Системы с дифракционными решетками и системы с зонными пластинами (G02B27/44)
G02B27/44 Системы с дифракционными решетками; системы с зонными пластинами ( G02B27/46 имеет преимущество; спектрометрия G01J)(36)
Изобретение относится к области настройки дисперсионных приборов с дифракционными решетками, к способам контроля пространственно-угловых характеристик лазерного излучения. Комплекс, реализующий способ осуществления настройки лазерного компрессора на параллельных дифракционных решетках, состоит из вспомогательного котировочного зеркала, закрепленного параллельно первой решетке на оправе, с возможностью его вбрасывания в оптический тракт; оптического коллиматора с ПЗС камерой, установленного на входе в компрессор; для транспортировки отраженного от решеток излучения и направления его в коллиматор использован комплекс призм из неподвижной реперной призмы, установленной вне зоны распространения рабочего лазерного пучка, и юстировочной многогранной призмы на оправе, с возможностью вбрасывания в оптический тракт в определенное положение; причем углы наклона граней юстировочной призмы определяются углами отражения излучения от дифракционных решеток и вспомогательного юстировочного оптического элемента.
Изобретение относится к радиофизике, а именно к дифракционной квазиоптике. Зонная пластина с субволновой фокусировкой состоит из соосных чередующихся зон, выполненных из диэлектрика с показателем преломления N, с дискретом корректировки фазы, который выбирается из ряда , где М - целое четное число, и фокусным расстоянием не более длины волны используемого излучения, с фазовым профилем зонной пластины, выполненным на большем основании усеченного конуса, с высотой конуса, равной фокусному расстоянию зонной пластины, и сужающегося по направлению к фокусу зонной пластины.
Изобретение относится к области исследования поверхности металлов и полупроводников путем измерения характеристик направляемых ей поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) и может найти применение в сенсорных устройствах, абсорбционных спектрометрах и интерферометрах, использующих в качестве носителя информации поверхностные плазмон-поляритоны (ППП), являющиеся разновидностью ПЭВ.
Изобретение относится к оптическим приборам. Оптический прибор для формирования оптического изображения, предназначенного для наблюдения, содержит оптическую систему для формирования оптического изображения объекта, видимого наблюдателю на выходном зрачке на плоскости наблюдения, и дифракционный элемент, расположенный в плоскости изображения оптической системы и выполненный с возможностью формирования набора выходных зрачков, которые визуально воспринимаются наблюдателем как единый увеличенный выходной зрачок.
Изобретение может быть использовано при изготовлении высокоточных дифракционных оптических элементов (ДОЭ), таких как корректоры волнового фронта (аберраций) и дифракционные эталонные линзы для контроля качества оптических поверхностей интерферометрическим методом.
Изобретение относится к устройствам отображения, в которых используются дифракционные элементы для расширения выходного зрачка дисплея для визуального отображения. .
Изобретение относится к устройствам отображения, в частности к устройствам, обеспечивающим разделение цветов в расширителях выходного зрачка, и может быть использовано в мобильных телефонах, коммуникаторах, карманных компьютерах и других устройствах.
Изобретение относится к оптическому защитному элементу. .
Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно, к способам преобразования поляризации лазерного инфракрасного (ИК) излучения, и может быть использовано для преобразования линейно-поляризованного излучения мощных технологических CO2 лазеров в эллиптически- и циркулярно-поляризованное излучение.
Изобретение относится к лазерной технике и может быть использовано, например, в многоканальных установках для лазерного термоядерного синтеза (ЛТС). .
Изобретение относится к оптике и может быть использовано в оптическом приборостроении, лазерной технологии, применяемой в машиностроении и электронной промышленности, в неразрушающем контроле оптических поверхностей, а также в медицине при контроле роговицы и лазерной хирургии глаза.
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в различных сферах промышленности, например, в металлургической, машиностроительной и текстильной для лазерной маркировки изделий, закалки поверхностей, раскроя тканей.
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для преобразования излучения полупроводникового лазера в пучок с малой расходимостью. .
Изобретение относится к оптике и может быть использовано в установках, предназначенных для освещения или обработки различного рода изделий пучками сконцентрированного лазерного излучения. .
Изобретение относится к оптике и может быть испольэозано в установках, предназначенных для освещения или обработки различного рода изделий пучками сконцентрированного лазерного излучения, Цель изобретения - повышение равномерности распределения интенсивности в фокусируемом прямоугольнике.
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в системах оптической обработки информации для исследования самосветящихся объектов. .
Изобретение относится к оптическим приборам и может быть использовано для фокусировки полихроматического излучения в область пространства заданной формы. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике контроля и может быть использовано при литографической обработке изделий для контроля топологических структур на фотошаблонах и пластинах в процессе их формирования.
Изобретение относится к области оптического приборостроения. .
Изобретение относится к оптике и измерительной технике, в частности к устройствам первичных преобразователей на дифракционных решетках, использующих муаровые и интерференционные полосы для отсчета перемещений.
Изобретение относится к технической физике и может быть использовано в составе растровых спектрометров для проведения точных измерений в широком спектральном диапазоне. .
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля формы поверхности вогнутых сферических зерг кал низкой точности. .
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для передачи оптических сигналов и построения многократных изображений с высоким качеством . .
Изобретение относится к оптическому приборостроению и позволяет .увеличить полезное поле изображения с одновременным улучшением хроматической коррекции. .