Способ спектрального определения микроэлементов

 

№ 12629!

Класс 42с, Зов

42с, Зот

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ЛВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Л. E. Гвирцман

СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ

МИКРОЭЛЕМЕНТОВ

Заявлено 24 декабря 1958 г. за № 614912/31 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 4 за 1960 r.

Известные способы спектрального определения микроэлементов для повышения чувствительности анализа требуют упаривания, высушивания и озоления более или менее значительных биологических навесок.

На это уходит много времени, навески загрязняются и теряется часть минеральных веществ.

Предлагаемый способ не имеет указанных недостатков, позволяет ускорить и повысить чувствительность анализов.

Для этого концентрирование исследуемого вещества производят в угольном тигле-электроде, снабженном центральным стержнем, помещаемы м между угольными электрода м и.

Тигель-электрод 1 (см. чертеж) с центральным стержнем 2 имеет тонкие стенки и изготавливается из мягких сортов угля с помощью фигурной фрезы. Он помещается между угольными электродами 3 и 4.

Тигель-электрод 1 имеет емкость до 0,2,ял с тем, чтобы все манипуляции с биосредами (высушивание, озоление, ооработка кислотами) могли производиться в том же тигле, в котором потом навеска сжигается в вольтовой дуге. Для снижения теплоотдачи сжигаемой навески окружающим предметам угольный тигель-электрод 1, заполненный биосредами, устанавливается на очень тонком графитовом стержне, защищенном от быстрого сгорания углублением на нижнем угольном электроде 4 или фиксируется между электродами 8 и 4 с помощью тонких термо- и электроизолирующих алундовых трубок 5.

Укрепленный между угольными электродами угольный тигель-электрод 1 равномерно прогревается и испарение в нем микроэлементов биосред происходит за несколько секунд. При этом дуга горит:преимущественно не за счет угля, а в связи с испарением более легколетуPfo },Я т2Я1 чих элементов, что значительно снижает фон на спектрограмме. Это обстоятельство наряду с уменьшением общей экспозиции позволяет в диафрагме трехконденсатной системы ИСП-28 вместо объектива с

F = 150 мм использовать кварцевые объективы с F = 75 — 50 мм, которые уменьшают световое пятно на щели ИСП-28 до размера 9-ого ступенчатого ослабителя и менее.

Предмет изобретения

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Редактор А. К. Лейкина Гр. 166

Поди. к печ. 6.11-60 г.

Тираж 610 Цена 25 коп.

Информационно-издательский отдел.

Объем 0,17 п. л. Зак. 1106

Типография Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Петровка, 14.

Способ спектрального определения микроэлементов, о т л и ч а ющийся тем, что, в целях ускорения и повышения чувствительности анализов, производят концейтрировапие исследуемого вещества в угольном тигле-электроде с центральным стержнем, помешаемым между угольными электродами.

Способ спектрального определения микроэлементов Способ спектрального определения микроэлементов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области физической органической химии, к разделу спектрофотометрии растворов, находящихся при повышенном давлении, и используется для научных исследований

Изобретение относится к измерительному устройству (14), содержащему датчик (16) для определения, по меньшей мере, одного компонента и/или, по меньшей мере, одного из свойств материала (4), причем датчик (16) содержит, по меньшей мере, один источник (18) освещения, который направляет, по меньшей мере, один световой луч (20) на подлежащий исследованию материал (4), а измерительное устройство (14) содержит, по меньшей мере, один эталонный объект (34, 32, 33) для калибровки измерительного устройства (14), при этом часть светового луча (20) источника (18) освещения отклоняется на эталонный объект (34, 32, 33) так, что устраняется необходимость в попеременном переходе с исследуемого материала на эталонный объект
Наверх