Емкостной датчик контроля качества поверхности металлов

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Q0l В 7/34

Государственный квинтет

Совета Инннстров СГн,Р оо делам нзаеретеннй н аткрытнй (53) УДК 5 1-717..8(088.8) I-»

И. М. Шоймер, Б. H. Гриценко и Б. М. елостоцкий

* -ну Й н*", I

\ т

Ооесскна фнлнал ссесоюаного ннстнтута ло:нроеннщйНннайнкск организации энергетического строительства (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) ЕМКССТНОЙ ДАТЧИК КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА

ПОВЕРХНОСТИ МЕТАЛЛОВ

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано как устройство для контроля качества поверхности металлов, например после травления.

Известны емкостные датчики для конт- 5 роля качества поверхности металлов (1) .

Основным недостатком известных датчиков является незначительная их точность.

Наиболее близким по технической сущности к данному изобретению является 10 емкостной датчик контроля качества поверхности металлов, содержащий элект род и пористую прокладку, пропитанную электр олитом (2 J.

Недостатком указанного датчика яв» ляется недостаточная точность, вызванная вследствие износа трущихся частей датчика, выполненных из различных материаловв.

Пелью изобретении является повышение точности датчика.

Пель достигается тем, что электрод датчика выполнен в виде полого пилиидра с отверстиями и внутреннимн, радиально расположенными ребрами жесткости, пористая прокладка охватывает внешнюю поверхность электрода, и датчйк снабжен дополнительной прокладкой,заполняющей вну1 реннюю полость электрода.

На фиг. 1 изображен предлагаемый датчик, вид сбоку; на фиг. 2 - то же, вид сверху, Описываемый датчик содержит электрод 1, выполненный в виде полого цилиндра и установленный на оси 2. Внутренняя его полость снабжена радиально рас положенными ребрами жестк юти 3 и заполнена электролитом и дополнительной прокладкой 4 из пористого материала.

Электрод 1 снабжен отверстиями 5 и охвачен по всему периметру кольцевой, пористой, пропитанной электролитом прокладкой 6. Ось 2 электрода-катка 1 снабжена токосъемником 7 и держателем

8. Датчик установлен на контролируемой детали 9 с возможностью перекатив вания по ней. () 37701

) т г

"(..-(„<4.. лг Ь< (, . (;

1! !

< (IiXi т«тр P

° .. OCТ=сВЦТЕЛЬ (Ь .. ) тс !(ЦЦ IeXp0д Ю«)тц(М-)Г Ктлтртрг)К "r)p П. (т,с(ак;-;-.В ре((акз".з-о f. Багла(з " Р Г ((OL! тИГ ст .5<= с ((;! ((5

ПО дЕЛа(и ЦЗобр<ЗТ<:"НЦ (< )t (З т<гтв(тцц .! . . <)ОЗ 5 <т сь-..т(ва <<(ь-с.с."". с асс!()с)гл}й ттг)(з д ст! сс ."= с

Ф1ц1иап ППП пПа(тэцт ", г, )<зт(город, ул,. J(po(«J(TÍQß, 4

Г(а (чик работает следуюцгим образом„ ,(1атс»JL ПРЕДВЭРЦТЕЛЬЦО ЦаКЛаДЬЦЗак)Т .:. : полированную поверхность эталонно":;.О Образца и измеряют эталонную емСа с" с;(ДатЧЦК НакЛаДЬЕВа(ОТ На К ОН Х ) Одт(г);сг)МУ<(0 ПОВЕРХЦОСТЬ МЕтаЛЛа ПОСЛЕ т1ЗаВ)ЗЕЦЦЯ< ОПЕРатОР ДЕР>катЕЛЕМ 8 тс)1-= ст

КаЕт &..B .3 ЭЛЕКТРОДа 1< КОТОРЫ}(УВРа)даясь вокруг оси 2, перекатывается по

JJ(юерхцо<зти контролируемой дета(пт 9, и:to".(ц(з прцзкимаясь прокладхо)(6 к цо=

В С с Р сГ) т (ЬС Г) т Е Е

Прц рабате датчик обкатьцзает конт"рол труемую поверхность детали после у}зев)те(ттlя !IQ JLQTOpoA Об(зазуется To)t

„--кс)()тт,::--и цл цка. Пви этом цзмепеl .це ,ттст Л! ! 5)<«< i)5)! Qlт цЛ(ц(КИ сб )с)<ЕЕЗ (! Oi. !, . .

