Прибор для измерения жесткости рентгеновых лучей

 

¹» 57бО

Класс 21 g, 18

ПАТЕНТ HA ИЗОБРЕТЕНИЕ

ОПИСАНИЕ прибора для измерения жесткости рентгеновых лучей.

К патенту И. А. Орлова, ваявленнопу 5 января 1927 года (заяв. свид. ЛЬ 13255).

0 выдаче патента опубликовано ЗО июня 1928 года. Действие патента распространяется на 15 лет от 80 пюпя 1928 года.

Предлагаемый прибор для изме- (на расстоянии наилучшей видирения жесткости основан на законе, мости), небольшое отверстие 1 для освещения, по которому количество зрачка наблюдателя, который, таким лучистой энергии, падающей на еди- образом, может одновременно видеть ницу площади, пропорционально через диафрагму под одинаковым косинусу угла падения., углом две половины флуоресцируюНа фиг. 1 и 3 схематического чер- щего кружка, образуемого наклонтежа изображены разные формы ными поверхностями экрана. От выполнения предлагаемого прибора обратных (тыльных) сторон экранов и на фиг. 2 — передвижная ступен- отходит вторая, неподвижно соедичатая пластинка. ненная с визирной, трубка, через

В приборе с постоянным углом которую направляются рентгеновы падения (фиг, 1) небольшой, эллип- лучи L на экраны. Ось осветительтической формы флуоресцирующий ной трубки перпендикулярна к плоэкран согнут по короткой оси эллип- скости флуоресцирующего экрана са таким образом, что оба экрана с, и, следовательно, ооразует с перс, и с. образуют некоторый неиз- пендикулчром, восстановленным к меняемый двугранный угол, напри- другому экрану се, постоянный угол мер в 120, и укреплены на соот-, в, равный дополнительному углу ветствующим образом вырезанном, до 180 к углу, образованному плоконце цилиндрической визирной скостями экранов. При двугранном трубки О, ось которой проходит угле в 120,;. = — 60, а оси обеих через ребро двугранного угла сим- . трубок составляют между собой метрично обеим плоскостям экранов. угол в 150.

В визирной трубке, недалеко от При измерениях ось осветительэкранов, помещается круглая диа- ной трубки направляется на антифрагма d d, а на другом конце катодтрубкирентгена.Яркостьфлуооси А и N, поворот визира связан с поворотом подвижного экрана таким образом, что ось визира всегда остается в плоскости, делящей угол между экранами пополам, и наблюдатель всегда видит через круглую диафрагму d — d, помещенную в ресценции обеих половин кружка, видимого наблюдателю, будет относиться, как 1: cos . При угле между поверхностями экранов в 120 это отношение яркостей будет равно

1: 0,5.

В пазу прореза, находящегося перед тем экраном, на которыи рентгеновы лучи падают нормально, можно последовательно продвигать от руки или при помощи кремальеры ступенчатую пластинку S изображенную отдельно на фиг, 2), изготоконце визира, полукружки от обоих экранов одновременно под одинаковым углом зрения и может, поворачивая визир, привести их к одинаковой степени яркости флуоресценции.

Указатель, соединенный с рычагом ИС и подвижным экраном, дает на круговой шкале прибора непосредственно в о/оо/о меру ослабления данного и чка рентгеновых л чей в вленную из вещества, не обладающего специфическим поглощением в пределах применяемых длин волн, например, из бакелита или алюминия. П и некото ой толщине такого р р У У фильтра (слой половинного погло-, заслоняющей неподвижный экран щения)яркость обеих половин круж-, пластинке бакелита или алюминия, ка сделается одинаковой, и тол-, или — при косинусной шкале — о/ прощина найденной ступени будет слу-; шедшей энергии, пропорциональжить об ективным указанием степени . ный косинусу угла падения. жесткости посылаемого трубкой излучения. Предмет патента.

В приборе (фиг. 3) с постоянной толщиной ослабляющей пластинки S 1. Прибор для измерения жести переменным углом падения лу- кости рентгеновых лучей, в котором чей — обе трубки, осветительная для применены два флуоресцирующих лучей Е и визирная О, сочленяются, экрана, на пути лучей к одному из при помощи цилиндрической дву- . коих, с целью выравнивания свечестенной коробки К вЂ” К, допускаю- ния обоих экранов, помещена соотщей вращение визирной трубки О ветствующей толщины поглощаювокруг оси N, перпендикулярной, щая лучи пластинка, характеризуюк плоскости, в которой расположены; щаяся тем, что флуоресцирующий обе трубки, Оси последних пересе- экран С,, на который падают ренткаются на этой оси вращения. В сое- геновы лучи непосредственно, помединительной коробке на дне непод- щен наклонно к падающим на него вижно прикреплен флуоресцирую- лучам, а экран С„на который пащий экран с„закрытый с тыльной, дают лучи, прошедшие через слой стороны пластинкой бакелита или l Sпоглощающего их вещества,,расалюминия S и расположенный пер- положен нормально к падающим пендикулярно к оси осветителя та-, на него ppHTIpHOBbIM лучам (фиг. ким образом, что его край совпа- 1 и 3). дает с осью вращения N визира. 2. Форма выполнения охарактеВплотную к этому экрану прилегает ризованного в п. 1 прибора, отликрай другого такого же экрана с>, чающаяся тем, что угол наклона укрепленного на шарнирах и могу- экрана C к падающим на него щего вращаться около оси, совпа- рентгеновым лучам L остается недающей с осью вращения визир- изменным и для выравнивания свеной трубы и краем неподвижного . чения обоих флуоресцирующих экэкрана. ранов применена расположенная

При помощи шарнирной системы перед экраном С, передвижная стурычагов, показанной на фиг. 3 пунк-, пенчатая пластинка S из вещества, тиром и имеющей две неподвижных I не обладающего специфическим поЙ E. С. т; 10-тп.тографпя «крвсный т?вчатнпк», ленпнгрнд. хеждупарсд ый, 75. глощением в пределах применяемых длин волн, например, из бакелита или алюминия (фиг. 1 и 2).

3. Форма выполнения охарактеризованного в и. 1 прибора, отличающаяся тем, что экран C устроен поворотным вокруг оси N, с целью выравнивания свечения обоих флуоресцирующих экранов, при неизменной толщине пластинки S из вещества, не обладающего специфиче, ским поглощением в пределах применяемых длин волн, например, из бакелита или алюминия (фиг. 3).

Прибор для измерения жесткости рентгеновых лучей Прибор для измерения жесткости рентгеновых лучей Прибор для измерения жесткости рентгеновых лучей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области экспериментальной ядерной физики и предназначено для стабилизации коэффициента усиления сцинтилляционного спектрометра гамма-излучения

Изобретение относится к ядерной электронике и может быть использовано в рентгеновских спектрометрах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для изучения спектрального состава рентгеновского излучения

Изобретение относится к области радиоэкологического мониторинга, может быть использовано для измерения содержания радионуклидов в различных компонентах окружающей среды при обработке результатов измерений в комплексе аппаратно-программных средств, позволяющих оперировать с большими массивами радиоэкологической информации
Наверх