Устройство пробы линий

 

О П И С А Н И Е (») 503373

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 04.06.74 (21) 2034007/26-9 с присоединением заявки № (51) М. Кл,е Н 04М 3/04

ГосУдаРственный комитет (23) Приоритет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Опубликовано 15.02.76. Бюллетень ¹ 6

Дата опубликования описания 2б.04.7б (53) УДК 621.395.121 (088.8) (72) Авторы изобретения (71) Заявитель

Е. P. Лившиц, К. P. Нусова и П. А. Янов

Рижский ордена Ленина государственный электротехнический завод ВЭФ имени В. И. Ленина (54) УСТРОЙСТВО ПРОБЫ ЛИНИЙ

Изобретение относится к телефонии и может использоваться в автоматических телефонных станциях.

Известно устройство пробы линий в автоматических телефонных станциях, содержащее транзисторы приоритетной и неприоритетной линий, в коллекторных цепях которых включены исполнительные реле, а эмиттеры подключены к полюсу источника питания.

Однако известное устройство пробы линий не обеспечивает выделения приоритетной линии при одновременном занятии устройства по двум входам.

С целью выделения приоритетной линии при одновременном занятии устройства по двум входам в предлагаемое устройство введен дополнительный транзистор, коллекторная цепь которого подключена к базовой цепи, эмиттерная цепь — к эмиттерной цепи транзистора неприоритетной линии, а базовая цепь дополнительного транзистора подключена через последовательно соединенные первый резистор и диод к приоритетной линии и через второй резистор к полюсу источника, причем базы дополнительного транзистора и транзистора приоритетной линии через соответствующие диоды и контакт исполнительного реле приоритетной линии подключены к «земле», На чертеже приведена принципиальная схема устройства пробы линий.

Устройство пробы линий содержит исполнительные реле 1, 2, обмотки которых подключены соответственно к коллекторам транзисторов 3, 4. К базам транзисторов 3, 4 подклю5 чены резисторы 5, б, обеспечивающие постоянный сигнал открывания на базовой цепи.

Ко входу 7 приоритетной линии подключен диод 8, последовательно с которым включен резистор 9, присоединенный к базе дополни10 тельного транзистора 10 и резистору 11. Дополнительный транзистор 10 обеспечивает своевременное шунтирование управляющего базового сигнала транзистора 4. К базам транзистора 3 и 10 через контакт 12 исполнитель15 ного реле 2 подключены диоды 13 и 14, обеспечивающие стабильный режим работы устройства после осуществления пробы по неприоритетной линии.

Устройство работает следующим образом.

20 В исходном состоянии на базы транзисторов 3 и 4 поступает отрицательный потенциал через резисторы 5 и б. При появлении на входе 7 или 15 отрицательного потенциала транзисторы оказываются мгновенно в работе.

25 Транзистор 10 в исходном состоянии закрыт.

В случае поступления отрицательного потенциала на вход 7 от приоритетной линии срабатывает транзистор 3, включая исполнительное реле 1, и через диод 8 и делитель напря30 жения, образованный резисторами 9 и 11, от503373

Формула изобретения

Составитель А. Туляков

Техред А. Камышникова Корректор T. Добровольская

Редактор Т. Янова

Заказ 840/18 Изд. № 1121 Тираж 864 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

3 крывается вспомогательный транзистор 10, шунтируя своим коллекторно-эмиттерным переходом управляющий сигнал на базе транзистора 4.

Таким образом, если на входе 15 от неприоритетной линии появляется сигнал в виде отрицательного потенциала, то реле 2 не срабатывает, так как транзистор 4 закрыт.

В случае появления отрицательного потенциала на входе 15 от неприоритетной линии срабатывает транзистор 4 и исполнительное реле 2, при этом замыкается контакт 12 и подключает к базам транзисторов 3 и 10 «землю», закрывая тем самым указанные транзисторы.

Следовательно, если на входе 7 от приоритетной линии появляется сигнал в виде отрицательного потенциала, транзисторы 3 и

10 не изменяют своего состояния, а исполнительное реле 2 остается в работе.

В случае появления одновременно на обоих входах 7 и 15 сигнала в виде отрицательного потенциала срабатывают транзисторы 3 и 4, время срабатывания которых на два— три порядка меньше времени срабатывания реле. Благодаря тому, что ко входу 7 от приоритетной линии подключен диод 8, отрицательный потенциал попадает на базу дополнительного транзистора 10, который, открываясь, шунтирует базо-эмиттерный переход транзистора4, тем самым закрывая его, т. е. в данном случае транзистор 4 имеет два такта работы: сначала он открывается, а после срабатывания транзистора 10 закрывается.

Это происходит за время 2 — 3 мкс, поэтому исполнительное реле 2 не успевает сработать и оказывается обесточенным.

10 Устройство пробы линий в автоматических телефонных станциях, содержащее транзисторы приоритетной и неприоритетной линий, в коллекторных цепях которых включены исполнительные реле, а эмиттеры подключены к

15 полюсу источника питания, о тл и ч а ю ще еся тем, что, с целью выделения приоритетной линии при одновременном занятии устройства по двум входам, введен дополнительный транзистор, коллекторная цепь которого под20 ключена к базовой цепи, эмиттерная цепь— к эмиттерной цепи транзистора неприоритетной линии, а базовая цепь дополнительного транзистора подключена через последовательно соединенные первый резистор и диод к при25 оритетной линии и через второй резистор к полюсу источника, причем базы дополнительного транзистора и транзистора приоритетной линии через соответствующие диоды и контакт исполнительного реле приоритетной ли30 нии подключены к «земле».

Устройство пробы линий Устройство пробы линий 

 

Наверх