Устройство для контактирования радиодеталей

Авторы патента:

H01G13H05K13 -

G01R31/18 - с поочередной подачей однотипных изделий на испытание, например шаговые испытания в массовом производстве

ОПИСАНИЕ

ИЗОЬГКтКНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТИЛЬСТВУ

Союа Советскнк

Социалнстических

Реслублнк

<1>864356

Ж г с (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 27.11.79 (21) 2844221/18-21 с присоединением заявки ИовЂ” (23) ПриоритетвЂ”

Опубликовано 150981 Бюллетень МЯ 34

Дате опубликования описания 15,0981 (51)М. К„.>

Н 01 G 13/00

Н 05 К 13/00

G 01 R 31/18

Государственный комитет

СССР ио делам изобретений и открытий (53) УДК 621. 319. 4 (088.8) (72) Авторы изобретения

Е.Н.Танкевич и A.È.×åñíîêîâ

° i (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ KOHTAKTHPOBAHHH

РАДИОДЕТАЛЕЙ

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам контроля и рассортировки радиодеталей (конденсаторов) по таким параметрам, как электропрочность

5 (испытание на пробой), емкость, тангенс угла диэлектрических потерь и сопротивление изоляции.

Известно устройство для контактирования радиодеталей, содержащее подпружиненные контакты и механизм, управляющий их раздвижением (1(.

Недостатком этого устройства является невозможность одновременного подключения большого количества радио;1 деталей к измерительному блоку, что не позволяет повысить производитель" ность устройства.

Известно также устройство для контактирования радиодеталей при их испытаниях по электропараметрам, содержащее контактный узел для подачи испытательного напряжения на ридаодетали и транспортирующий механизм для перемещения радиодеталей относительно контактного узла Г21 . .Недостаток этого устройства в низкой производительности, обусловленной невозможностью одновременного подключения группы конденсаторов к Ç() измерительным блокам. Кроме того, - функциональные возможности устройства ограничены, так как оно не обеспечивает достаточного пробоя испытываемых конденсаторов в процессе испытаний.

Цель изобретения вЂ” повышение производительности и расширение функциональных возможностей.

Цель достигается тем, что в устройстве для контактирования радиодеталей, преимущественью при испытаниях конденсаторов по электропараметрам, содержащем кон1актный узел для.подачи испытательного напряжения на радиодетали и транспортирующий механизм для перемещения радиодеталей относительно контактного узла, имеющий токосъемники для подключения радиодеталей к контактному узлу, контактный узел выполнен в виде контактной планки и набора контактных пластин, установленных наклонно по ходу движения транспортирующего механизма таким образом, что в рабочей плоскости контактные пластины частично перекрывают одна другую.

На фиг.1 изображена схема устройства; на фиг.2 вЂ” расположение контактных пластин.

864356

Устройство содержит электродвигатель 1, движение от которого передается через червячный редуктор 2, клнноременную передачу 3, зубчатые колеса 4 и 5, на вал б, являющийся приводным для транспортирующего механизма, состоящего из транспортера 7, на котором размещены параллельно од на другой контактные колодки 8, служащие для подключения .испытываемых

-радиодеталей 9 к блокам для испытания,, контроля и рассортировки по электрическим параметрам: испытания пробивным напряжением на злектропрочность контроль емкости, тангенс угла диэлектрических потерь и сопротивления изоляции (измерительные блоки не.по- 15 казаны).

По торцам контактных колодок 8, расположены токосъемники 10. Контактный узел содержит расположенные с двух сторон транспортера 7 контакт- зо ную планку 11 и набор соединенных с энергетическими конденсаторами

С„ -C контактных пластин 12, установленных изолированно одна от другой в одной рабочей плоскости наклонно (см.фиг.2) по ходу перемеще- . ния радиодеталей таким образом, что в рабочей плоскости они частично перекрывают одна другую, при этом каждая контактная колодка 8 контактирует токосъемником 10 одновременно с ЗО двумя контактными пластинами 12.

Управление синхронной работой измерительных блоков производится командоаппаратом 13. Источник испытательного напряжения через резисторы ЗЗ

R вЂ” Кц подключен к контактным пластинам 12 и к запоминающему блоку 14.

Устройство работает следующим образом.