: .:0)tQ,-

ДЕ Г)(Ц,", .ь ()J-,„., ЦЗМЕНЕНЦЕ ЕМКОСТИ

В<Г" 1" с= )(ЦЯЯ т<ОВЕРХНОСТ1з ЭГ)ЕКГДОЦа-ДЕ-Таг(!. " Г т — ЦЕЬЧ. РаСТРаВЛЕЦНОСТЦ ОЦОН)с -. сваЕ)ЗСЯ ПО ВЕЛцЧИНЕ ЭЛЕКтрОХИМИЧЕСКОГО

)(Се<: I::L)(ти(5!((а LIJ

1.С

-" ЭТО/ <)HO

1(р()Осла) .-.<е :Оь дг}«г ц}ке цачальцая («к .Ость Образована су с<1(с<(а)и!(ОЙ птзвеo (.-" ь г ". ц<ЗСТ(-.(ã! ттц. тцна-ттц;= ".т

Вцс. Н! (Ей 1! Еь}(у Гроц)<ЕЦ l! Г! О, I!1(з с. ь i! т, ь(тТСРИДЛаМИ Bl(OLU)10) 0 К<Э;!1,1)(! т! т .(! с Г(тс- Ц(1<:—

1 О ЗаПОЛНЕ))ИЯ, И У "а(1)< ОМ К!и! . (! ст!!" }т! Ет—

x<(ov! детали, при),(ыка(о())и(.". }(цар (}(< }! o )у кольцу дат"(ика. Поэта(

И а с=- В(,, I Trь B Коц(ь(IIO;,< C

Формула изобретении м)<ос тной датчит«(i!<(тр(тля

И поверхности металлов, .;OL(åp)f(ÿùïé tto)< itР От) тт )! Ет))ттс)УЮ !(Po<«)(<«,. Oг т }Зтт, <О гпеft Р, .с сс ЛЕ.

pQ с Отверстиями t(B(()rT()B!((I!s < ((! с .": цтса.г< -т-,-,0 зэ Г(<зь; 0)(«зн!ц:((лщ рг бр,.- ми;ке; -:;; ог -.ц

fс5З(ЗЦ :.Тая Jто )К)(L!E!tr. =i ОХ))атЫВЧЕТ B.".3

Ло =:<)ХИОС ГЬ ЭЛЕИ (popo И Пй < сти ." (аб>!

Вцим алие црц эксце-тц, —;

;1 . В :. O!<С) 0= Свис(="Г< ЛЬС с 3 О (., .. . - "!<Э 4ОГЗ: КЛ„ Г) 3 В ., .= (т 3. <т 7:З ,rG 38, с;,! <т01 В 7/3 «(" !

Емкостной датчик контроля качества поверхности металлов Емкостной датчик контроля качества поверхности металлов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам обнаружения движения активного устройства относительно поверхности для управления работой этого устройства при обработке поверхности

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при активном контроле шероховатости поверхности детали в процессе ее обработки преимущественно на станках токарной группы

Изобретение относится к области материаловедения, точнее к исследованию поверхностной структуры кристаллов и пленок в мезоскопическом диапазоне размеров методом атомно-силовой микроскопии и прецизионному инструментарию для научных и производственно-технологических исследований

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а именно к способам измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с применением сканирующего зонда (атомно-силового микроскопа, магнитосилового микроскопа)

Изобретение относится к транспортной измерительной технике и предназначено для использования при измерении ускорения автомобиля в системе электронного управления двигателем
Наверх