Способ измерения разности длин спектральных линий по спектрофотограмме
сЪ 1 ) 1Я(Класс 42е, 3<)f)
СССР
ОПИСАНИЕ КЗОЕР .-.. Е!- Р1е3!
К АВТОРСКОМУ С ;== !;ЦЕ Л=Л =- ТВУ
-ЙОЗИ
:- : )ЕИ "г)19: ." ;1 СЕЛ!! .г1. И. GopTIIIII;013 (.".ИОСОБ !13МЕ1 Е11ИЯ РАЗИО(,Т! 1 Д,.11!>1 г.,!! Е)с4 с, >)!1ЫХ ll ill l I 11
ПО СПЕКТРОФОТОГ1)АММЕ ВЛ11, )AliA
Заявке))о 27 декабря 11939 г. ва ."а 313165
Пзвестиый метод логарифмического сектора и таком )3)т;!е, какой был дан ему Тва))ма)тот)т, обладает недостатком. снижающим то гность этого метода. lip)i измерении длины линий на сиектрограмме определеипс концов линий представляет затруднения. Обычно иользук)тся растром
i
Предлагается способ пз)мерения p»;;lincòï длин cire),"тр!)с!т,иы): линий ио сиектрофотограмме Тваймаиа, ilo которому ук»3»1)иу!О !)язиост<, определяют путем измерения разностей ор:тппят у !яст!<и!<,пп<ий, Обл» да!От);и раиным иочериепием., l,:iIf осуществления предлагаемого < 1!осооа используют полу»!)том»ти Ie<. irliii микрофотометр, дополненный .->!Огсяпизмом а!!!кр0.,1< т1и «поп) i«реме)цепи» !)ямки со сиектрофотограммой с т< .м, .ттооы мо)кио си,!г!и бы, )>еремещя» рамку со сиектрофотограммой, з()ап рить поло)к<пня уч!и 1ьoi) линий, Об. тадатощпх одинаковым почерисппем.
Шель фотоэлемента дол)киа быть lio высоте огряппч< и» д!)яфр»гмой 1 як, что(>ь) (i)ÎTo;IOTрир013» lc» неоольи)ои уч»(т(гк д !ill!1>f (il(Ir) р(1:1 ьиоl;
;illlfllii. Тогда разности длин линий бу,тт т определяться lrvTC)I и»):О.кдеии» участков линий с одинаковым почсрпсчи!см. 3;(сс ь и»до ОтмеT ть,,To;rfr1I слектрал<,ного анализа. в коне Тном счсте, пу)киьт и;,!ливы линий, я ilx разности. Поэтому нет I!co()xo,нл!Ост!т и»ге«дить с»м!ие коп:Ты линий, и точнее оудс т пякодить разность .!.тпп линий с поч< рпепиям 1 соотвстству!огним)т обля<.тп 110!)маль);ь!гс эк< по:)яи>!й. Гтр:.i Описанием методе сочетания логарпфмическогÎ сектор» и а!икро<1)ото)Тетра ус.т>)яТТ»ется O(IIO13li011 нс1;fO(TBT01<, I)pirl)0;r»rirfi II к. i!Oi peillilO(тя)! i!pi! 0<)l l 1 !!ox> мi! <<1)О< >ОТОмет!)п))О>3»нтlп, )то»в 15>loriifiilc» всл(;I("! 1311(Р<):3:!i! ÷ïîãî и))<)филя cfTohTp»cfûfirx линий.
;цугой còo!)of!fr, здссь испо.и з;;;)тся xop0;!life т;ячс ств» лог»рифxl и 1 с < ко! О с (кто!)а, !!О Гр)»1)lтеттнlо (к."тиlто!)т 1)I (i!, !»<)>1T(, l! 11, llo;313<)il!iloX. 3188 щие, в отличие от послсдттсго, изготовить логарифмп IBchIIfI сектор точно по расчету для получения определенной зависимости разности длин линий от концентрации определяемого элемента и не имеющим вредной селективпости и поглощении лучей. Эттт преимущества логарифмического сектора раисе не могли оыть использованы в полной мере, так как распрострапенгно метода логарифмического ссктора препятствовали ногретиностн измерений разностей длины спектральных сттттттттт.
Предмет изобретения
Коатитет по делам изобретений и открьттттй при Совете Министров СССР
1 едактор А. И, Дышельмап
Гр. 167
Информациоипо-издателт скттй отдел, Объем 0,17 п, л, Заказ 4776.
По .-:. к неч. 2/VIII-1960 v.
Тираж 250 Цена 25 кои, Гор. Алатырь, типпер;к .и:я Л. > Мнi:iiñò - рства ку:и:туры Чувашской АССР.
Способ измерения разности длин спектральных линий ITO сиектрофотограмме Тваймана, о т л и в а то шийся тем, что указанную разностт, измерятот т утсм измере птт разностей ординат участков литпш, обладатощпх равным почсрнснисм.
