Устройство для получения минимальных диагностических тестов бесповторных комбинационных схем

 

(ii) 458830

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 03.05.73 (21) 1914008/18-24 с присоединением заявки № (32) Приоритет

Опубликовано 30.01.75. Бюллетень № 4

Дата опубликования описания 10.03.75 (51) М. Кл. G 061 15/20

Государстееннын комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 681.325(088.8) (72) Авторы изобретения А. Я. Бессмертных, Н. И. Ишков, И. С. Андрианов и Ю. В. Шишкин (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ

МИНИМАЛЪНЫХ ДИАГНОСТИЧЕСКИХ ТЕСТОВ

БЕСПОВТОРНЫХ КОМБИНАЦИОННЫХ СХЕМ

Изобретение относится,к области вычислительной техники.

Известны устройства для получения минимальных диагностических тестов бесповторных комбинационных, схем, содержащие индикатор тестовых, наборов и блок управления, выход которого соединен с входами коммутатора переменных логической функции и коммутатора переменных элементарных конъюнкций.

Однако известные устройства требуют большого объема оборудования для решения поставленной задачи.

Цель изобретения — упрощение устройства.

Это достигается тем, что в предлагаемом устройстве выходы коммутатора переменных логической функции соединены с соответствующими входами коммутатора переменных элементарных конъюнкций, к выходам, которого подключены соответствующие входы индикатора тестовых наборов.

На чертеже приведена блок-схема предлагаемого устройства для получения минимальных диагностических тестов бесповторных комбинационных схем.

Устройство, содержит блок управления 1, коммутатор 2 переменных логической функции, коммутатор 3 переменных элементарных конъюнкций и индикатор 4 тестовых наборов.

Устройство работает следующим образом.

В исходном положении все коммутирующие элемены 5 — 5„, 61 — б„находятся в выключенном состоянии.

Для определения, наборов диагностического теста, выявляющих шунтирование элементов диагностируемой схемы, с помощью коммутирующих элементов 5> — 5 коммутатора 2 переменных логической функции набирают все переменные логической функции, а с помощью коммутатора 3 переменных элементарных

10 конъюнкций — ace переменные одной из коньюнкций инверсии контрольной дизъюнктивной нормальной формы диагностируемой схемы.

При подаче питания с блока управления 1 на коммутатор 2 переменных логической функции

15 и коммутатор 3 переменных элементарных конъюнкций нндикатор 4 тестовых наборов отображает информацию о состоянии переменных в наборе тестовых команд.

20 Остальные наборы тестовых команд, выявляющие шунтирование элементов диагностируемой схемы, получают последовательным набором переменных остальных конъюнкций инверсии контрольной дизъюнктивной нор25 мальной формы с помощью коммутатора 3 переменных элементарных конъюнкций при неизменном положении коммутирующих элементов 5> — 5 коммутатора 2 переменных логической функции. Объединяя полученные та30 ким образом наборы, получают минимальный

458830 диагностический тест для .контроля шунтирования элементов диагностируемой схемы.

Для определения, наборов диагностического теста, выявляющих, разрыв элементов диагностируемой схемы, с помощью коммутатора 2 переменных логической функции набирают все переменные инверсной логической схемы, а с помощью коммутатора 3 переменных элементарных:конъюнкций — все переменные одной из конъюнкций .контрольной дизъюнктивной нормальной формы. При подаче питания с блока управления 1 на индикаторе 4 тестовых наборов отображается информация о состоя.нии переменных в наборе тестовых команд.

Остальные, наборы тестовых команд, выявляющие разрыв элементов диагностируем ой схемы, получают последовательным, набором переменных остальных конъюнкций контрольной дизъюнктивной,нормальной формы с IIOмощью коммутатора 3 переменных элементарных конъюнкций при неизменном положении ,коммутирующих элементов 5> — 5„коммутатора 2 переменных логической функции. Объединяя полученные .наборы, получают минимальный диагностический тест для контроля разрыва элементов диагностиру емой схемы.

Объединяя диагностический тест для контроля разрыва и для,контроля шунтирования элементов, получают минимальный диагностический тест для контроля диагно стцруемой схемы.

Блок управления 1 представляет собой кнопку 7, обеспечивающую подачу положительного, напряжения на входы коммутатора 2 переменных логической функции .и коммутатора 3 переменных элементарных конъюнкций только при считывании наборов тестовых кома,нд.

Коммутатор 2 переменных логической функции представляет собой набор коммутирующих элементов 51 — 5,;при включенном состоянии которых осуществляется подача положительного напряжения,на соответствующие выходы.

Коммутатор 3 переменных элементарных конъюнкций выполнен в виде, набора коммутирующих элементов 6 — 6, при выключенном

10 состоянии .которых индикатор 4 тестовых наборов подключается к выходам коммутатора 2 переменных логической функции, а при включенном — к блоку управления 1.

В качестве индикатора и тестовых наборов

15 используется световое табло из коммутационных электрических лампочек 8> — 8 . Каждая лампочка 8; соответствует переменной .наборов тестовых команд, и ее загорание говорит о состоянии этой переменной в данном наборе

20 тестовых команд без инверсии.

Предмет изобретения

25 Устройство для получения минимальных диагностических тестов бесповторных комбинаци онных схем, содержащее индикатор тестовых .наборов и блок управления, выход которого соединен с входами коммутатора пере30 менных логической функции и коммутатора переменных элементарных конъюнкций, о тл ичающееся тем, что, с целью упрощения устройства, в .нем выходы коммутатора переменных логической функции соединены с со35 ответствующими входами коммутатора переменных элементарных конъюнкций, к выходам котор,ого подключены соответствующие входы ,индикатора тестовых наборов.

458830 1 !, Составитель Г. Сорокин

Редактор Е. Караулова Техред А. Камышникова

Корректор О. Тюрина

Заказ 445/11 Изд. № 1044 Тираж 679 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, К-35, Раушская наб., д. 4, 5

Типография, пр. Сапунова, 2

Устройство для получения минимальных диагностических тестов бесповторных комбинационных схем Устройство для получения минимальных диагностических тестов бесповторных комбинационных схем Устройство для получения минимальных диагностических тестов бесповторных комбинационных схем 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в электронной цифровой вычислительной машине

Изобретение относится к электронным играм

Микроэвм // 2108619
Изобретение относится к области микропроцессорной техники, в частности, может применяться для реализации обмена информацией

Изобретение относится к области цифровой вычислительной техники и предназначено для обработки двух или больше компьютерных команд параллельно

Изобретение относится к области вычислительной техники и предназначено для создания высокоскоростных систем обработки больших потоков данных в реальном режиме времени

Изобретение относится к цифровым компьютерным системам и предназначено для обработки двух и более команд параллельно

Изобретение относится к вычислительной технике, точнее к построению многопроцессорных векторных ЭВМ

Изобретение относится к вычислительной технике и может найти применение в автоматизированных системах управления АСУ индустриального и специального назначения

Изобретение относится к изготовлению выкроек, в частности таких выкроек, которые должны использоваться при изготовлении предметов одежды
Наверх