Фотоэлектрическое устройстводля измерения отклонений от прямолинейности поверхности

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

<>427230

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Зависимое от авт, свидетельства— (22) Заявлено 11.09.72 (21) 1827566/25-28 с присоединением заявки №вЂ” (32) Приоритет—

Опубликовано 05.05.74. Бюллетень № 1?

Дата опубликования описания 11,11.?4 (51) М. Кл. С 01Ь11/30

1 осудврственный комитет

Совета Министров СССР

IIII делам изобретений

И OTKPblTIIM (53) УДК 531.715.27 (088.8) (72) Авторы изобретения

В. В. Леонов и Л, Л. Зейгман (71) Заявитель (54) ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО

ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ

ОТ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ ПОВЕРХНОСТИ

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике.

Известно фотоэлектрическое устройство для измерения отклонений от прямолинейности поверхности, содержащее последовательно расположенные источник света, размещаемый на измеряемой .поверхности, каретку с установленными на ней двумя линзами, позиционно-чувствительный фотопреобразователь и регистрирующий блок.

С целью повышения точности измерения в предлагаемом устройстве линзы расположены друг от друга на расстоянии, равном сумме их фокусных расстояний, а фотопреобразователь выполнен устанавливаемым на измеряемой поверхности.

На чертеже изображена принципиальная схема, предлагаемого устройства.

Устройство содержит источник 1 света, каретку 2, линзы 8 и 4, двухкоординатный позиционно-чувствительный фотопреобразователь

5 и регистрирующий блок б, измеряемую поверхность 7.

Устройство раоотает следующим образом.

Источник 1 света, например лазер, создает коллимированный световой поток, направленный в сторону измерительной каретки 2. В измерительной каретке расположены две сферические линзы 8 и 4, удаленные друг от друга на расстояние, равное сумме фокусных расстояний этих линз. Световой поток проходит через линзы и попадает на двухкоординатный позиционно-чувствительный фотопреобразователь 5. Положение светового пятна на поверхности фотопреобразователя преобразуется в два напряжения, характеризующих положение светового пятна относительно координат, заданных этим фотопреобразователем. Напряжения подаются на регистрирующий блок б. В процессе измерения каретка 2 движется по поверхности 7 и в местах отклонения поверхности от прямолинейности смещается вверх-вниз, влево-вправо, что приводит к перемещению линз, расположенных в измерительной, каретке, относительно луча света, создаваемого источником 1.

Регистрирующий блок б записывает смещение светового пятна в вертикальной и горизонтальной плоскости.

Предмет изобретения

Фотоэлектрическое устройство для измерения отклонений от прямолинейности поверхности, содержащее последовательно расположенные источник света, размещаемый ца измеряемой поверхности, каретку с установленными на ней двумя линзами, позиционно-чув3о ствительцый фотопреобразователь и регистри427230

Составитель Лобзова

Техред В. Рыбакова

Корректор 3. Тарасова

Редактор Г. Ивченкова

Заказ 1670/527 Изд. № 840 Тираж 760 Подписно .

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Тип. Харьк. фил. пред. «Г!атент» рующий блок, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, линзы расположены друг от друга на расстоянии, равном сумме их фокусных расстояний, а фотопреобразователь выполнен устанавливаемым на измеряемой поверхности.

Фотоэлектрическое устройстводля измерения отклонений от прямолинейности поверхности Фотоэлектрическое устройстводля измерения отклонений от прямолинейности поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх