Устройство для градуировки тензорезисторов

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (») 485334 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 08.01.73 (21) 1876051/25-28 с присоединением заявки №(23) Приоритет—

Опубликовано 25.09.75Бюллетень № 35

Дата опубликования описания 26 О1 76 (51) M. Кл.

G 01 E 25/00

G 01 о 7/18

Гасударственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК

530., 89.6:531.781 (088. 8 ) С. Г. Савин и В. С. Савин (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ГРАДУИРОВКИ ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ

Эти недостатки еще в большей степени проявляются при градуировке тензорезисторов в условиях повышенной температуры.

1leab изобретения — повышение точности устройства.

Изобретенье относится к устройствам для градуировки тензорезисторов, для которых измерительные характеристики тензочувствительности, ползучести, механический гистерезис и другие определяю ся при их наклейке (или креплении другим снособом) на градуировочную балку равного сечения и нагружений ее по схеме чистого изгиба.

Известно устройство для градуировки !О тензорезисторов, содержащее две призматические ножевые опоры, установленную на них градуировочную балку, два рычажно-весовых нагрузочных механизма с подвижными гирями, релейно-следящую систему управления перемещением гирь и камеру нагрева.

Однако это устройство имеет существенные недостатки, заключающиеся в том; что, в нем иъ-за возможного небаланса 20 рычажн; -весовых нагрузочных механизмов це обеспечивается нулевой изгибающий момент при нулевой нагрузке, и тем самым не исключается нулевой про иб градуировочной балки, при этом градуирово rHas балка 12 не возвращается в исходное (начальное) положение после знакопеременного нагружения и не исключает остаточные деформации градуировочной балки.

Особенно сильно это проявляется при градуировке и статическом испытании тензорезисторов на предельные удлинения на балках малой (не более 0,5 мм) толщины с низким модулем упругости.

Это достигается тем, что устройство снабжено дополнительными призматическими ножевыми опорами, расположенными за пределами камеры нагрева и кинематически связанными с опорами градуированной балки и рычджно-весовыми нагрузоч1 ными механизмами, и упругой балкой, 5 установленной на дополнительных опорах."

485334 3

На чертеже показана конструктивнокинематическая схема предлагаемого устройстваа.

Устройство для градуировки тензорезисторов состоит из основания 1, на кото ром на стойках 2 и 3 установлена камера нагрева 4. Внутри камеры нагрева установлены призматические ножевые опоры 6 и

7, при этом опора 7 выполнена в виде двойного призматического шарнира.

На этих призматических ножевых опорах установлена градуировочная балка 8. Íñ жевые опоры 6 и 7 через рычаги 9 и 10 подвижно связаны с тягами 11 и 12.

)Под камерой нагрева на основании 1 установлены дополнительные призматические ножевые опоры 13 и 14, элементы которых соединены упругой балкой 15.

Опора 13 также выполнена в виде двойного призматического шарнира. Упругая балка 15 снабжена тензометрическим устройством 16 автоматического измерения ее изгиба и соецинена с прибором 17 визуального измерения изгиба.

Призматические ножевые опоры 13 и 14 через рычаги 18 и 19 подвижно соединены с тягами 11 и 12 и через тяги 20 и 21, рычаги 22 и 23„тяги

24 и 25 связаны с рычажно-весовыми ! нагрузочными механизмами 26 и 27, Тя ги 11 и 12, 20 и 21 выполнены разрезными и снабжены гайками 28 для их соецинения и регулировки натяжения. Кажцый из рычажнс весовых нагрузочных механизмов 26 и 27 соответственно снабжены наборами сменных гирь 29 и 30, контактными релейно-следяшими системами, .1 и 32 и электроприводами 33 и

34 автоматического перемещения наборов сменных гирь.

Устройство работает следующим обра: ом.

Градуировочную балку 8 равного сечения из материала исследуемой конструк-! ции с наклеенными (или закрепленными цр уI им способом) тензорезисторами устанавливают и закрепляют на призматических ножевых опорах 6 и 7 . Затем тензорезисторы градуировочной балки, 4 подключают к измерительной схеме элект-I роннаго измерителя деформации. По окон-, чании сборки измерительной схемы, в зависимости от толщины, модуля упругос5 ти и величины требуемой деформации градуировочной балки с исследуемыми тензорезисторами, выбирают набор сменных гирь 29 и 30, которые устанавливают соответственно в механизмы 26 и 27.

10 Набирают (задают) число точек после- д ова те льног о наг ру жени я-раз гружения градуировочной балки и включают релейноследяшую систему 31 или 32 управления перемещением гирь в зависимости от зна15 ка нагружения.

Заданная программа нагружения-paar ружения реализуется перемешением гирь

29 или 30 в механизмах 26 или 27 с помощью электроприводов 33 или 34, 20 управляемых релейно-следящей системой

31 или 32 соответственно.

Деформацию изгиба градуировочной балки с исследуемыми тензорезисторами опрецеляют по изгибу упругой балки в

25 зависимости от ее тошцины. Изгиб упругой балки контролируется по прибору 17 и автоматически регистрируется в цифропечати тенз ометрич еским устр ойств ом

16

6 автоматического измерения ее изгиба.

Предмет изобретения

Устройство для градуировки тензорезисторов, содержащее две призматические ножевые опоры, установленную на них градуировочную балку, два рычажно-весо- вых нагрузочных механизма с поцвижны-,ми гирями, релейно-следящую систему управ40 ления перемещением гирь по заданной программе и камеру нагрева, о т л и— ч а ющеес я тем, что„с цельюповышения точности, оно снабжено дополнительными призматическими ножевыми опо45 рами, расположенными за пределами камеры нагрева и киматически связанными с опорами грацуировочной балки и рычажнь-весовыми нагрузочными механизмами е и упругой балкой, установленной ня допол50 ыительпых опорах, ! оставигеаь Я.Бро)гоы

Редактор Н.Коз ова ехред E.11одурупингггт КоРректор А.1 я го гои

3„ Иад. №1О

11одписное

1!1111!11!И 1 осуда рственного коми е1а Совета Министров С(.(.!1 ио делим ивоо1гегсиий и огирытий

Москва, 1130;!5, Раушскан нвб., 4 ! lрелириягие сПааеитъ, Могкиги 5!1, Ь региковскаи иао, 2!

Устройство для градуировки тензорезисторов Устройство для градуировки тензорезисторов Устройство для градуировки тензорезисторов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерению и контролю напряжений в конструкциях любого типа
Наверх