Устройство для контроля толщины стеклянной ленты

 

5333

Класс 42b, 12m

СССР

11 1ó

1 °

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

М, А. Берлинер

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ СТЕКЛЯННОЙ

ЛЕНТЫ

Заявлено 10 апреля 1950 г. Яа М 1971/416107 в Гостехнпку СССР

Предложение относится к устройствам для контроля толщины стеклянной ленты, основанным на измерении емкости конденсатора, между Обк.!ядкями которого непрерывно движется;Iен 1 а.

Известные устройства подобного рода обладают тем недостатком, что на точность измерения оказывают влияние неровности и утолщения на краях ленты.

В описываемом устройстве этот недостаток устранен тем, что обкладки конденсатора выполнены по ширине меньшими, чем ширина ленты. Вследствие этого обкладки не доходят до краев стекляннои ленты, и имеющиеся»а краях ленты утолщения не влияют на

ТОЧНОСТЬ ИЗМСРЕНИЯ.

На фиг. 1 схематически изображено предлагаемое устройсгво для контроля толщины стеклянной лепты по ее длине; па фпг. 2— устройство для контроля толщины ленты по ее ширине.

Стеклянная лента 1 движется между двумя расположенными параллельно сй IPTB.I. Iè÷ecêèìè Обкладками 2 к011денсатора, пме10щими ширину меныпую, чем ширина стеклянной ленты. Благо IBpH этому, края ленты выступают за пределы обкладок, и имеющиеся на них утолщения не влияют на показа!пня конденсатора.

Края обкладок по длине облицованы изоляционным материалом ЗИ4.

Одна из обкладок не связана жестко с остальными деталями конденсатора, а лишь прижимается к ним посредством пруж1ш 5.

Если лента содержит утолщения, они, проходя через конденсатор, раздвинут пластины конденсатора, что повлечет зя собой резкое уменьшение его емкости. Емкость конденсатора резко уменьшится также в слу IBe обрыва ленты.

0 толщине стеклянной ленты, непрерывно движущейся между обкладками конденсатора, судят по емкости конденсатора, которая измеряется с помощью измерительного поибора, отградуированного

М 95833 на толщину или ширину лепты и включен-1oго в любую из известных схем для измерения емкости. конденсатор, пзображеннь;н на фиг. 1, позволяет обмерить среднюю толщину ленты .,о ее длине в области обкладок 2.

8 практических условиях представляет интерес равномерность толщины ленты и по ее ширине. Конструкция конденсатора для контроля отдельных участков ленты изображена на ф. г. 2.

В этом случае обкладки конденсатора выполнены в виде двух одинаковых цилиндрических роликов 6, металлических или с металлизированной поверхностью. Лен га l стекла проходит через зазор между цилиндрическими поверхностями валиков, прижимаемых к ней пружинами или грузами. Если установить также одинаковые датчики в различных точках по ширине ленты (например, в середине и у обоих краев), то путем сравнения результатов измерения емкости конденсатор позволнг определять относительную толщину ленты в этих точках.

П р едм ет изобретения

ЕГ2Зметалл ЧБЕЗозоляц.матер аале стекло

Фиг. 1

>uZ

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Редактор P. Б. Кауфман

Подп к печ оМ1-1959 г

Тираж 360. Цена 25 коп.

Информационно-издательский отдел.

Объем 0,17 п. л. Заказ 3927.

Гор. Алатырь, типография № 2 Министерства культуры Чувашской АССР»

Устройство для контроля толщины стеклянной ленты, основанное на измерении емкости электрического конденсатора, между обкладками которого непрерывно движется лента, отличающееся тем, что, с целью устранения влияния неровностей и утолщений на краях контролируемой ленты на точность измерений обкладки кон.денсатора выполнены по ширине меньшими, чем ширина ленты.

Устройство для контроля толщины стеклянной ленты Устройство для контроля толщины стеклянной ленты 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх