Способ контроля выравниванияфотопленок и устройство для егоосуществления

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

<1и 847255

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6I) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 03. 09. 79 (21) 28 I 3595/18-10 (5E)NE,. Кл.

G 03 В 43/00 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет—

Гееударствеииый кветятет аа делать изобретений и открытий

Опубликовано15.07.81 ° Бюллетень ¹ 26

Дата опубликования описания 17.07.81 (53) УДК, 778.39 (088. 8) (72) Авторы изобретения

Е, К. Кобозев и Н. К. Веселова

t т...- --.. (7I ) Заявитель (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ВЫРАВНИВАНИЯ ФОТОПЛЕНОК

И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ

Изобретение относится к кинофототехнике, в частности к аэрофотоаппаратуре.

Известны устройство и способ контроля выравнивания пленки по светотеням, образуемым при освещении пленки наклонным пучком лучей (1).

Известен способ контроля выравнивания фотопленок и устройство для его осуществления, в котором тест10 объект, содержащий одиночный штрих, освещается двумя источниками света.

Время экспонирования регулируется затвором. На пленке образуется два изображения штриха тест-объекта, т5 расстояние между изображениями зависит от величины неровностей пленки (расстояние между фокальной п.госкостью и пленкой) . После проявления пленки измеряют расстояние между двумя изображениями штриха и т.лчисляют величину неровностей пленки (21

Недостатком известного устройства и способа контроля выравнивания пленки является невысокая точность определения величины неровностей и большая трудоемкость, т.е. требуется замерить расстояние между двумя изображениями тчтриха и произ-. вести расчет величины неровностей пленки.

Цель изобретения — снижение трудоемкости определения величины неровностей пленки, повышение точности. указанная цель достигается тем, что в способе контроля выравнивания фотопленок, заключающемся в фотографировании тест-объекта на пленку, проявлении пленки и определении величины .неровностей по изображению тест-объекта на пленке, иэображение квадрата на пленке сравнивают с эталоном, а величину неровности определяют по совпадению изображения на пленке с изображением штрихов в одном из рядов эталона.

3 84725

Такой способ осуществляется устройством конструкции для контроля выравнивания фотопленок, содержащем тест-объект, расположенный в фокальной плоскости объектива фотоаппарата, и два точечных источника света, расположенные на фиксированном расстоянии относительно тест-объекта, которое снабжено эталоном с выполненными на нем рядами штрихов, причем, каждый ряд содержит заданное положение штрихов, соответствующее определенному расстоянию пленки от фокальной плоскости, а тест-объект выполнен в виде миры, содержащей квадрат с однонаправленными штрихами.

Кроме того, мира выполнена в виде набора квадратов с-однонаправленными штрихами, причем, ширина штриха от квадрата к квадрату возрастает. 0

На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства для контроля выравнивания пленки в квадратном аэрофотоаппарате; на фиг. 2 — то же, в панорамном аэрофотоаппарате; на фиг. 3 — разрез А-А на фиг. 2; на фиг. 4 — графические построения изображения миры, освещенной двумя источниками света; на фиг. 5 — эталон изображений квадрата миры в различных плоскостях, на фиг. 6 — мира; на фиг. 7 — одиночя и квадрат миры.

Устройство для контроля выравни— вания пленки к кадровом аэрофотоаппа- З5 рате содержит миру 1 с квадратами 2, содержащими однонаправленные штрихи

3, установленную в фокальной плоскости 4 аэрофотоаппарата (не показан) на выравнивающем стекле 5 перед аэро- 40 фотопленкой 6. Два источника света 7 установлены на фиксированном расстоянии друг от друга и от фокальнои плос. кости 4 объектива фотоапгарата (не показаны). Между источниками света

7 и фокальной плоскостью 4 объектива фотоаппарата (не показаны) установлен затвор 8. Ширина штриха 3 миры 1 от квадрата 2 к квадрату 2 возрастает в зависимости от требуемой точности 50 определения величины неровностей пленки

6, а минимальная ширина штриха, соответствующая минимальной величине неровностей пленки 6, определяется зависимостью 55 а - 3д!и

ПИ .— где а — расстояние между источниками света;

5 4!. расстояние о-. источников света до фокальной плоскости объектива;

И „„-„ минимальное значение величины неровностей пленки, которое необходимо определить.

Кроме того, устройство снабжено эталоном 9 со штрихами 10 для определения величины неровностей пленки

6, Когда квадрат миры 1 освещается двумя источниками света 7, за плоскостью миры 1 происходит сложение световых потоков, прошедших через щели от двух источников 7.

