Перфлектометр
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик (11) 516903
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (б1) Дополнительное к авт. свнд-ву (22) Заявлено 02,01,73(21) 1865319/;>8 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет (43) Опубликовано05,06.76, Бюллетень ¹g1 (45) Дата опубликования описания 08.10.76 (51) М. Кл. G 01В 1,>08
Государственный комитет
Совета Миниотров СССР по делам изооретений и открытий (о ) У Д 1 5> 3 1 . 7 1 5, . (О 88. 8) (72) Автор изобретения
B. С. Усэв (71) Заявнтель Мэсковский институт инженерэн геэдезии, азрэфэтэсъел>ки и картографии (51 ) Г1Е>Р<1.<П:KTONLTP
Изобретение >TllecIITcz к измерительнэй технике, пред!1азначенэ для измерения диаметров валов отверстий и дли>! кэнцевь!х л!ер с прецизиэннэй тэчнэстью и КТо>К«Т найти применение в машинэстрэительной и приб.ростроительнэй технике.
Известен порфлектэметр, применяемый для рец>ешь! аналэгичных задач, сэдержаший светяшиеся иарки, два объектива, две пэлупрэзрачнь!<з пластины и два зеркала, окуляр, 10 линзэвый кэмпенсатэр (1).
Известный перфлекгэл!етр имеет cný>! Наиболее близким пэ технической сушнэсти к да!лнэ;!у изэбрет<:!1ию яв;!яется перфлектэл!ет!>, сэдержаший Ilpэекг!ионный микрэ- 20 cKoTl, вь!пэлненный в виде источника света, кондеисора, < «TI и < л!а!>к >!1, эбъсктива прэекц и э!лн эгэ >,>«к и эск эпа, !1:>мерите>!ьнун> ветвь, F>K>!! >cK >!1, выло.!ионный в виде >Г>ы ктгн>а, ceTKII . окуляра („ ). 25 При перекрытии деталь!о части нучк .>1учей ме>кду объект!1«ами прэекциэ>п>эг;> и из.;!еритольнэгэ микрэскот>эв на с<:тк== и;!мерительного л!икрэскэпа образу<>тся два изэбр!1жения сетки прэекц;I >Iè:>I- > !!!к ><;к >г!а рассматри >аемь!х в эку:!я! . Сэ«!!а>те1!и< и;»;б>!><1жений, эбразуел!ых этими г уппами пу1к:>!! лучей, прэисхэдит в мэкк нт> к эгда ll >г><>!>хность измеряемой детали цахэдится на визирной эси перфлектэмец>11. (->бшая г:>чнэсть измерений известнэгэ п<>рф.!ектэметГ>а слагается из тэчнэсти наведения визи!>ной ><..и на границу измеряел<юй детали и т;> EEIsc 1 II эпроделения величины ге раз!..ерш и при к»l лил!ациэннол! хэл» л<.чей н» дэстат" !!>О выС.>KG. LIens изэбретения — повышение точности измерений, Зто дост1!га0Tся тем, чтэ п)>едлг!Гаcл!ый перфлектэметр снаб>к и з ркальнэ-линз:>вы л! отражателем, распэn:»Keníl >м и!> v >ду. л>"lcй за эбъектив-.> !!р:.>ек>1иэ1!11огэ мик -кэг,> и «ыпэлненны в !>!!д. бъeKTIII>:I и > л "<.кого з< ркала, pQcl!!>nç>v . и и. 3 за ним и;><>ъе>1.<-! IЕIП1Ь!Х В ЭД!1ЭЛ1 К Э, 1! "« =р,а II <. .Iel>1!T<..;11. 1!ая 516903 ветвь выполнена в виде автоколлимационного окуляра, расположенного между сеткой и объективом проекционного микроскопа и сфокусированного постэянно на переднюю фокальную плокость зеркально-линзового отражателя. Такое выполнение перфлектэметра позволяет осуществить автэколлимациэнный, ход лучей и тем самым повысить вдвое точность измерений. На чертеже показана схема перфлекто10 метра. Перфлектометр содержит источник 1 света, кондеисор 2, сетку 3 с маркой 5 светоделительный кубик 4, объектив 5, зер- 1б кально-линзовый отражатель 6, выполненный в виде объектива 7 и плоского зеркала 8, сетку 9 и окуляр 10. Светэделительный кубик 4, сетка 9 и экуляр 10 эбразуют автэкэллимациэннь>й Окуляр. 