Двухкомпонентный объектив микроскопа

 

дс,е,t ywдгил патентно-техннческая

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Соеетсиии

Социалмстнчесиик

Республик

< 688146

К ПАТЕНТУ (6!) Дополнительный к патенту(22) Заввлено 30.07,76 (21) 2389404/18-10 (23) Приоритет- (32) 010875 (51) М. Кл.

602 В 21/02

Государственный номнтет

СССР но делам нзобретеннй н открытий (3 3) ДДА (3! ) 601006

Опубликовано 250979 Бюллетень М 35

Дата опубликования описания.2909.79 (оЗ) УЛК 5 (24.

Иностранец

Артур Х. Ихумекер (США) (72) Автор. изобретения

Иностранная фирма Американ Оптикал Корпорейшн (США) (71) Заявитель (54) ДВУХКОМПОНЕНТНЫИ ОБЪЕКТИВ МИКРОСКОПА

Изобретение относится к двухкомпонентному объективу микроскопа и касается, в частности, ахроматического объектива с числовоИ апертурой

0,10 с заранее определенным увеличением.

Объектив микроскопа хорошо скорректирован на обычные хроматические аберрации изображения, так же, как и на сферическую абберацню, кому и астигматизм, и имеет увеличение .4" при использовании вместе с определенным объективом телескопа, имеющим существенно плоскую кривизну поля по полю в 24 мм при использовании вместе с укаэанным объективом телескопа и с обычным 10 -окуляром.

Известны двухкомпонентные объективы микроскопа, каждый из которых склеен иэ двух линз (1), Однако эти объективы не дают в достаточной степени откоррегированного изображения, Известен двухкомпонентный объектив, имеющий заданные значения увеличения числовой апертуры, каждый иэ компонентов которого склеен из двух линз, а второй компонент включает двояковыпуклую линзу (2).

Этот объектив также не обеспечивает необходимого качества аберрационной коррекции.

Цель изобретения — повышение ка-.

6 чества аберрационной коррекции, Указанная цель достигается тем, что первый отрицательный компонент образован поЛожительным мениском, 1О обращенным вогнутостью к предмету, и двс яковогнутой линзой, а перед двояковыпуклой линзой второго положительного компонента размещен отрицательный мениск, обращенный

l6 вогнутостью к изображению.

На чертеже представлена принципиальная оптическая схема предлагаемого объектива.

Объектив микроскопа имеет два

Ю компонента. Первым компонентом 1 является двояковогнутый отрицательный дублет, а задним компонентом

2 — двояковыпуклый положительный дублет.

Компонент 1 склеен из положительного мениска 3, обращенного вогнутостью к иэображению, и двояковог нутой линзы 4, а в положительном склеенном компоненте 2 перед двоякоЗО выпуклой линзой 5 размещен отрицатель688146

Формула изобретения г

Составитель В.Ванторин

Редактор Т, Иванова Техред Л, Рлферова Корректор В. Синицкая

Заказ 5567/56 Тираж 588 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб.,д.4/5

Филиал ППП Патент, г.ужгород, ул.Проектная,4 ный мениск 6, обращенный вогнутос тью к объекту.

Двухкомпонентный объектив микроскопа, имеющий заданные значения увеличения числовой апертуры, каждый иэ компонентов которого склеен из двух линз, а второй компонент включает двояковыпуклую линзу, о т .л и ч а ю шийся тем, что с целью повнаения качества аберрационной коррекции, первый отрицательный компонент -образован положительным мениском обращенным вогнутостью к предмету, и двояковогнутой линзой, а перед двояковыпуклой линзой второго положительного компонента размещен отрицательный мениск, обращенный вогнутостью к изображению.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Kpyrep М.Я. и др, Справочник конструктора оптико-механических приборов, M. — Ë., 1963, с.377,27 °

2 ° Кругер М.Я. и др. Справочник конструктора оптико-механических приборов ., М.-Л., 1963, с.377, фиг.276.

Двухкомпонентный объектив микроскопа Двухкомпонентный объектив микроскопа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к микроскопии, к планапохроматическим объективам микроскопа и может быть использовано для комплектации лабораторных и исследовательских моделей биологических, поляризационных, люминесцентных и других микроскопов

Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано в измерительных микроскопах отраженного света для исследования и измерения особо мелких топографических структур изделий микроэлектроники

Изобретение относится к области микроскопии, точнее к микрообъективам - системам с дифракционно ограниченным качеством изображения, служащим для исследования особо тонких микроскопических структур в естественном свете и свете люминесценции

Изобретение относится к области микроскопии - к планапохроматическим объективам микроскопа и может быть использовано для комплектации лабораторных и исследовательских моделей биологических, поляризационных, люминесцентных и других микроскопов
Наверх