Фотоэлектрическое устройство для контроля качества поверхности изделий

 

О П И С А.Н И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

„,,750276 (6! ) Дополнительное к авт, саид-ву(22) Заявлено 03. 01. 78 (21) 2564144/18-26 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет—

Опубликовано 230780. Бюллетень йо 27

Датаопубликованияописания 250780 . (51) М. КЛ.З

G 01 В 21/30

Государственный комитет

СССР но делам изобретений н открытий (53) УДК5 31. 717 (088. 8) (12) Авторы изобретен и я

В. Ф. Федоровский, A. П. Алексеев, В. В. Рудь и Т. И. Яхонтова (11) Заявитель

Куйбышевский электротехнический институт связи (54 ) ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ

КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к контролю . качества поверхности изделий н может ! быть использовано, например, для выявления дефектов поверхностей плоских или цилиндрических деталей. 5

Известно устройство для контроля качества поверхности детали, содержащее оптико-механическую систему, фотоприемники, линии задержки блок сравнения и блок разбраковки. 1)

Недостатки устройства — зависимость выходных сигналов от параметров фотоприемников, значительная сложность выполнения линий задержки с большими постоянными времени.

Наиболее близким по технической. сущности к данному изобретению является фотоэлектрическое устройство для контроля качества поверхности изделий, содержащее оптико-механическую20 осветительную систему, последовательно соединенные фотоприемник, блок формирования сигнала, измерительный блок и блок разбраковки (2)

Недостатки устройства — чувствительность и надежность работы зависят от изменения освещенности иэделия, параметров фотоприемника и скорости вращения иэделия. Для изделий с различной отражательной способно- 30

2 стью необходима перенастройка устройства, что обусловлено спецификой

I выполнения измерительного блока в . виде амплитудно-временного селектора импульсов фотоприемника.

Цель изобретения — повышение надежности контроля.

Поставленная цель достигается тем, что устройство снабжено блоком управ-ления, подключенным к измерительн му блоку, а измерительный блок выполнен в виде реверсивного счетчика.

На чертеже изображена блок-схема устройства.

Устройство содержит оптико-механическую осветительную систему 1, обеспечивающую осмотр поверхности контролируемого изделия 2, фотоприемник 3, блок 4 формирования сигнала, измерительный блок, представляющий собой реверсивный счетчик 5, блок б раэбраковки,блок 7 управления.

Устройство работает следующим образом;

Световой луч от оптико-механической осветительной системы 1, последовательно освещающей каждую точку поверхности изделия 2, отражается от нее и поступает на фотоприемник 3, импульсы с выхода фотоприемника 3 пре750276

Формула изобретения

Составитель Ю. Петраковский

ТехредА.ЩепанскаяКор ектор Г. Назарова

Редактор N. Ликович

Заказ 4456/15 Тираж 801 Подписное

ЦИНИПИ Государственного Комитета СССР по делам изобретений и .открытий

113035 Москва,Ж-35 Раушская наб. д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород. ул. Проектная, 4 образуются в блоке 4 формирования сигнала.,Сигнал с выхода блока 4 формирования сигнала поступает на вход реверсивного счетчика 5. Блок 6 разбраковки по состоянию реверсивного счетчика 5 вырабатывает соответствующие сигналы на разбраковку изделий.

Контроль качества поверхности изде-лия осуществляется циклами измерений, Каждый цикл состоит из двух тактов.

При первом такте реверсивный счетчик 5 работает в режиме сложения, а во втором — в режиме вычитания. Такты работы задаются блоком 7 управления. Если после. двух тактов работы реверсивный счетчик 5 находится в исходном состоянии, то это означает,, что фотоприемник опрашивает соседние участки поверхности с одинаковым коэффициентом отражения. Если после двух тактов измерения состояние реверсивного счетчика 5 отличается от исходного, то это означает, что фотоприемник опрашивает соседние участ-ки поверхности с различными коэффициентами отражения. В зависимости от величины коэффициента отражения блок 6 разбраковки вырабатывает сигнал на отбраковку изделия.

Для повышения производительности контроля в устройство можно допол-. нительно ввести k воспринимающих элементов,и соответственно, — N реверсивных счетчиков.

Фотоэлектрическое устройство для контроля качества повер,".ности издели содержащее оптико-механическую осве о тительную систему, последовательно соединенные фотоприемник, блок формирования сигнала, измерительный блок и блок разбраковки, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью

35 повышения надежности контроля,оно снабжено блоком управления, подключенным к измерительному блоку, а измерительный блок выполнен в виде реверсивного счетчика.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Патент Швейцарии Р 575592, кл. Q 01 В 11/30, 1976.

2. Авторское свидетельство СССР

Р 386241, кл. G 01 В 19/32, 1973 (прототип .

Фотоэлектрическое устройство для контроля качества поверхности изделий Фотоэлектрическое устройство для контроля качества поверхности изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к области контроля сверхгладких поверхностей с манометровым уровнем шероховатости

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения отклонения поверхности длинных узких объектов от прямолинейного на заданном отрезке и может быть использовано для контроля прямолинейности поверхности катания рельса

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам для измерения формы и перемещений поверхности объекта

Изобретение относится к способу и устройству для измерения плоскостности полосы в шахте моталки стана для горячей прокатки полос

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к измерению параметров движущихся поверхностей

Изобретение относится к области приборостроения и цифровых оптических устройств и может быть использовано для бесконтактного определения качества изделий, имеющих средние и низкие классы чистоты обрабатываемых поверхностей в пределах Ra=0,8÷100 мкм

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим способам измерения высоты микрорельефа поверхностей интерференционным методом

Изобретение относится к прецизионной измерительной технике, а именно к оптическим способам контроля шероховатости поверхности, и может быть использовано в различных отраслях науки и техники, в частности в ювелирной промышленности для оценки чистоты огранки алмазов
Наверх