Оптический узкополосный фильтр для поверки фотометрического анализатора в проходящем свете

 

ОИТИЧЁСКЙЙ У31 0ПОЛОСНЫЙ ФИЛЬТР для ПОВЕРКИ ФОТОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗАТОРА В ПРОХОДЯЩЕМ СВЕТЕ, С lepжащий подложку с нанесенным на не интерференционным покрытием из чередующихся слоев с высоким и низким показателями преломления, отличающийся тем, что, с модулирования полосы поглощения вещества с максимумом на заданной длине волны Лц и упрощения конструкции, покрытие выполнено из пяти слоев, а отношение оптических толщин первых четырех, считая от подложки, слоев выбрано равным .0,52; 0,52; 1,04; АО , а оптическая толщина пятого управ;1яющего слоя составляет 0,45-0,58 Яд, причем слой, прилегающий к подложке, выполнен из веществу с высоким показателем преломления . Ф

. СОЮЗ СОВЕТСНИХ

ОЯЛВЪЮ

PECrIVSJIHH

Здр С 02 В 5/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Й АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

9ВВ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ ЕССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЬП. ИЙ

< (21) 2942105/18-10 (22) 30.04.80 (46) 30 .04.83 ° Ью . И 16 (72) Г. Ш. Батыршин, A. Ф. Кудряв-. цев, Jl. А. Кирюхина, Л. Г. Гросс и

И. Д, Грачев (53) 535.345.6(088.8) (56) 1. Патент Великобритании и 15ll418, кл. G I А, опублик.17.05.79 .

2. Патент США М 3911023, кл. 35О-164, опублик, -28.01.75 (прототип) . (54) (57) ОПТИЧЕСКИЙ У31 0ПОЛОСНЫЙ

ФИЛЬТР ДЛЯ ПОВЕРКИ ФОТОМЕТРИЧЕСКОГО

АНАЛИЗАТОРА В ПРОХОДЯЩЕМ СВЕТЕ, с,ержащий подложку с нанесенным на не

„SU„„) 015325 А интерференционным покрытием из чередующихся слоев с высоким и низким по. казателями преломления, о т л и ч аю шийся тем, что, с цел о модулирования полосы поглощения вещества с максимумом на заданной длине волны Ло и упрощения конструкции, покрытие выполнено из пяти слоев, а отношение оптических толщин первых четырех, считая от подложки, слоев выбрано равным,0,52; 0,52; I 04;

0,52 Ао, а оптическая толщина пятого управляющего слоя составляет

0,45-0,58 h О, причем слой., прилегающий к подложке, выполнен из вещества, с высоким показателем прелом- g ления.

1 1015325 . 1

Изобретение относится к интерференционным тонкослойным оптическим системам и может быть применено, в частности, при изготовлении поверочных устройств для промышленных фото- 5 метрических анализаторов, Известен оптический фильтр, состоящий иэ подложки и системы чередующихся слоев веществ с высоким и низким показателями преломления и предназначенный для периодической поверки фотометрического анализатора(1 ).

Однако кривая пропускания этого фильтра совпадает с функцией пропускания анализируемого материала лишь в 15 двух точках спектрального диапазо- на, что не позволяет осуществлять поверку фотометрических анализаторов с числом длин волн, превышающим два., Наиболее близким к изобретению. 20 по технической сущности является оптический фильтр, содержащий подлож. ку с нанесенным на нее интерференционным покрытием из чередующихся слоев с высоким и низким показа- 25 телями преломления (21.

Недостатками известного оптического фильтра являются необходимость подбора веществ, имеющих полосы поглощения, аналогичные модели. ЗО руемым,. невозможность получения узкой полосы поглощения и сложность конструкции.

Цель изобретения — моделирование полосы поглощения вещества с максимумом на заданной длине волны 3 и упрощение конструкции фильтра, Поставленная цель достигается тем, что в оптическом узкополосном фильтре для поверки фотометри- 4р ческого анализатора в проходящем свете, содержащем подложку с нанесенным на нее интерференционным покрытием из чередующихся слоев с высоким и низким показателями

45 преломления, покрытие выполнено из пяти слоев, а отношение оптических толщин первых четырех, считая от подложки, слоев выбрано равным

0,53; 0,52; 1,04; 0,52 Ло, а оптическая толщина пятого управляющего слоя составляет 0,45-0,58Л„, причем слой, прилегающий к подложке, " выполнен из вещества с высоким показателем преломления.

Необходимая глубина полосы поглощения вещества с максимумом на заданной длине волны Лодостигается введением пятого управляющего слоя, оптическая .толщина которого варьируется в пределах 0,45-0, 58Ë„.

На фиг. 1 представлена схема фильтра; на фиг. 2 - графики спектраль-, ной зависимости коэффициента пропускания оптического .фильтра, моделирующего комбинационную полосу поглощения воды на Д =1,93 мкм от длины волны.

Фильтр состоит из подложки 1 и интерференционного покрытия 2.

На- фиг. 2 изображены кривая цспектральная характеристика фильтра, у: которого оптическая толщина управляющего слоя составляет 0,493 а ОТ=104,и кривая б - спектральная характеристика фильтра с оптической толщиной управляющего слоя 0,543 и

hT =20i, где

Интерференционное покрытие йанесено на подложку с показателем преломления n=1 5, причем первый, третий и пятый слои покрытия выполнены из вещества с высоким показателем преломления и =2,5, а второй и четвертый слои - из вещества с низким показателем преломления и 1,4

Использование указанных веществ позволяет улучшить спектральные характеристики предлагаемого оптического фильтра, моделирующего комбинационную полосу поглощения воды.

Предлагаемый фильтр позволяет просто и эффективно осуществлять периодическую поверку промышленных трехволновых фотометрически», анализатоpos, работающих на пропускание, и тем самым повысить их метрологическую надежность, l 0 l 5325

1, Фиг.2

Составител ь И . Осташенко

Техред Л.Пекарь . Корректор М. Коста

Редактор А. Огар

Подписное

Филиал ППП "Щтент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Заказ 3205/43: Тираж 5ll

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

ll3035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5