20 Перфлектэметр рабэтает след"кипим эбразом. Пучок лучей эт марки g сетки 3 кэллиматэрнэй ветви микрэскэпа после отражения эт пэлупрозрачнэй грани светэдели- Ж тельнэго кубика 4 собира òñÿ эбъективом 5 в фэкальнОй плэ(=кэсти объектива l зеркально-линз ов эг э эт ра)кателя 6 вблизи граничной пэиерх11эсти объекта 11 измерений, аналое Он сэбирается эбъективэм 7 и и(>>раппе>1ьным пучкi)M лучей падает на зерк--,лэ 8 Отразившись эт иегэ, в110111> сэбирается эбьективэм .7 в фэкальнэ1 ил э(.к0<.ти, -Гс(1(:) ik хэд лучей имеет мост.:, Ilэка Гра>111111ая и.верх- "О ность изделия 11 нэ пс)р=крываэт 11)"11(;1 лучей между ми(срэ"1(О(1ом и з<рка;пл:О-лппОТР а)1(ат(> >I> T, (TP 11 710P() KPI> I IIII 1 а с тll пучков между объ.-..ктивамп 5 и 7 микроскопа и зеркально-линзовым отражателем в по40 ле зрения Окуля(>а 10 появится второе изображение и мар1(и 5, образованное лучами Отразившимися От новерхио(;ти изделия 1 1, затем в зерк:в1(ил)-липзэв1»й отражатель 6 45 и вновь от поверхности изделия 11. l !pè касании поверхности изд.)лия 11 и визирной оси микроскопа оба изображения сольются в одно что и является критерием правильности наведения визирной оси HQ ловорхность измеряемого изделия 11. При этэм, если пучок лу Iе>()(о):;ду объективами 5 и 7 перекрыт и наблюдаются два изэбражения 3 марки Я, тэ расстояние между ними llp0r!0p!!IIэнальн > учетверенной величине смешения в1(з11рнэ(, -.си Отнэсительнэ граничнс>й пэверхнэсти из: Теряемогэ изделия 11. i T0 и обусловливает вдвое бэлее вь(сокую т<чнэсть наведения у предлагаемого перфлеKTv>;(: г(>а в сравнении с перфлектэметр м (2 ). Формула изобретения Перфлектэметр, сод< рт >kk!I;и прэ:KIT!To!!ный микроскоп, выполненный в виде последэвательнэ устанэвлои1(ых ист) 1ника света, кэнденсора, сети прэе>сциэ1111эгэ микрэскэпа с маркой, объектива п()эок((иэннэгэ KnIKp0скопа, и измерительную ветвь, ) т л и— Ч B IO Щ II и C и ТРМ> >ET0> C ПЕ:.I I>.) ПОВН>щения тэчности измерений, эн снабжен зеркалън э-лие(зовы м этра)к:1T(1() м, р 1(лэ, Iэ>+ е11ным пэ ходу лучей за; >1.>)1(ти(,эм 11(>"> кп1(энНОГО микрэс1СОГ>а EI BE;111 ">; 1101 111»,1 !l E! I(Ä( объектива и плэскэгэ зеркала> ьа...11эл(»кс>ннэгэ за ним и эбъо>и11 .и111>х B )ди )м кэп— пусе, а измерите(1ы(а(1 I."".г с.> kll!Ilэлнена в виде автэкэллимациэни-.>;") 1(у;1я(>а> (!:Icll лэ>кеннэг0 ме>кду сетк: и и бъ кп1вэм прэекцпэннэг0 микрэскэпа 1! (1(1-.>ку "IT(эваннэгэ пэстэяннэ на пероднк)1 )»с>1:>1>11ук 11;1эскэсть ЗОРКЯЛ1 110-Л11НЗЭВЭГ0 Эт()>а,>» l 1("тэчн11КИ И11ф0(>>M<>I; kli 1 > 1» >1И>я "> l»0 ) О!(1 мание при экс11ертизе: 1. Лвт. св. М 153789> кл. G 01B 13/08, 196 = r, 2. Г!ерф.>1октэметр ф11(1.1 Е. ЬЕ(> 1959 Г ° HI!0<:Tk)(>IIIII»0 ((>IIPMP1I1kI.I>=, >TdT(и>11алE k > прэтэтип. Г.остави Геаь ц ТехРел h. Кад.- дц:.цекова Корректор F åë KT P f3, )(ру1- и; 3RKRa 628 >/ 1., 30 1 ),ÇÑ)35, Москва, Ж-35, Раушскяя нл6, д.4/5 Фи ".игл 1I(! I I "1Ь г н i"", .r . у жп рок ул. Проектная, 4 Тираж Я (: с I (одпигно %EICOS f4
