Способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов

 

Союз Советских

Социалистических

РЕспублик

ОЛИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

< 684294 Ъ р/

I (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (51) М. Кл.2

G 01 В 7/16 (22) Заявлено 2 1.03.78(21)2594489/25-28 с присоединением заявки ¹â€”

Государственный комитет

СССР яо делам нзобретеннй н открытий (23) Приоритет (53) УДК 531. 781. . 2 (088. 8) Опубликовано 05,09.79. Бюллетень Мо 33

Дата опубликования описания 0509.79 (72) Автор изобретен и я

И.М.Парфенов (71) Заявитель

Научно-исследовательский и конструкторский институт испытательных мамин, приборов и средств измерения масс (5 4 ) СПОСОБ ОЦЕНКИ НЕСТАБИЛЬНОСТИ

ХАРАКТЕРИСТИК ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ

Изобретение относится к измерению механических величин тензорезисторными преобразователями .

Известен способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов, заключающийс я в том, что тензорезисторы устанавливают на упругий элемент, нагружают его и помещают в термокамеру, затем тензорезисторы подключают к переменному или постоянному напряжению и по величине напряжения оценивают нестабильность

Но такой способ отличается длител; ностью и невысс.кой точное-тью оценки нестабильности х арак ери<-THK тенэореэистор-зв и — . а балы::ого времени установки теплового режима из— мерений и невысокой то ности стабилиз ации температуры.

Известен способ оценки нестабильности характеристик тенэорезисторов, .:аклк .яющийся в том, что тензорезисторы уcòàíàâëèâàþò на упругий элемент, который нагревают путем пропускания через него электрического тока, í.сгружают pIо, затем тенэорезистары подклн чают к переменно- му напряжению питания и по величине напряжения оценивают их нестабильность (2) .

Однако для оценки нестабильнс сти

5 характеристик тензорезисторов из-за необходимости испыта ни я тен з орез и сторов при двух различных темпера— турах, треб еттся значительн и п1 межуток времени.

Цель изобретения — сокращение времени оценки нестабильности характеристик тенэореэисторов.

Указанная цель достигается эа счет того, что величину напряжения питания устанавливают в зависимости от заданной температуры нагрева тензорезисторов, измеряют нелинейные искажения напряжения на выходе и входе тензорезисторов, по разности которых определяют величину нестабильности их характеристик.

Сущность спас:n6a заключается в том, что при питании тензорези<-.торов переменным напряжением питания с изменением мгновенной амплитуды напряжения меняется мгновенная мощность и количество тепла выделяемого тенэорезистором, а значит, и егo температура. Из-эа незначительной массы тензорезистора его температура будет пропорциональна выделяемой

684294

Формула изобретения

Редаткор Б . Евстратов

Редактор С. Головенко Техред С.Ми raA Корректор Б.h, òÿ а

Заказ 5267/29 Тираж 866 Подписи

ЦНИИПИ Государственного комитета C((.I по делам иэобретсний и агкр,.;чин

113035, Москва, Ж-35, Рау к..кая нас .,;,. 4, .

Филиал ППП Pàòåíò, гужi n;;i;, ., l мощности. Тенэорезисторы подбирают с одинаковыми сопротивлениями (с малым разбросом сопротивлений), наклеивают на упругий элемент и включают в мостовую схему. В результате температуры нагрева тензорезисторов оказываются равными, с высокой точ- 5 ностью и изменяются синхронно с удвоенной частотой. При наличии разницы в температурных коэффициентах тензореэисторов на выходе мостовой схемы появляется вторая гармоника 10 питающего синусоидального напряжения. Так как температурный коэффициент сопротивления тензорезисторов является нелинейной величиной, то, кроме второй гармоники, в выходном сигнале будут присутствовать и другие высшие гармоники синусоидального напряжения. Для того, чтобы форма напряжения питания не влияла на точночть оценки нестабильности характеристик тенэореэисторов, величину нелинейных искажений напряжения питания вычитают иэ величины нелинейных искажений на выходе тенэорезисторов.

Процесс измерения нестабильности характеристик тензорезисторов по предла гаемому способу э а н има от н есколько минут.

Способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов, заключающийся в том, что текзорезисторы устанавливают на упругий элемент, нагружают его, затем тензорезисторы подключают к переменному напряжению питания и по величине напряжения оценивают их нестабильность, о т л и ч а ю шийся тем, что, с целью сокращения времени оценки, величину напряжения питания устанавливают в зависимос -и от заданной температуры нагрева тензореэисторов, измеряют нелинейные искажения напряжения на выходе и входе тенэореэисторов, по разности которых определяют величину нестабильности их характеристик.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Испытательные приборы и стенды. М 3, 1974, c . .23-31.

2. Исследование температурных напряжений. М., Наука, 1972, с. 133-140.