Путем проекции образца, например муаровых краев, на объект (G01B11/25)
G01B Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров (измерение размеров человеческого тела, см. соответствующие подклассы, например A41H1, A43D1/02, A61B5/103; измерительные приспособления в сочетании с тростями для прогулок A45B3/08; сортировка по размеру B07; способы и устройства для измерений, специально предназначенные для металлопрокатных станов B21B38; установочные или чертежные инструменты, не предназначенные специально для измерения, B23B49,B23Q15-B23Q17, B43L; оборудование для измерения или калибровки, специально приспособленные для гранения или
(22131) G01B11/25 Путем проекции образца, например муаровых краев, на объект ( G01B11/255 имеет преимущество)(82)
Устройство для обнаружения оптических дефектов деталей конструкционной оптики содержит источник света в виде проектора (1) и экран (7), между которыми размещают деталь конструкционной оптики (6). Проектор (1) включает объектив (5) с заданным фокусным расстоянием и связан с компьютером (3), с помощью которого на экране (7) монитора создают равномерное по освещенности и контрастности фоновое изображение или изображение виртуальной сетки, которое проецируют на экран (7).
Изобретение относится к области определения физико-механических свойств материалов. Для определения радиуса кривизны шейки и минимального диаметра образца при растяжении образец подвергают испытанию с одновременной съемкой процесса нагружения.
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения радиусов кривизны, величины овальности и формы профиля стальных цилиндрических деталей больших диаметров объектов из магнитных материалов или их составных частей.
Изобретение относится к способам анализа поверхностей произвольной формы с использованием значений кривизны локальных областей. Задача изобретения - унификация определения кривизны и радиуса кривизны при исследованиях, близких к сферической форме пластин и структур для проведения сравнительного анализа в рамках одной партии; расширение получаемых данных о кривизне и локальной форме поверхности при подробном исследовании сложной формы пластин и структур за счет расширения номенклатуры получаемых типов кривизны; проведение оценки локальной формы поверхности исходя из знака рассчитанных величин; повышение наглядности и удобства анализа карт поверхности пластин и структур.
Изобретение относится к трехмерным сканерам с обратной связью по сбору данных. Техническим результатом является увеличение эффективности, результативности и удовлетворенности пользователей устройством.
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптико-электронном приборостроении для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей оптических деталей. Голографическое устройство для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей содержит контрольный прибор с монохроматическим точечным источником света, автоколлиматор, установленный с возможностью перемещения вдоль оптической оси, образцовый оптический элемент, установленный по ходу лучей и выполненный в виде осевой отражательной синтезированной голограммы, причем образцовый оптический элемент размещен соосно с автоколлиматором в объектодержателе, который установлен с возможностью перемещения вдоль оптической оси автоколлиматора и механически связан с измерителем линейных перемещений, и чувствительный щуп.
Способ прогнозирования параметров структурированного освещения содержит шаги, на которых используют систему структурированного освещения для захвата первого изображения образца; используют вычислительное устройство для оценки первого значения параметра структурированного освещения с помощью захваченного первого изображения; используют указанную систему структурированного освещения для захвата второго изображения указанного образца; используют вычислительное устройство для оценки второго значения параметра структурированного освещения с помощью захваченного второго изображения; и используют вычислительное устройство для прогнозирования третьего значения параметра структурированного освещения, соответствующего третьему изображению, с помощью по меньшей мере первого или второго значения параметра структурированного освещения.
Способ восстановления формы асферической поверхности оптической детали по параметрам отраженного волнового фронта содержит получение радиуса ближайшей сферы Rз и волнового фронта сферической формы Ws(ρ).
Изобретение относится к оптическим измерительным системам. Устройство измерения радиуса кривизны вогнутой оптической сферической поверхности c разнесенными ветвями содержит точечный источник, оптическую систему измерительной части, включающую светоделительный элемент, датчик волнового фронта.
Изобретение предназначено для определения радиуса кривизны вогнутой оптической сферической поверхности с центральным осевым отверстием при контроле и настройке оптических элементов. Способ измерения радиуса кривизны оптических деталей больших размеров с центральным осевым отверстием содержит установку начального положения центра кривизны измеряемого зеркала любым прибором, позволяющим получить автоколлимационный ход лучей, проходящих через центр кривизны измеряемого зеркала.
