Просветляющее покрытие

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (iii866526 (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 30. 10.79 (2! ) 2824476/18-10 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет

Опубликовано 23.09.81. Бюллетень № 35

Дата опубликования описания 23.09.81 (51)М. Кл.

С 02 В 5/28 Ъоударотоеюй комитет

СССР до делам лзобретеннй и открытой (53) УДК 535.345..6 (088.8) (72) Авторы изобретения

Г. Ф..Волкова, В. Н. Антрнчик и В. И. Пашкевич т» l» у;;. »» т»»»,, (7I) Заявитель (54) ПРОСВЕТЛЯЮШЕЕ ПОКРЫТИЕ

Изобретение относится к интерференционным покрытиям и наиболее эффективно может быть использовано для просветления двоякопреломляющих кристаллов с блшой разно ью и — пе/рабающих в б поляризованном свете с вращающейся плоскостью поляризации.

Известны просветляющие покрытия, позволяющие получить коэффициент отражения R(0,1% на заданной длине волны ). или в заданном спектральном интервале длин волн для оптического элемента с показателем преломления; Yl < t,lj, Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является покрытие, содержащее два слоя из веществ с большим тт и меньшим П„, показателями преломления, наружный и внутренний слои ко» торого имеют на дан не волны 30 оптичес- о кие толщины — и z соответственно (2g

Однако такое покрытие имеет два минимума отражения, расположенных симметрично относительно

Выше описанное покрытие позволяет получить на двух длинах волн 1..„и Лп минимальный, равный нулю коэффициент отражения и, таким образом, расширить область низких значений отражений для оп« тического элемента с показателем прелом» ления п . Однако оно не позволяет получить низких и близких по значению коэффициентов отражения оДновременно для двух показателей преломлении двоякопре ломляюшего кристалла.

Цель изобретения - просветляющее покрытие, позволяющее получить минимальный коэффициент отражения Яа 0,2% для обыкновенного и 0 и необыкновенного и показателей преломления двоякопреломляющего кристалла и разность в отражении для них д Rc 0,05%.

Укаэанная цель достигается тем, что слой .прилегающий к подлажке, выполнен с показателем преломления, находящемся в диапазоне 1,94 спой 1,96 и оптической толщиной равной 0,4 Х + 0 01 Л,а другой слой - соответственно с показа866526

1 телем преломления 1,44(O> c 1,4ф и оптической толщиной 0,2 + (0,020,04) Х где Х вЂ” заданная длина волны.

Покрытие было осуществлено на кристалле СаСО> с показателями преломления

A0= 1,487 и ne= 1,661 для длины вол. ны ) = 632,8 нм химическим методом путем образования отдельных слоев из растворов гидролизуюших соединений.

В качестве йсходных материалов для 10 нанесения первого слоя с показателем преломления 1,95 использовалась смесь

15%-ного спиртового раствора этилового эфира ортотитановой кислоты Т1 (ОС Н )4 и 15%-ного спиртового раствора этилового эфира ортокремневой кислоты %(ОС Я )4 слитых в соотношении по объемы 3:2.Для нанесения второго слоя с показателем преломления 1,45 использовался 13%-ный спиртовой раствор этилового эфира ортокремневой кислоты.

Показатель преломления слоя, граничащего с воздухом задавался равным а

= 1,45, а показатель преломления И внутреннего слоя был рассчитан для оптического элемента с показателем преломления n = +" — э - Для кристалла СаСО средЯ ний показатель преломления q< = 1,574.

Нанесение просветляющего покрытия на кристалл осуществлялось на станке для зо просветления, Кристалл в специальной цанге укреплялся на шпинделе станка. При нанесении первого слоя скорость вращения кристалла составляла 5500+ 100 об/мин.

Кристалл с нанесенным первым слоем помешался в термошкаф и подогревался до температуры 350+ 20 С с выдержкой при этой температуре в течение 1 ч, после чего термошкаф отключался и кристалл охлаждался до комнатной температуры. Затем определяли толщину и пока40 затель преломления нанесенной пленки по данным спектрального отражения, измеренного на спектрофотометре с насадкой. Оптическая толщина и показатель преломления пленки должны находиться в пределах 4

253 5 нм и 1,95+ 0,01 соответственно.

После измерений кристалл закрепляется на шпинделе станка и при скорости вра4 щения 5000+100 об/мин наносится второй слой. Кристалл с нанесенным вторым слоем помешался в термошкаф и прогревался до температуры 300+ 20ОС без выдержки при этой температуре. После охлаждения до комнатной температуры про» изводили измерение коэффициентов отражения для пу и пе показателей преломления кристалла. Измерение производили на установке, включающей гелий-неоновый лазер с Х =632,8 нм, поляризатор с вращающейся плоскостью поляризации и при» емное устройство. По данным измерений коэффициент отражения для П,, показателя составил 0,15% для показателя преломления по- 0,16%.

Внедрение предлагаемого просветляющего покрытия, обеспечивающего получение на двоякопреломляюших кристаллах остаточного отражения Я (0,2% для по и и показателей с разностью в отражее нии для них, не превышающей 0,05%, позволяет существенно снизить потери на отражение в кристаллах и применять их в поляризованном свете с вращающейся плоскостью поляризации.

Формула изобретения

Просветляющее покрытие, содержащее два слоя из веществ с большим и меньшим и, показателями преломления, отличающееся тем,что, сцелью уменьшения коэффициента отражения, слой прилегающий к подложке, выполнен с показателем преломлейия, находящемся в диапазоне 1,94 < ng < <1,96 и оптической толщиной равной 0,4 М. + 0,01 Õ,а другой слой - соответственно с показателем преломления 1,446nq (1,46 и оптической толщиной 0,2Л + (0,02-0,04)Я, У где Х - заданная длина волны.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

М 584272, кл. G 02 В 5/28, 1976, 2. Кокс Дж. Т. Сб. Физика тонких пленок. М., "Мир", т. 2, 1967. !

Составитель 3. Лычкова

Редактор Г, Волкова Техред A. Савка Корректор Л. Бокшан

Заказ 8074/69 Тираж 542 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-З5, Раушская наб„д, 4/5

Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул, Проектная, 4