Способ стабилизации выходных характеристик вакуумированных диодов
382172
ОП И
Союз Советских
Социалистических
Республик
ИЗОБРЕТЕ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕ
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 25.! 1.1971 (№ 1630419/26с присоединением заявки №вЂ”
Приоритет
Опубликовано 22.Ч.1973. Бюллетень ¹ 22
Дата опубликования описания 13.Ч111.1973
М. Кл. H Olj 45/00
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
УДК 621.362(088.8) Авторы изобретения
С. В. Рябиков, Д. И. Сергеев, И. В. Казин и Ю. Б. Копылов
Заявитель
СПОСОБ СТАБИЛИЗАЦИИ ВЫХОДНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК
ВАКУУМИРОВАННЫХ ДИОДОВ
Предмет изобретения
Изобретение относится к области термоэмиссионного преобразования энергии.
Для обеспечения стабильности выходных характеристик термоэмиссионного преобр азователя (ТЭП) и увеличения ресурса его рабо= ты необходима достаточная чистота поверхностей электродов после их обезгаживания.
В связи с тем, что в реальных ТЭП не представляется возможным повысить температуру анода до величины, при которой происходит распыление его материала, термическая очистка поверхности анода производится недостаточно эффективно. Поэтому стабилизация выходных характеристик ТЭП и увеличение его ресурса связаны со степенью очистки поверхности анода. ,Предлагается способ стабилизации выход,ных характеристик вакуумированного диода (ТЭП), заключающийся в совокупности операций при обезтажи вании, включающий термическую очистку поверхности катода, электронно-термическую очистку поверхности анода и контроль состояния поверхности анода (ее частоты) по изменению работы выхода катода после проведения эта па электроннотермической очистки анода. Последовательность операций такова: измеряют работу выхода термически очищен ной поверхности катода, проводят очередной этап электронно-термической очистки поверхности анода, после чего вновь измеряют работу выхода катода. Наблюдаемая разн|ица значений работы выхода катода позволяет судачить о наличии загрязнений на поверхности анода,.
Указанный цикл операций проводят до тех ггор; пока не совпадут величины работ выхода катода, измеренных до и после проведения очередного эта па электронно-термического обезгаживания анода. При этом разница зна 10 чений :работы выхода поверхности катода, очищенной и загрязненной, фиксируется легко, так как имеет место резкое изменение состояния поверхности катода.
Предлагаемая совокупность операций поз15 валяет четко определить окончание процесса очистки поверхностей электродов диода, а обработанный таким образом диод имеет стабильные выходHûå характеристики.
Способ стабилизации выходных характери. стик вакуумированных диодов, например, тер=
25 моэмиссионных преобразователей, путем контроли руехоой гмггогоэтапной очистки поверхностей электродов при обезгаживании, от.гичаюигийся тем, что, с целью увеличения ресурса работы диода, проводят термическую очистку
30 поверхности катода, измеряют ее термоэлек382172
Составитель В. Бобров
Текред Г. Дворина
Корректор E. Зимина
Редактор Б. Нанкина
Заказ 2198/8 Изд. № 1524 Тираж 780 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 тронную работу выхода, проводят этап электронно-термической очистии поверхности анода, вновь измеряют термоэлекгронную рабо|ту выхода поверхности катода, сравнивают значен ия полученных работ выхода и повторяют цикл до их совпадения.