Изобретение относится к установке, содержащей печь, и к устройству, а также к способу измерения формы участка стенки коксовой печи. Устройство содержит ящик (20), содержащий основную часть (38), определяющую по меньшей мере одно отверстие (44), и систему (40) закрывания, выполненную с возможностью перемещения относительно основной части (38) между открытым положением и закрытым положением; внутренний защитный экран (80), расположенный внутри ящика и определяющий по меньшей мере одно окно (86А) сканирования, причём окно сканирования является более узким, чем указанное отверстие в поперечном направлении (Т) ящика; и по меньшей мере один трёхмерный (3D) лазерный сканер (21А), расположенный в ящике, для сканирования указанного участка стенки через окно сканирования и через отверстие, когда система закрывания находится в открытом положении.
Изобретение относится к области определения фактических геометрических характеристик гнутых отводов подземных стальных трубопроводов и может быть использовано в нефтегазодобывающей, нефтегазотранспортной промышленности, жилищно-коммунальном хозяйстве и других отраслях, связанных с эксплуатацией подземных трубопроводов.
Изобретение относится к области радионавигации. Техническим результатом является обнаружение препятствий, находящихся в окружающей среде подвижного аппарата.
Способ содержит установку начального положения для эталонного зеркала 1.2 c известным радиусом кривизны Rэт , соответствующего совпадению его центра кривизны с точкой фокуса оптической насадки 2 на оптической оси единого блока, включающего оптическую насадку 2, оптическую систему 3 и датчик волнового фронта 4.
Группа изобретений относится к проекционной технике. Лазерный прибор для проецирования структурированной картины освещения на сцену сформирован из нескольких матриц лазеров VCSEL, причём каждая матрица расположена на отдельном кристалле VCSEL и содержит нерегулярное распределение излучающих областей полупроводниковых лазеров.
Изобретение относится к неразрушающему контролю заготовок. Способ контроля заготовки включает сохранение данных модели, связанных с заготовкой, в систему контроля и определение относительного положения измерителя удаленности по отношению к заготовке.
Группа изобретений относится к медицинской технике, а именно к диагностическим магнитно-резонансным системам. Система для регулирования содержит устройство регулирования рентгеновской визуализации, которая содержит порт ввода для приема данных трехмерного изображения, полученных с помощью датчика при трехмерном наблюдении объекта, причем принятые таким образом данные трехмерного изображения содержат информацию о пространственной глубине, при этом данные трехмерного изображения описывают геометрическую форму объекта в трех измерениях, анализатор данных трехмерного изображения, выполненный с возможностью вычислять по принятым данным трехмерного изображения данные анатомических ориентиров объекта, причем вычисленные данные управления устройством визуализации включают в себя демаркационные данные, определяющие границу окна коллимирования устройства визуализации для области объекта, представляющей интерес, устанавливать из принятых данных трехмерного изображения данные положения анатомических ориентиров объекта, блок управления, причем функционирование устройства рентгеновской визуализации включает в себя операцию коллимирования для рентгеновского пучка, исходящего из рентгеновского источника.
Изобретение может быть использовано для привязки и ориентации на местности при наведении теплового источника излучения на местности. Способ включает формирование первого и второго световых пучков с длинами волн λ1 и λ2 с помощью первого и второго коллиматоров, оптические оси которых образует угол 90°.
Заявленное изобретение относится к разработкам в области измерительных оптических систем и может применяться в системах контроля качества и других областях оптической промышленности. Заявленное устройство определения радиуса кривизны крупногабаритной оптической детали на основе датчика волнового фронта содержит: оптическую насадку 2; оптическую систему 3, состоящую из афокальной системы оптических элементов 3.1, 3.2, светоделительного кубика 3.3 между ними и точечного источника излучения 3.4.
Изобретение относится к области проведения измерений деформаций. В графо-проекционном способе проведения измерений объектов на поверхность исследуемого объекта проектором проецируют растр с заданными в установленном на компьютере программном обеспечении параметрами.
В способе определения расстояния до объекта используется видеоизмерительное устройство, включающее первый излучатель света и второй излучатель света, при этом первый излучатель света может испускать свет через отверстие по меньшей мере с одним тенеобразующим элементом.
Изобретение относится к способам измерительного контроля качества поверхности строительных конструкций. Способ бесконтактного определения кривизны поверхности строительной конструкции включает синхронное измерение с помощью системы закрепленных на общем основании датчиков расстояния, расположенных относительно друг друга под неизменяемым углом, расстояний от каждого из датчиков до своей контрольной точки на пересечении оси датчика с поверхностью конструкции, и передачу полученных данных в блок анализа и обработки информации, в котором производится расчет кривизны.
Изобретение относится к способу бесконтактных измерений геометрических параметров объекта в пространстве. При реализации способа на поверхности объекта выделяют одну и/или более обособленную зону, для которой можно заранее составить несколько разных упрощенных математических параметрических моделей на основании заранее известных геометрических закономерностей исследуемого объекта, характеризующих форму, положение, движение, деформацию.
