Термокомпенсационная призма для рефрактометров

 

,М 128171

Класс 42h, 36

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

А. И. Стожаров

ТЕРМОКОМПЕНСАЦИОННАЯ ПРИЗМА ДЛЯ РЕФРАКТОМЕТРОВ

:заявлено 26 августа 1959 г. за Ме 637350/26 в Коко)тет по делам нзобрепн))й и открытий I)pl) Совете .т1нниетров Г(:(Р

Опубли))ковано в «Бкзллетене изобретена)н» X" и за 1960 г.

Точносз ь H HÎ T)! b!x тор v10K0), пс (c ) ц;)онных ст))ойсз в ог )аничивается чувствительностью показателя преломления жидкостей к изменениям температуры, Для автоматической компенсации изменений в показаниях рефрактометра, вызываемых изменениями температуры исследуемых жидкостей, предложена двойная термокомпенсационная призма, в которой один из компонентов выполнен полым и наполненным водой, что позволяет скомпенсировать перепад температуры в пределах до 10 .

Подбор параметров показателя преломления жидкости в призме позволяет пропускать луч света через нее прн задан)юй температуре без прсломлс ния и при изменении температуры задать необходимое расчетное отклонение луча, чем и компенсировать отклонение луча, даьаемое изменением показателя преломления при изменении температуры исследуемой жидкостьк). Расчет призм производится методом геометрической оптики.

Предмет изобретения

Термокомненсационная призма для рсфрактомстров, состоящая из нескольких компонентов, от л ич а к) щ 1 яс я тем, что один из коMTlo нснтов выполнен полым, наполненным водой,

Термокомпенсационная призма для рефрактометров 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам и устройствам для определения показателя преломления окружающей среды, находящейся в жидкой или газовой фазе, по изменению характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ)

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам определения оптических параметров (показателя преломления, показателя поглощения и толщины) проводящих образцов по значениям характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) и может быть использовано в металлооптике, при производстве металлодиэлектрических волноведущих структур, металлических зеркал и подложек, а также в других областях науки и техники

Изобретение относится к аналитическому приборостроению, в частности к способам осуществления массообменных процессов с применением оптоволоконных химических датчиков

Изобретение относится к области технической физики, а точнее, к рефрактометрическим приборам, предназначенным для измерения показателя преломления и других связанных с ним параметров твердых и жидких сред

Изобретение относится к области передачи и получения информации посредством поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) терагерцового (ТГц) диапазона (частота от 0,1 до 10 ТГц) и может найти применение в спектроскопии поверхности твердого тела, в электронно-оптических устройствах передачи и обработки информации, в инфракрасной (ИК) технике

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к, микроэлектронным датчикам - химическим и биосенсорам, предназначенным для одновременных акустических на поверхностно-акустических волнах (ПАВ) и оптических исследований физико-химических и (или) медико-биологических свойств тонких порядка 0.1 мкм (100 нм) и менее нанопленок

Изобретение относится к спектрофотометрии и может быть использовано для исследования пространственного распределения комплексного показателя преломления по поверхности сильно поглощающих материалов

Изобретение относится к модуляционным способам спектральных измерений, в частности оптических постоянных, и предназначено для определения параметров поверхности и слоев тонких пленок, например, полупроводниковых гетероструктур
Наверх