Патент ссср 418858

 

: .с .р гв4

4I8858

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистимесккх

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 25.IV.1972 (№ 1776979/26-9) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 05.Ill.1974. Ьюллетень № 9

Дата опубликования описания 26Х11.1974

М. 1;л. 6 06f 1li 00

Госудврственный комитет

Саввтв Министров СССР оо долам изобретений и открытий

УДК 621.396.6.002.7 (088.8) Авторы изобретения А. А. Лоскутов, Г. С. Шутов, 3. И. Голикова и В. Н. Бамбулевич

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭЛЕКТРОТЕРМОТРЕНИРОВКИ

ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

Изобретение относится к радиотехнике.

Известны устройства для электротермотренировки интегральных схем, содержащие кодирующий блок, программирующий блок, блок управления с тестами, блок сравнения, запоминающий блок, блок индикации, инвертор и переключатель.

Цель изобретения — повышение надежности устройства.

Предлагаемое устройство снабжено эквивалентами тренир уемых интегральных схем и эквивалентами нагрузок, причем входы эквивалентов тренируемых интегральных схем соединены с выводами входных тестов блока управления, выходы — со входами блока сравнения, базовые цепи эквивалентов нагрузок через переключатель соединены с выходами выходных тестов блока управления, а выходы эквивалентов нагрузок соединены со входом блока сравнения.

На чертеже изображена схема описываемого устройства.

Устройство содержит кодирующий блок 1, включающий счетчик и дешифратор, программирующий блок 2, блок управления 3 с тестами, инвертор 4, эквиваленты тренируемых интегральных схем 5, эквиваленты нагрузок 6, блок сравнения 7, запоминающий блок 8, блок индикации 9.

Работает устройство следующим образом.

С выхода программирующего блока 2, в котором имеются матрицы входных и соответствующих им выходных опорных сигналов, тестовая программа, обеспечивающая полноту проверки, через блок управления 3 подается на входы находящихся в термокамере тренируемых интегральных схем 10, выходы которых нагружены на управляемые эквиваленты нагрузок 6. В блоке сравнения 7 со10 стояние выходов тренируемых интегральных схем сравнивается с опорными сигналами, поступающими с матриц выходных опорных сигналов программирующего блока 2.

Если выходное состояние какой-либо трени1 руемой интегральной схемы не соответствует опорному, появляется сигнал ошибки, постпающий в запоминающий блок 8 и с него на блок индикации 9, указывающий адрес неисправной интегральной схемы.

При длительной электротермотренировке с отбраковкой неисправных интегральных схем первостепенную важность приобретает быстрая, полная и автономная самопроверка устройства без нарушения режима термотренировки. Для этой цели в схему устройства введены эквиваленты 5 тренируемых интегральных схем, представляющие собой находящиеся вне термокамеры эталонные микросхемы, аналогичные тренируемым. Эти микросхемы

30 работающие в облегченном электрическом ре-, 418858

30

45 жиме, выбирают в соответствии с типом трепируемых и проверяют одновременно с тренируемыми интегральными схемами и одними и теми же тестами. Это позволяет непосредственно при электротермотренировке проверять правильность функционирования кодирующего блока 1, программирующего блока 2 и блока управления 3, при правильной работе которых на табло постоянно высвечивается надпись «Исправно».

Тестовая программа составлена таким образом, чтобы выходы тренируемых элементов работали в режиме контактного,переключения.

Для охвата остальных звеньев устройства самопроверкой используются эквиваленты нагрузок б, обеспечивающие различные нагрузки для нулевого и единичного состояний выходов тренируемых интегральных схем. Эквиваленты нагрузок выполнены на резисторах

ЛЭ1 ..., ЯЭп, КК1 ... Rgn и работающих в ключевом режиме транзисторах Tl ..., Tn ..., которые сигналами с блока управления 3 переключаются синхронно с переключением выходов тренируемых интегральных схем 10. Втекающие в тренируемые интегральные схемы токи при нулевых состояниях выходов этих схем и при открытых ключах эквивалентов нагрузок 6 определяются сопротивлениями резисторов ЯК1 ... RKn и напряжением + Е, а токи, вытекающие из тренир уемых интегральных схем при закрытых ключах эквивалентов нагрузок, — сопротивлениями резисторов R31..., КЭп.

