Устройство для измерения толщины различных материалов

 

Класс 42b, 12„, СС СР "- 64357

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зарегистрирована в Бюро изобреЯВШП 1бсйлайа "СССР

1 (Е. И. Дмитриев

Устройство для измерения толщины различных материалов

Заявлено 27 октября 1939 года в Наркомэлектропром за М Зб156 (308439) Опубликовано 28 февраля,945 года

Уже известны электрические методы контроля толщины и размеров изделий, основанные на том, что измеряющее толщину приспособление одновременно вызывает соответственное изменение величины воздушного зазора какой-либо магнитной цепи. Эти изменения, в свою очередь, влияют на величину магнитного потока в цепи, который может быть непосредственно измерен.

Особенность предлагаемого, согласно изобретению, устройства заключается в том, что измеряющее толщину приспособление одновременно вызывает перемещение пластинки из ферромагнитного материала, которая служит магнитным шунтом обычного электрического измерительного прибора магнитоэлектрической системы.

Рамку прибора при этом питают от независимого источника постоянного тока. Отклонение подвижной системы прибора будет при этом меняться в зависимости от положения магнитного шунта, поскольку при этом будет изменяться величина пронизывающего рамку прибора магнитного потока.

На чертеже схематически изображено предлагаемое устройство.

Постоянный магнит 1 снабжен полюсными наконечниками 3, между которыми расположена рамка 4 подвижной системы с подводящими ток пружинками 6 и помещенный внутри ее неподвижный сердечник 8 с колодкой 7.

Магнитный шунт 5 прикреплен одним концом непосредственно к полюсному наконечнику, а другой его конец образует со вторым наконечником воздушный зазор а.

Ширина пластинки 5 соответствует высоте полюсных наконечников.

Через рамку 4 пропускается постоянный ток неизменной величины.

Если воздушного зазора о не будет, т. е. если свободный конец шунта будет плотно прижат ко второму полюсному наконечнику, то магнитный поток, проходящий через рамку 4, будет близок к нулю, так как большая его часть пройдет по шунту 5. При наличии зазора: величина магнитного потока, непосредственно пересекающего обмотку рамки 4, будет возрастать и, следовательно, отклонение стрелки прибора будет меняться в зависимости от величины воздушного зазора о между магнитным шунтом и полюсным наконечником.

Таким образом шкалу прибора № 64357

Типография Госпланиздата, им, Воровского, Калуга можно проградуировать в значениях измеряемой толщины.

Так как сила тока в рамке при-" бора не должна изменяться, то для поддержания ее величины постоянной могут быть применены какие-либо стабилизаторы известного типа, например, бареттеры и т. п.

Предмет изобретения

Устройство для измерения толщины различных материалов электрическими методами, согласно которым, в зависимости от изме(Зтв. редактор Д. А. Михайлов

Л123597 Подписано к печати 16/VII 1946 г. ряемой толщины, меняется величина воздушного зазора в магнитной системе, отличающееся тем, что измеряющее толщину прис. пособление, механически связанное с пластинкой из ферромагнитного материала, использовано для шунтирования магнитной системы магнитоэлектрического измерительного прибора, рамка которого предназначена для питания от независимого источника тока, с той целью, чтобы отклонение последней менялось в зависимости от толщины измеряемого изделия.

Техн. редактор М. В. Смольякова

Тираж 500 экз. Цена 65 коп. Зак. 202

Устройство для измерения толщины различных материалов Устройство для измерения толщины различных материалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх