Способ отбраковки резисторов

 

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-в у (22) Заявлено 310877 (21) 2522074/18-21 с присоединенйем заявки ¹

Н 01 С 17/00

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 150680. Бюллетень ¹? 2

{53) УДК621. 396..69 (088; 8) Дата опубликования описания 1506.80 (72) Авторы изобретения

В И ° Пружинина, В. B. Александров, З.П. Куклина и И.A. Нартовская (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОТБРАКОВКИ РЕЗИСТОРОВ

Изобретение относится к радиоэлектронике и может, в частности, быть использовано при производстве высоконелинейных резисторов для разрядников и ограничителей перенапряжений .

Известен способ обработки резисторов, включающий определение их пропускной способности, заключающийся в том, что выборка иэ партии резисторов испытывается гарантированным или несколько большим током, понижающим или исчерпывающим ресурс пропускной способности (1) .

Недостатком этого способа является то, что резисторы после испытаний не пригодны к использованию.

Кроме того, вероятность появления бракованных резисторов в партии остается и зависит от величины выборки.

Известен способ отбраковки резисторов, при котором пропускную способность резисторов определяют по изменению падения напряжения между концом электрода и краем резистора при приложении коротковолнового длительностью от 10 до 20 мкс импульса тоха номинальной величины (5 кА и выше) и полученное значение сравнивают с предварительно определен н ой предельной для данного типа резисторов величиной (2) .

Недостатком данного способа является его трудоемкость и невозможность .обнаружения трещин в дисках резисторов, которые могут образовываться в процессе прессования резисторов.

Цель изобретения — обеспечение воэможности нераэрушающего контроля и упрощение способа.

Указанная цель достигается тем, что в способе отбраковки резисторов включающем опр едел ение пропуски ой способности резисторов путем измеренйя электричвских параметров, определение пропускной способности производят путем измерения емкости и проводимости при напряжении 8-10 В и частоте О, 9-1, 1 кГц.

Измерение емкости выявляет такие технологические дефекты оксидноцинковых нелинейных резисторов, как трещинки, неплотности и слоистость структуры, не обнаруживаемые вн ешн им осмотром и не проявляющиеся в вольт,амперн ой характ ери стик е, но рез ко снижающие токовую пропускную способ3() ность. Эти дефекты сказываются на

741327

Таблица

200

240

0,030

0,018

20

200

20

0,020 200

0,018 200

0,014 200

2943

20

2944

2945

240

2946

200

0 015

0,013

0,016

0,012

20

2947

200

20

2948

200

20

2949

200

2950

0,014 200

0,014 200

2951

2952

20+

О, 014

200

240 величине емкости резисторов, потому что представляют собой воздушные емкости, включенные последовательно с емкостью тела резистора.

Одновременно с измерением емкости на мосте переменного тока измеряется и проводимость резистора при малом напряжении, поскольку нелинейный резистор может быть представлен емкостью, шунтированной линейным резистором.

Если резистор имеет участки повышенной электропроводности, т. е. дефекты, появившиеся при случайном попадании в резистор проводящих окислов или при местном нарушении окислительного характера газовой среды в процессе спекани я, то происходит существенное ухудшение нелинейности егб вольт-амперн ой характери стихи .

Это ухудшение проявляется в увеличении на порядок проводимости, измеренной на мосте переменного тока.

Таким образом, измерения емкости и проводимости на мосте переменного тока позволяют проводить отбраковку резисторов как по пропускной способности, так и по нелинейности

Для примера в табл. 1 приведены .результаты измерения емкости и проводимости и итоги испытания пропускной способности. Резисторы Ф 34 мм нагружались токами 200 и ?40 А на пр ямоу гольной волне, длит ел ьн ост ью

2 мкс.

2941 1463 0,010

2942 1484 0,011

1538 0,011

564 0,004

1474 . 0,010

1601 0,010

1517 0,011

1512 0,010

804 0,005

1476 0,011

924 . 0,006

1559 0,011

В таблице указано число импульсов- -. нагрузки, которые диски выдержали.

Импульс, который вызвал пробой, помечен крестом. Коэффициент нелинейности вычислен для диапазона токов 0,1 и 1,0 мА.

Резисторы 99 2944, 2949 и 2951, обладавшие малой емкостью пробились на токе 200 л, в то время как остальные резисторы выдержали нагруэ.<у током и 200 и 240 л. Таким образом, уровень гарантированных токов в партии может быть поднят до 240 h.

В табл. 2 представлено влияние проводимости на коэффициент нелинейности. Резисторы 99 3318-3326 имеют

15 проводимость более чем на порядок превышающую проводимость резисторов

99 3167-3174. При этом у первых коэффициент нелинейности также почти в 6 раз больше, чем у резисторов

gp ММ 3167-3174.

Таким образом, измеряя емкость и проводимость резисторов на мосте переменного тока можно отбраковывать диски, обладающие как пониженной способностью, так и пониженной нелинейностью

Использование предложенного способа контроля резисторов позволяет проводить 100%-ный контроль производимых резисторов. Способ Прост, измеЗО рения по данному способу производятся с минимальной тратой времени и при этом не расходуется ресурс резисторов.

741327

Табли ца 2

Нелинейность, О, 1-li 0 MA

Диск

Емкость, пФ

Проиэводимость, l0

3318

2343

О, 202

О, 145

0, 110

2297

3319

3320

1963

О, 155

3321

2174

3322

2251

3323

2133

3324

2354

3325

2323

3326

2319

Среднее

3167

1631

3168

1654

3169

1726

3170

1665

3171

1709

0,006

3172

1733

3173

1640

3174

1569

0,005

0,006

Среднее формула изобретения способа, определение пропускной способности производят путем измерения емкости и проводимости при напряжении 8-10 В и частоте 0,9-1,1 кГц.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. PTM OAA. 688.012.71, 1971.

2. Патент ФРГ М 1541854, кл. 21 с 31/12, 1970 (прототип).

Составитель Н. Солодова

Редактор П. Макаревич Техред Н.Ковалева Корректор С. Шекмар

Заказ 3331/8 Тираж 844 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д..4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ отбраковки резисторов, включающий определение пропускной способности резисторов путем измерения электрических параметров, о т л и ч а ю шийся тем, что, с целью обеспечения возможности неразрушающего контроля резисторов и упрощения

О, 226

О, 186

О, 141

О, 178

О, 196

О, 156

О, 211

0,208

О, 221

О, 191

О, 006

0,006

О, 006.

О; 169

О, 138

О, 178

0,180

О, 194

О, 164

0,027

0,028

0,027

0,027

0,027

0,029

0,034

0,026

0,028