На различном расстояния от миры 1 квадрата картина освещенности меняет ся, причем, только в плоскостях Il, соответствующих определенному ряду

12 штрихов 10 эталона 9, картина ос— вещенности представляет собой чередование четких штрихов одинаковой ширины.

Постоянная квадрата 2, от которой зависит расстояние между плоскостями

11, соответствующей определенному ряду 12 эталона 9, определяется зависимостью

0;

O где P., — ширина штриха соответствующего квадрата.

При срабатывании затвора 8 мира ! освещается двумя источниками света

7 и н» пленке 6 фиксируется изображение миры !.

После проявления пленки 6 производят расшифровку изображения не показана) миры 1, для чего сравнивают изображение (не показано) квадрата 2 с эталоном 9, и величину неровности пленки 6.

Устройство для определения величины неровносте пленки 6 панорамного фотоаппарата установлено на качающейся ферме 13 между объективом 14 и экспозиционной щелью 15, перемещавщейся вдоль выравнивающего барабана

16 с неподвижной в процессе фотографирования пленкой 6. Мира 1 установлена в экспозиционной щели 15 àïïàрата (не показана). Два мнимых ис--очника света изображения 17 создаются с помощьв стробоскопической лампы

18, двух диафр гм 19 и наклонных зеркал 20.

Ферма 13, качаясь вокруг оси 21, перемещается вдоль выравнивающего барабача 16 с пленкой 6, При этом, мира освещается импульсами света

847255 6 проявлении пленки в целях определения величины неронностей по изобра-. жению тест-объекта на пленке, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью снижения трудое псости определения величины неровностей, изображение квадрата на пленке сравнивают с эталоном, а величину неровности определяют по совпадению изображения на пленке с изображением штрихов в одном из рядов эталона.

2. Устройство для осуществления способа контроля выравнивания фотопленок по п. 1, содержащее тестобъект, расположенный в фокальной плоскости объектива фотоаппарата, и дна точечных источника света, расположенные на фиксированном расстоянии относительно тест-объекта, о т л н ч а ю щ е е с я тем, что она снабжено эталоном с выполненными на нем рядами штрихов, причем каждый ряд содержит заданное положение штрихов, соответствующее определенному расстоянию пленки от фокальной плоскости, а тест-объект ныпол«е« в виде миры, содержащей квадрат с однонаправленными штрихами.

3. Устройство по п. 2, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности определения расстояния пленки от фокальной плоскости, мира выполнена н виде набора квадратов с однонаправленными штрихами, причем, ширина штриха от квадрата к квадрату возрастает.

Формула изобрет ния стробоскопической лампы 18 и на пленку 6 периодически впечатывается изображение (не показано) миры 1, освещенной двумя источниками света от стробоскопической лампы 18. После про- g явления пленки 6 определение величины ее неровностей производят аналогично, как в кадровом аппар;.те.

Контроль выравнивания пленки осущестнляется следующим способом. !О

Мира 1 фотографируется на пленку

6, затем пленка проявляется и по изображению определяется величина неровностей пленки 6. Изображение квадрата на пленке зависит от того, на каком расстоянии от фокальной плоскости находится пленка в момент фотографирования, т,е. от величины неровностей пленки, сравнив ют с эталоном

9 и определяют номер ряда 12 штрихов

10 на эталоне 9, штрихи 10 которого сонпадают с изображением («е показано) штрихов 3 миры 1.

Величину неровностей пленки определяют по формуле

S=E„n, где В„ — постоянная квадрата, n — номер ряда штрихов эталона.

Использование устройства и способа определения величины неныраннива- О ния пле«ки позволяет повысить точность, значительно снизить трудоемкость определения величины неровностей пленки за счет исключения операции измерения. Кроме того, предлагаемое устройство можно использовать для определения величины неровностей пленки в панорамных аппаратах.

1. Способ контроля выравнивания фотопленок, заключающийся в фото- 45 графировании тест-объекта на пленку, Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

11 106527, кл.G 03 H 43/00, 1956ã.

2. Инструкция по эксплуатации устройства для контроля выравнивания . пленки в фотоаппаратах. Красногорский механический завод, 1979 (прототип) .

847255

Составитель В. Панфилова

Редактор Т. Гыршкан Техред N,Ðåéâåñ КорректврС. Шекмар

Заказ 5494/73 Тираж 506 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

1l3035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4