Способ определения остаточной сферичности отражающей поверхности относится к измерительной технике и может быть использован для определения остаточной сферичности плоских зеркал и радиусов кривизны крупногабаритных сферических зеркал.
Изобретение относится к группе контрольно-измерительных приборов, а именно является устройством для определения начальных геометрических несовершенств стенки цилиндрических резервуаров (вмятин, трещин, овальностей и т.д.).
Способ анализа для получения фазовой информации путем анализа периодической структуры муара содержит этапы: подвергания периодической структуры муара оконному преобразованию Фурье с помощью оконной функции; отделения информации о первом спектре, содержащем фазовую информацию, от информации о втором спектре, наложенной на информацию о первом спектре для получения фазовой информации с использованием аппроксимации каждой из форм первого и второго спектров в форму предварительно заданной функции.
Изобретение относится к методу измерения геометрии профиля цилиндрических тел в качестве измеряемых объектов с использованием метода двухмерного светового сечения, при котором с использованием, по меньшей мере, одного лазера проецируется веерообразная лазерная линия в качестве линии светового сечения на поверхность тела и отраженные от поверхности тела лучи воспринимаются, по меньшей мере, одной камерой для съемки поверхностей, причем лазер и камера расположены под углом триангуляции в нормальной плоскости по линии оси цилиндра.
Устройство содержит источник белого света (1) в виде LED-полоски (40), коллимационный блок (4), блок спектрометра для расщепления луча белого света (30) на луч мультихроматического света (31), направляемый на тестируемое изделие (5) под заданным углом падения, и камеру (3) для записи отраженного луча монохроматического света (32), так что информация о высоте поверхности по оси z тестируемого изделия (5) может извлекаться из значения оттенка отраженного луча (32) при относительном перемещении тестируемого изделия (5) по направлению (9) сканирования по оси x.
Изобретение может быть использовано для определения геометрических несовершенств стенки магистральных трубопроводов (вмятин, трещин, овальностей и т.д.) и напряженно-деформированного состояния трубопроводов.
Изобретение относится к устройствам трехмерного обмера объектов при помощи топометрического способа измерения. Устройство для трехмерного обмера объекта включает первое проекционное устройство, содержащее первый источник инфракрасного излучения для проецирования на объект подвижного первого узора, причем проецируемый узор проявляется на объекте в виде распределения нагревания; по меньшей мере одно съемочное устройство для съемки изображений распределения нагревания, проявляющееся на объекте, в инфракрасной области спектра; а также анализирующее устройство для анализа изображений, снятых съемочным устройством, и определения формы поверхности объекта.
Изобретение относится к группе контрольно-измерительных приборов, а именно, является устройством для определения начальных геометрических несовершенств стенки цилиндрических резервуаров (вмятин, трещин, овальностей и т.д.).
Изобретение относится к способу измерения износа футеровки металлургического плавильного сосуда, например конвертера для плавки стали, посредством лазерного сканера. .
Изобретение относится к области измерения дефектов формы. .
Изобретение относится к области измерительной техники и предназначено для использования с высевающими устройствами. .
Изобретение относится к области технической физики и может быть использовано при контроле параметров профилей сооружений метро, железнодорожных туннелей, трубопроводов, горных выработок и иных объектов.
Изобретение относится к медицине, измерительной технике, медицинской технике, биомедицинской инженерии и может быть использовано для определения формы, размеров, глубины и рельефа поверхности анатомических объектов.
Изобретение относится к области нанотехнологий и наноэлектроники, а более конкретно к сканирующей зондовой микроскопии. .
Изобретение относится к способу бесконтактного динамического определения профиля (Р) твердого тела. .
Изобретение относится к метрологии и может быть использовано для контроля качества готовой продукции, проведения антропометрических измерений в легкой промышленности, медицине, криминалистике, поисковых системах и т.п.
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерферометрии, и может быть использовано для контроля радиуса кривизны оптической поверхности. .
Изобретение относится к измерительной технике, к устройствам для определения формы и перемещений поверхности объекта. .
Изобретение относится к способам оптического контроля деформации поверхности объекта и может быть применено в машиностроении для контроля криволинейности штампованных изделий. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к устройствам для измерения радиуса сферических полированных поверхностей, и может быть использовано при контроле оптических деталей. .
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптико-механическом производстве при технологическом и аттестационном контроле радиусов кривизны сферических поверхностей оптических и механических деталей.
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле формы поверхности шлифованных оптических деталей. .
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения формы поверхности полированных подложек в электронной технике и для контроля оптических элементов. .
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле высокоточных оптических деталей, например пробньлс стекол. .
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптическом приборостроении для контроля формы волновых фронтов и оптических поверхностей . .