С использованием двойной фокусировки (H01J49/32)
H Электричество(232322)
H01J Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы (искровые разрядники H01T; дуговые лампы с расходуемыми электродами H05B; ускорители элементарных частиц H05H)
(10498)
H01J49 Спектрометры элементарных частиц или разделительные трубки (для измерения давления газа H01J41/10)
(678)
H01J49/32 С использованием двойной фокусировки(20)
Способ масс-анализа ионов в квадрупольных полях с возбуждением колебаний на границы устойчивости // 2740604
Изобретение относится к области масс-анализа вещества в квадрупольных ВЧ полях и направлено на совершенствование аналитических и коммерческих характеристик масс-спектрометров с резонансным выводом ионов.
Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано для улучшения аналитических, эксплуатационных и коммерческих характеристик приборов микроанализа вещества, использующих свойства траекторий движения ионов в электрических полях.
Изобретение относится к области масс-спектрометрического анализа вещества и может быть использовано для улучшения аналитических и коммерческих характеристик линейных ионных ловушек с резонансным возбуждением ионов.
Изобретение относится к области масс-спектрометрического анализа вещества и может быть использовано для улучшения конструктивных и коммерческих параметров ионных ловушек с дипольным возбуждением ионов.
Изобретение относится к области пространственно-временной фокусировки и масс-анализа заряженных частиц по времени пролета в двумерных линейных высокочастотных электрических полях и может быть использовано для улучшения аналитических характеристик приборов микроанализа вещества, использующих ионно-оптические системы с планарными дискретными электродами.
Изобретение относится к области масс-анализа вещества высокого разрешения и может быть использовано для улучшения аналитических и коммерческих характеристик масс-спектрометрических приборов с преобразованием Фурье.
Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано для расширения аналитических возможностей масс-анализаторов времяпролетного типа. Технический результат - повышение чувствительности и расширение динамического диапазона времяпролетных масс-спектрометров путем увеличения средних значений токов анализируемых ионов.
Изобретение относится к области анализа заряженных частиц. Масс-спектрометр содержит камеру, инжектор, способный инжектировать в камеру заряженные частицы, и генератор поля.
Изобретение относится к области масс-анализа заряженных частиц в линейных электрических ВЧ полях и может быть использовано для улучшения конструкторско-технологических и коммерческих характеристик радиочастотных времяпролетных масс-спектрометров.
Изобретение относится к области спектрометрии, а точнее к статистическим масс-спектрометрам, и может быть использовано при создании портативных приборов для изучения химического и изотопного состава газообразных жидких и твердых веществ.
Энергомасс-спектрометр вторичных ионов // 2020645
Изобретение относится к диагностике поверхности ионными пучками низких энергий (1 - 10 кэВ), в частности к энергомасс-спектрометрии вторичных ионов - интенсивно разрабатываемому в настоящее время методу элементного, фазового и химического анализа поверхности твердых тел.
Масс-спектрометр // 1600645
Масс-спектрометр с фокусировкой по энергии // 1438522
Энерго-массанализатор // 1265890
Изобретение относится к физическому приборостроению, в частности к ;устройствам для анализа ионов и электронов и может быть использовано при анализе поверхностных слоев материала . .
Масс-спектрометр // 1091257
Масс-спектрометр // 1061193
Масс-спектрометр с тройной фокусировкой // 1014068
Призменный масс-спектрометр // 995156
Масс-спектрометр // 993362
Призменный масс-спектрометр // 974458
Призменный магнитный масс-спектрометр // 723980