Самопроверка устройства происходит при положениях переключателя «Неисправно» и

«Исправно», когда от тренируемых интегральных схем 10 отключается питание +Е, вследствие чего сопротивление их выходов становится большим и неуправляемым. Если в положении переключателя «Работа» при нулевых состояниях тренируемых интегральных схем токи протекают от +Ек через резисторы

RA1, ..., ККп, открытые ключи на транзисторах

Tl,..., Tn и через открытые выходы микросхем на корпус, с которым соединены общие точки источников питания Е, и Е, создавая логические нули на входах блока сравнения 7, то в положении переключателя «Неисправно» токи текут через резисторы R91...., R3n, создавая логические единицы на входах блока сравнения 7. Когда транзисторы Т1..., Tn переходят в закрытое состояние, на входах блока сравнения появляются пулевые уровни напряжения, т. е. в положении переключателя

«Неисправно» сигналы на входах блока сравнения, число которых равно числу тренируемых интегральных схем, инвертируются на

180, благодаря чему на всех входах блока сравнения имитируется появление неисправности, и все лампочки светового табло зажигаются, что свидетельствует об отсутствии неисправности во всей схеме пульта.

В положении переключателя «Исправно» фаза сигнала, управляющего переключением ключей на транзисторах Т1...Tn, переворачивается в инверторе 4 на 180, чем имитируется исправная работа тренируемых интегральных схем. При отсутствии неисправности в устройстве лампочки светового табло, указывающие адрес неисправных схем, не зажигаются.

Таким образом, неисправность в схеме устройства обнаруживается при самопроверке по незажиганию лампочек светового табло в положении переключателя «Неисправно» и по зажиганию их в положении «Исправно».

Предмет изобретения

Устройство для электротермотренировки интегральных схем, содержащее кодирующий блок, программирующий блок, блок управления со входными и выходными тестами, блок сравнения, запоминающий блок, блок индикации, инвертор,и переключатель, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью повышения надежности, оно снабжено эквивалентами тренируемых интегральных схем и эквивалентами нагрузок, причем входы эквивалентдр тренируемых интегральных схем соединены с выходами входных тестов блока управления, выходы — со входами блока сравнения, базовые цепи эквивалентов нагрузок через переключатель соединены с выходами выходных тестов блока управления, а выходы эквивалентов нагрузок соединены со входом блока сравнения.

418858

Составитель Н. Блинкова

Корректор А. Степанова

Редактор Б. Федотов

Техред Т. Курилко

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 1809/5 Изд. № 591 Тираж 624 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений н открытий

Москва, K-35, Раушская наб., д. 4/5

Патент ссср 418858 Патент ссср 418858 Патент ссср 418858 

 

Похожие патенты:

Ы1иотека // 388261

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике, в частности к средствам автоматизации контроля и поиска неисправностей в устройствах с дискретным характером функционирования, и может быть использовано в автоматизированных комплексах отладки и ремонта цифровых устройств

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации

Изобретение относится к системам управления телевидением и радиовещанием

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике и может быть использовано в автоматизированных системах для контроля ЭВМ

Изобретение относится к области электрорадиотехники и может быть использовано для проверки функционирования DVD плеера

Изобретение относится к способу и системе отладки многоядерной системы с возможностями синхронной остановки и синхронного возобновления

Изобретение относится к области автоматики и цифровой вычислительной техники

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для диагностики функционирования микросхем оперативной памяти во всех отраслях микроэлектроники и радиотехники

Изобретение относится к средствам построения модели состояния технического объекта
Наверх