Способ измерения толщины окисной пленки

Авторы патента:

G01N1/28 - Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D 1/00;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N 11/00; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание

G01B11/06 - для измерения толщины

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ о>723362 (б1) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 230578 (21) 2624613/22-02 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет

Опубликовано 25.03.80. Бюллетень №

Дата опубликования описания 260380 (51) М. Кл.2

G 01 В 11/06

Государственный комитет

СССР по делам изобретений н открытий

G 01 N 1/28 (53) УДК 621 ° 794, ° 47 (088.8) (72) Авторы изобретения

А,М. Павлов, С.И. Фокеев и Л.Б. Бухтиярова

Всесоюзный научно-исследовательский институт метиэной промышленности (ВНИИметиэ) (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ОКИСНОЙ

ПЛЕНКИ

Изобретение относится к способам измерения толщины окисной пленки на поверхности проволоки и может быть использовано на металлургических и метиэных заводах для определения толщины окисной пленки на поверхности горячекатанной или термической обработанной стальной углеродистой проволоки.

Известен способ измерения толщины окисной пленки, включающий отделение окисной пленки, изготовление металлографического глифа, замер толщины окисной пленки под микроскопом (1).

Недостатком этого способа является большая трудоемкость и сложность сохранения окисной пленки на поверхности при подготовке шлифов для замера толщины пленки под микроскопом. Механически непрочная окисная пленка на поверхности проволоки иэ углеродистой стали при отрезке образца, а также при механической . обработке шлифа выкрашивается, что значительно снижает выход годного при изготовлении таких шлифов.

Кроме того, в связи с неравномерной толщиной окисной пленки по длине проволоки, для точных измерений необходимо приготовление большого числа шлифов отрезных участков проволоки .

Белью изобретения является снижение изготовления металлографического шлифа, Это достигается тем, что в пред10 ложенном способе измерения толщины окисной пленки, включающем отделение окисной пленки от поверхности проволоки, изготовление металлографического шлифа, измерение толщины окисной пленки, перед изготовлением металлографического шлифа проводят ориентацию частиц окисной пленки в однородном магнитном поле.

Пример, Определяют толщину

2() окисной пленки на поверхности горячекатанной проволоки диаметром

6,5 мм из стали марки БСтОм по

ГОСТ 14085-68, отбирают окисную пленку от 3-х участков одного мотка (массой 500 кг) проволоки знакопеременным изгибом; затем частицы окисной пленки помещают в магнитное поле с индукцией, равной 6500 гс (применяют постоянный магнит с коэрцитивной силой 470 эрстед),что723362

3881Б. После этого замеряют толщину окисной пленки с использованием оку лярмикрометра Hà микроскопе типа Эпиквант при увеличении х500

В таблице приведена сравнительная трудоемкость изготовления шлифов для измерения толщины окисной пленки.

Характеристики

Отбор окисной пленки (образцы с окисной пленкой) 15

Ориентировка частиц окисной пленки в магнитном поле

Заливка ориентированных частиц окисной пленки (образцы с окисной пленкой)

АКР-7

Замеры толщины, окисной пленки на микроскопе МИМ-7 (Эпиквант ) 25

Общее время изготовления шлифов и замеров толщины окисной пленки

120

Формула изобретения графического шлифа, перед изготовлением металлографического шлифа проводят ориентацию частиц окисной

40 пленки в однородном магнитном поле.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1, Жук Н.П, Курс теории коррозии и защиты металлов, М., Металлургия", 1976, с. 434-435.

Составитель Л„ Суяэова

Техред О Легеэа Корректор В. Бутяга

Редактор Козлова

Заказ 411/30 Тираж 801 Подпи сное

IIHHHHH Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 бы частицы заняли вертикальное положение. Не снимая магнитного поля, производят заливку ориентирован ных частиц окисной пленки самотвердеющей пластмассой АКР-", и обрабатывают застывший шлиф с частицами окисной пленки последовательным шлифованием на станке модели 3881 и полированием на станке модели

Подготовка образца и обработка на шлифовальном станке

Полировка на полировальном станке

Способ измерения толщины окисной пленки, включающий отделение окисной пленки от поверхности проволоки, изготовление металлографического шлифа,, измерение толщины окис ной пленки, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что, с целью снижения трудоемкости изготовления металло-

По предлагае- По известному мому способу способу