Ультразвуковой способ измерения толщины покрытий изделий

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВ ТБЯЬСТВУ

Союз Советскнк

Социалист нчвскик

Республик

< 11 868351 (61) Дополнительное к авт. саид-ву— (22) Заявлено 020180 (21) 2861747/25-28 с присоединением заявки Йо (23) Приоритет

Опубликовано 3009.81.Бюллетень Нй 36 (5(j . Кл.з

G 01 В 17/02

Госуяарствеиинй комитет

СССР ио ямам. изобретений и открытий (53) УДК 620.179 .16(088,8) Дата опубликования описания 300981

P2) Авторы изобретения

A.Ï.3àñòàâà и A.Â.Håñòåðîâ (71) Заявитель (54) УЛЬТРАЗВУКОВОЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ

ПОКРЫТИЯ ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины защитных покрытий.

Известен ультразвуковой способ измерения толщины покрытий, основан- ный на зависимости затухания поверхностных волн от толщины покрытия 1), Недостатком указанного способа является низкая точность, обуслов.ленная трудностями при измерении толщины покрытия с высоким затуханием.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является ультразвуковой способ измерения. тол- 15 щины покрытий иэделий, заключающийся в том, что устанавливают на иэделие со стороны покрытия излучатель ультразвуковых колебаний, вводят с его помощью в изделие ультразвуковой 20 импульс с широким спектром частот, принимают отраженные сигналы, анализируют спектр эхо-сигналов и ao . изменениям параметров .спектра судят о толщине f2 j. 25

Недостатком известного способа является низкая точность измерения покрытий малой толщины, обусловленная сложностью выделения измеряемой части эхо-сигнала. 30

Цель изобретения — повышение точности измерения покрытий малой толщины.

Поставленная цель достигается тем, что располагают между излучателем ультразвуковых колебаний и покрытием слой материала с волновым сопротивлением, равным отношению квадрата . волновому сопротивлению покрытия к волновому сопротивлению изделия, вЫделяют эхо-сигнал, отраженный от поверхности покрытия, и по первому частотному минимуму огибающей частотного спектра судят о толщине измеряемого покрытия, которую определяют из выражения

С

Д » (1)

41со 9 где d - толщина измеряемого покрытняр

С - скорость распространения ультразвуковых колебаний в измеряемом покрытии, Š— частота первого. минимума энергетического спектра эхо-сигнала, отраженного от поверхности покрытия, ф -. угол распространения ультразвуковых колебаний в контролируемом иэделии.

868351

Формула изобретения

Составитель P.Âoñêàíÿí

Техред А.Бабинец Корректор М.Шароши

Редактор В.Петраш

Заказ 8299/51 Тираж 645

BHHHIlM Государственного комитета по делам изобретений и открытий

113035,. Москва, )К-35, Раушская наб., д.4/5

Подписное

СССР

Филиал.ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проектная,4

Способ осуществляется следующим

6бразом.

В изделии со стороны иэмеряемого покрытия через слой материала с волновым сопротивлением, определяемыч иэ выражения

Z (2) сР Z»p где Z - волновое сопротивление слоя материала, через который вводят в изделие ультразвуковые колебания;

ZÄ- волновое сопротивление покрытия

2ЬА волновое сопротивление изделия, вводят ультразвуковые колебания возбуждаемые коротким импульсом с Широким спектром частот, временным.селектором радиоимпульсов выделяют эхосигнал, отраженный от поверхности пок-. рытия. и по первому частотному миниму- 2О му огибающей энергетического спектра выделенного эхд-сигнала судят о толщине измеряемого покрытия, которую определяют по формуле (1).

Таким образом, предлагаемый способ позволяет точно определять толщину покрытия изделий.

Ультразвуковой способ измерения толщины покрытия изделий, заключающий-З5 ся в том, что устанавливают нд изделие со стороны покрытия излучатель ультразвуковых колебаний, вводят с его помощью в изделие ультразвуковой импульс с широким спектром частот, принимают отраженные сигналы, анализируют спектр эхо-сигналов и по изме" нениям параметров спектра судят о толщине, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения покрытия малой толщины, располагают между излучателем ультразвуковых колебаний и покрытием слой материала с волновым сопротивлением, равным отношению квадрата волнового сопротивления покрытия к волновому сопротивлению иэделия, выделяют.эхосигнал, отраженный от поверхности покрытия, и .по первому частотному минимуму огибающей частотного спектра судят о толщине измеряемого покрытия, которую определяют из выражения д=---------4fcos4 где c(— толщина измеряемого покры- тия,"

С вЂ” скорость распространения

:.ультразвуковых колебаний .в измеряемом .покрытии; частота первого минимума энергетического спектра зхосигнала, отраженного от поверхности покрытия, — угол распространения ультразвуковых колебаний в контролируемом иэделии.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

Р 198691, кл. G 01 В 17/02, 1966.

2. Авторское свидетельство СССР

9 389401, кл. G 01 В 17/02, 1971 (прототип).