Источники электронов, например для генерирования фотоэлектронов, вторичных электронов или электронов оже (H01J49/08)
H Электричество(232322)
H01J Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы (искровые разрядники H01T; дуговые лампы с расходуемыми электродами H05B; ускорители элементарных частиц H05H)
(10498)
H01J49 Спектрометры элементарных частиц или разделительные трубки (для измерения давления газа H01J41/10)
(678)
H01J49/08 Источники электронов, например для генерирования фотоэлектронов, вторичных электронов или электронов оже(10)
Изобретение относится к исследованию и анализу веществ и соединений путем измерения их физических свойств с использованием метода масс-спектрометрии. Способ ионизации вещества электронами при работе на масс-спектрометре заключается в том, что ионизацию производят электронами с изменяемой энергией ионизации, для этого на катод масс-спектрометра подают переменное напряжение от 0 до 10 В с частотой от 5 до 50000 Гц, в результате чего получают и регистрируют отрицательные ионы, образованные при различных энергиях резонанса.
Изобретение относится к исследованию макромолекул для определения массы макромолекул, включая белки, большие пептиды, длинные ДНК-фрагменты и полимеры. .
Способ получения электронного пучка // 2113033
Изобретение относится к области генерирования пучков ускоренных заряженных частиц и может быть использовано в квантовой электронике, плазмохимии и т.п. .
Вторично-ионный масс-спектрометр // 2012089
Изобретение относится к экспериментальной физике, предназначено для анализа поверхности твердого тела и позволяет расширить функциональные возможности прибора посредством дополнительной регистрации оптического излучения, возникающего при взаимодействии первичного ионного пучка с поверхностью образца.
Способ получения электронного пучка // 1799194
Изобретение относится к электронике и может быть использовано в электронике и смежных отраслях. .
Изобретение относится к лазерной масс-спектрометрии и может быть использовано для многоэлементного анализа вещества . .
Высокотемпературная ячейка // 1718299
Изобретение относится к технике высокотемпературных исследований и может быть использовано в масс-спектрометрии, электронной спектрометрии и других:областях экспериментальной техники. .
Изобретение относится к массспектрометрия. .
Масс-спектрометр для газового анализа // 1690023
Изобретение относится к приборостроению , в частности к масс-спектрометрии, и может быть использовано для контроля процессов , протекающих с выделением газовой / / V фазы. .
Способ получения электронного пучка // 820511
