Прибор для определения толщины слоя немагнитного материала

 

X" 101044

Класс 42Ь, 12к

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

И. М. Гольдфарб

ПРИБОР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЯ НЕМАГНИТНО1 О

МАТЕРИАЛА

Заявлено 20 января 1953 г. за ¹ 4708, 450246 в Министерство про ::я.илениес-.:. строительньис материалов СССР

Известные приборы для определения толщины слоя немагнитного материала, состоящие из двух магнитог, и расположенной между нейтральнымп частями магнитов рамки, питаемой постоянным током, не могут быть использованы непосредственно для измерения толщины защитных слоев бетона до арматуры, так как эти слои имеют сравнительно большие электрические сопротивления.

С целью устранения этого недостатка предлагаемый прибор выполнен в виде разомкнутых магнитов без магнитопровода и без полюсных наконечников (с большим магнитным рассеиванием) .

На фиг. 1 показана схема предлагаемого прибора; на фиг. 2 и 3— вид магнитных полей в предлагаемом приборе, обеспечивающем измерение толщины защитных слоев бетона до арматуры.

В известных приоорах поворотная рамка расположена между магнитами в области, где напряженность поля pawn нулю при идентичности магнитов.

Вследствие применения магнитопроводов с полюсными наконечниками точка, в которой равнодействующая напряженность равна нулю, находится всегда в определенном место — и центре цилиндра, образованного полюсными наконечниками.

Предлагаемый прибор состоит из поворотной рамки 1, питаемой постоянным током, и двух одинаковых постоянных магнитов 2 и 8, не имеющих магнитопровода и полюсных наконечников (с большим магнитным рассеиванием) .

Отсутствие магнитопроводов и полюсных наконечников в приборе является необходимым условием, обеспечивающим высокую чувствительность и возможность применения прибора для измерения толп-.ины слоя бегона до арматуры.

На фиг. 2 и 3 пока" àí вид магнитного поля магнитов 2 и 8. Линия 4-4 и о-5 — эквипотенциальные линии; в точке 0 пересечения этих линий результирующая напряженности поля равна нулю. При приближении к торцам магнитов железа 6 íà расстояние 1 картина поля меняется: точка 0 с нулевой напряженностью перемещается вдоль линии 4-4.

Таким образом. из-за отсутс-.вия магнитспроводов точка 0 с нулевой напряженностью не неподвижна, а геремещается вдоль линии 4-4 ь зависимости от l.

Рамка 1 пронизывается разностью магнитных потоков только прп одном

Поедмст изобпетения с1 иг. 1

Фиг. 3

Фиг. 2

Ств-. всдактс Г И В. Макаров ,,1:- 7!5 от 2Р,!Х 1955 и. Стаиаартги . О л;с О.125 и. си !ира;и 411п

Be н а 25 кои. ии сс::Ьии иза-ии «Московскиii !!D;i,! Hi ., 1!отаиовский иср., 3. Зик. !535

3HB !.:-HHø l. При всес друпг; зна»сниях i. Оазно;ть маГнитных потоков не iроиизы ",". Оа. !!л.! з:!бор для определения толщ;!ны слс:-!Са агни-.:"ого мате1зиала, сосгоHL 11 11з два . аl !Гиитов 11 распо. 10гк 1оп I.ге к.!м 11еЙтральи ым и 13cTHми маг:штов поворотной рамки. питаемой постоянным током, о т л ич а го щ л и с я тем, что, с цег!ыо осу!цествления измерени1! бог!Ьшик толщин, иап1эиме13, Голщин зси цитного слоя бетона до; рматуры, он выполнен з виде разомкнутьг, магнитов без м а г штоп: овода: без 1!о;носи ых и а K 0 I f t "÷ í H å 0 H (с б О. l !"Н1 и ъ! с! Г н11тиь;: рассеиз! H!l ".,I) .

Прибор для определения толщины слоя немагнитного материала Прибор для определения толщины слоя немагнитного материала 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх