С использованием сканирующей туннельной микроскопии (G01N13/12)

G01 Измерение (счет G06M); испытание (233827)

G01N Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D1;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N11; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание (85240)

G01N13 Исследование поверхностных или граничных свойств, например смачивающей способности; исследование диффузионных эффектов; анализ материалов путем определения их поверхностных, граничных и диффузионных эффектов; исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне(739)

G01N13/12 С использованием сканирующей туннельной микроскопии (stm)(3)

Способ определения нанорельефа подложки // 2280853

Изобретение относится к области машиностроения, а более конкретно к способам определения нанорельефа поверхности. .

Способ определения областей с нарушенной кристаллической структурой в материалах с металлической проводимостью // 2239814

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к способам определения областей с нарушенной кристаллической структурой в материалах с металлической проводимостью. .

Способ измерения рельефа поверхности сканирующим зондовым микроскопом // 2175761

Изобретение относится к электронно-измерительной технике и предназначено для использования в зондовом сканирующем устройстве. .