Испытываемые радиодетали 9 устанавливают в контактные колодки 8, которые по мере перемещения в зоне испытания пробивнлм напряжением подключают ся поср едс твом ток ось емников 10 к контактной планке 11 и контактным плас-. тинам 12.При этом токосъемники 10 контактных колодок 8 при cKQJIbRBHHH обеспечивают перекрытие двух соседних контактных пластин 12, в связи с чем напряжение на испытываемые радиодегали 9 подается беэ перерывов в течение всего времени испытаний.

Если в процессе испытаний произошел пробой радиодетали 9, то соответствующий месту пробоя энергетический конденсатор С„ -С„ разряжается, и разрядный импульс подается в эапоми" нающий блок 14, с выхода которого сигналы управляют устройством сброса бракованных (пробитых) радиодеталей

9 (не показано).

При прохождении короткозамкнутой радиодетали 9 соседние контактные колодки 8 всегда находятся под напряжением, так как количество контактных пластин 12 в 2 раза больше находящихся на участке испытания контактных колодок колодок 8, а источник испытательного напряжения защищен от перегрузок резисторами R, вЂ” R

Формула изобретения

Устройство для контактирования радиодеталей, преимущественно при испытаниях конденсаторов по электропараметрам, содержащее контактный узел для подачи испытательного напряжения на радиодетали и транспортирующий механизм для перемещения радиодеталей относительно контактного узла, имеющий токосъемники для подключения радиодеталей к контактному уэ лу, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения проиэводительнОсти и расширения функциональных воэможностей, контактный узел выполнен в виде контактной планки и набора контактных пластин, установленных наклонно по ходу движения транспортирующего механизма таким образом, что в рабочей плоскости контактные пластины частично перекрывают одна другую.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

9 290245, кл.Я 01 R 35/00, 07.07.69.

2. Заявка Японии В 52-12578, кл.G 01 R 31/18, 08.04.77 (прототип) 864356

Составитель Г.Падучин

Редактор М.Бандура Техред М. Табаковнч Корректор,Ю.Макаренко

Заказ 7806/75 Тирам 787 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открихий

113035, Москва, й-35, Рау аская наб., д.4/5, Филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проектная,4

Устройство для контактирования радиодеталей

Устройство для измерения электросопротивления угольной тткани // 543893

Устройство для высоковольтных испытаний электротехнических изделий // 412574

В п т б // 395790

Способ контроля качества пленочных резисторов // 314236

Устройство для сортировки изделий // 270843

Патент 266942 // 266942

Устройство для автолитической проверки параметров электрических цепей // 221158

Устройство для автоматического контроля сопротивлений изоляции радиодеталей // 167251

Конвейерное устройство для испытания напряжением высоковольтных изоляторов // 30741

Способ неразрушающего определения содержания влаги в подкорпусном объеме интегральных схем // 2263369

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к определению влаги в подкорпусном объеме интегральных схем (ИС)

Способ определения сопротивления контактных переходов неокрашенных резисторов // 1347049

Изобретение относится к процессам контроля резистивной пленки и контактных переходов ненарезанных неокрашенных резисторов и позволяет повысить точность определения контактных переходов

Способ оценки электромиграционных параметров металлических проводников // 2567016

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для оценки и контроля надежности металлизации, а именно металлической разводки, при производстве интегральных микросхем для оптимизации процесса производства и повышения информативности. Способ заключается в проведении испытаний металлических проводников интегральных схем при трех различных температурах T1, T2 и Т3 за счет саморазогрева протекающим электрическим током с последующим расчетом электромиграционных параметров: энергии активации , показателя экспоненты n = { ln ( t 50 1 / t 50 2 ) − E a ⋅ ( 1 / T 1 − 1 / T 2 ) / k } / ln ( j 2 / j 1 ) и электромиграционной константы металлических проводников A = t 50 1 ⋅ j 1 n / exp ( E a / ( k ⋅ T 1 ) ) , где ( t 50 1 ; j 1 ) , ( t 50 2 ; j 2 ) , ( t 50 3 ; j 3 ) - медианное время наработки на отказ металлических проводников и медиана значений плотностей тока, разогревающего эти проводники до температуры испытаний Т1, Т2, Т3 соответственно. Технический результат заключается в уменьшении времени испытаний тестовых структур для получения электромиграционных параметров. 8 ил., 6 табл.