариков, например из латуни.

Устройство для толщинометрии стенок пустотелых электропроводных изделий Устройство для толщинометрии стенок пустотелых электропроводных изделий 

 

Похожие патенты:

Эюзная i // 364891

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх