Способ рентгеноспектрального анализа

 

Iii1 552543

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 05.01.73 (21) 1868651f25 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 30.03.77. Бюллетень № 12

Дата опубликования описания 27.О4.77 (51) М. Кл. G 01N 23/22

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621,386(088.8) (72) Автор изобретения

А. М. Злотин (71) Заявитель (54) СПОСОБ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА

Изобретение относится к способам анализа, основанным на возбуждении и регистрации характеристического излучения определяемого элемента.

Известен способ анализа, основанный на возбуждении характеристического рентгеновского излучения определяемого элемента и регистрации одной из линий спектра, по интенсивности которой судят о содержании определяемого элемента.

Однако при этом результаты анализа зависят от состава наполнителя пробы; точность анализа недостаточно высока.

Цель изобретения — повышение точности анализа.

Это достигается тем, что по предлагаемому способу одновременно регистрируются интенсивности аналитических линий двух разных серий.

При этом для проб с маломеняющимся составом наполнителя регистрируется суммарная интенсивность указанных аналитических линий, что повышает объем информации и тем самым — точность анализа. Для проб псременного состава интенсивность аналитической линии другой серии используется для учета абсорбционных свойств пробы, что также позволяет повысить точность анализа.

Формула изобретения

Способ рентгеноспектрального анализа, заключающийся в возбуждении характеристического рентгеновского излучения элементов пробы и последующей регистрации одной из аналитических линий определяемого элемента, отличающийся тем, что, с целью повышения точности анализа, дополнительно регистрируют аналитическую линию другой серии и по интенсивностям указанных аналитических линий судят о содержании определяемого элемента.

Способ рентгеноспектрального анализа 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к методам анализа материалов радиационными способами и может быть использовано для определения тяжелых элементов, в том числе и благородных металлов при низких субфоновых их содержаниях в горных породах, рудах и минеральных при поиске, разведке и отработке рудных месторождений

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области исследований и анализа материалов путем определения их физических свойств, а именно для исследования параметров каналов нанометрических размеров в трековых мембранах, и может быть использовано при изготовлении объектов из трековых мембран для анализа с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к области инструментального химического анализа, в частности к области аналитической химии

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к исследованию конструкций, содержащих делящееся вещество, например подкритических сборок и ТВЭЛов
Наверх