Токовихревой дефектоскоп

 

пп 487294

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 02.01.74 (21) 1983128/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 05.10.75. Бюллетень ¹ 37

Дата опубликования описания 26.12.75 (51) М. Кл. G Oln 27/86

G О!Ь 7/06

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 620.179.14 (088.8) (72) Авторы изобретения

В. И. Бакулин, Б. А. Гунин, Л. К. Комогорцев и В. К. Попов (71) Заявитель ф

@ - . (54) ТОКОВИХРЕВОЙ ДЕФЕКТОСКОП

Изобретение относится к области неразрушающего контроля токовихревым методом и может быть использовано для обнаружения металлических включений в неэлектропроводных и немагнитных материалах, а также дефектов типа несплошности в протяженных электропроводных изделиях.

Известны токовихревые дефектоскопы, содержащие два проходных датчика, смещенных один относительно другого в направлении их оси, генератор высокой частоты, два измерительных канала, соединенных с датчиками, индикатор и логическую схему «И», включенную между выходами измерительных каналов и индикатором.

Однако известные дефектоскопы имеют недостаточную помехоустойчивость, так как при воздействии помех на один из датчиков индикатор регистрирует ложные дефекты.

С целью повышения помехоустойчивости предлагаемый дефектоскоп снабжен элементом задержки, включенным между выходом измерительного канала и логической схемой

«И», второй датчик подключен к входу измерительного канала, а измерительный канал выполнен в виде дифференциального усилителя и фазового детектора.

На чертеже представлена блок-схема предлагаемого дефектоскопа.

Дефектоскоп содержит генератор 1 высокой частоты, два идентичных датчика 2, расположенных по оси перемещения контролируемого изделия 3, на некото н от другого, подключенн фф ренциальный усилитель 4, выход которого соединен с фазовым детектором 5. Первьш выход фазового детектора подключен через элемент задержки 6 ко входу логической схемы «И» 7, второй выход фазового детектора соединен непосредственно с другим входом логической схемы. Индикатор дефектов 8 подключен к

10 выходы логической схемы «И».

Дефектоскоп работает следующим образом.

Сигналы, возникающие на выходе первого и второго датчиков прп прохождении через них изделия с электропроводным включением, 15 сдвинуты между собой по времени.

Эти сигналы усиливаются дифференциальным усилителем и преобразуются в разнополярные импульсы фазовым детектором, на

20 один из входов которого подается с генератора опорное напряжение. С разнополярных выходов фазового детектора импульсы передаются на два входа логической схемы «И», причем импульсы, соответствующие сигналам

25 первого датчика, задерживаются элементом задержки на время прохождения изделия между датчиками

При контроле изделия с электропроводным включением на обоих входах логической схез0 мы «И» одновременно появляются импульсы от двух датчиков, что фиксируется индикатором 8.

487294

П р едм ет изобретения

Составитсль В. Вяхорев

Техрсд Т. Миронова

Редактор И. Бродская

Корректор Е. Хмелева

Заказ 3216/1 Изд. № 31 Тираж 902 Подписно

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, К-35. Раушская наб., д. 4, 5

Типография, пр. Сапунова, 2

При воздействии случайных помех как на один из датчиков, так и на оба одновременно или на элементы измерительного канала благодаря элементу задержки импульсы не могут одновременно поступить на входы логической схемы «И», вследствие чего исключается вероятность их регистрации индикатором.

Токовихревой дефектоскоп, содержащий генератор высокой частоты, два проходных датчика, смещенных один относительно другого в направлении их оси, измерительный канал, логическую схему «И» и индикатор дефектов, последовательно подключенные к одному из датчиков, отличающийся тем, что, с целью повыгцения помехоустойчивости, он снабжен элементом задержки, включенным между выходом измерительного канала и логической схемы «И», второй датчик подключен к входу измерительного канала, а измерительный канал выполнен в виде дифференциального усилителя и фазового детектора.

Токовихревой дефектоскоп Токовихревой дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх