Ослабитель оптического излучения

 

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН (!9) (11) А!

51) 4

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ

H ABT0PCH0IVIY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3697866/24-25 (22) 03.02.84 (46) 07.01.86. Бюл. ¹ 1 (72) В.В. Ильин, В.А. Болдырев, В.Н. Пожарский и В.Б. Чернетенко (53) 535 .24 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 960542, кл. G 01 J 1/04, 1977.

Импульсная фотометрия. /Под ред.

А.А. Волькенштейна. Л.: Машиностроение, 1981, с. 26. (54) (57) ОСЛАБИТЕЛЬ ОПТИЧЕСКОГО

ИЗЛУЧЕНИЯ, выполненный в виде фотометрического шара с отверстиями, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения коэффициента ослабления в расширенном динамическом диапазоне при неизменном спектральном составе излучения, ослабитель содержит по крайней мере один дополнительный фотометрический шар, причем фотометрические шары установлены последовательно на оси, проходящей через центры их входных и выходных отверстий так,что плоскость выходного отверстия каждого иэ шаров совпадает с плоскостью входного отверстия последующего шара, а последний шар выполнен разъемным из двух полусфер с возможностью перемещения второй полусферы вдоль укаэанной оси.

1203375

j5 (2) кг

25 (3) к, = z,(»). к< = e,(»), (4) к, = к, (»),.

ВНИИПИ Заказ 8407/44 Тираж 89б Подписное

Филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к области светотехники, а именна к фотометрш, и мажет быть использовано для определения таких параметров фотоэлектрических приборов, как интегральная и спектральная чувствительность, порог чувствительности, либо для измерения энергетических параметров излучения источников света.

Цель изобретения — повышение точности измерения коэффициента ослабления в расширенном динамическом диапазоне при неизменном спектральном составе излучения.

На чертеже представлена схема предлагаемого устройства.

Предлагаемое устройство содержит у которого основание 1, половина основного шара 2, выходное отверстие

3) блок фотомегрических шаро:в 4, o;"íåðñòèå между шарами 5, отверстие

6 для вывода света из шара 7.

Блок фатометрических шаров включает шары 7-10, отверстия 11-13 для введения света в каждый шар.

Максимальный коэффициент плавного ослабления основного шара 7 равен или превышает дискретный коэффициент ослабления шаров 8-10.

Рассмотрим процесс определения ,коэффициента ослабления ослабителя.

Градуиравка проводится с помощью фотоэлектрического приемника по образцовому переменному прецизионному ослабителю в диапазоне изменения светового потока равному 100 (величина 100 выбрана для удобства и опрецеляется только параметрами предлагаемого устройства). Световой поток вводится в основной шар 7 через отверстие б при сведенных полушариях. Выравниваются сигналы с фотоприемника при работе по калибруемому и образцовому ослабителям.

Раздвигая полушария шара 7 с требуемым шагом и одновременно изменяя величину ослабления образцового переменного ослабителя до выравнивания сигналов с фотоприемника, получают функцыо непрерывного ослабления К, основного шара 7 от расстая ния между полушариями

11асле этого сдвигают разъемные полушария основного шара 7 и вводят излучение в шар 8 через отверстие 11.

Реакция фотоприемника в этом случае та же, что и при вводе излучения в основной шар 7 через отверстие

Ь при определенном расстоянии между полушариями, Отсюда из функции (1) находится коэффициент дискретного ослабления осветителя К при вводе излучения в шар 8. Для нахождения соответствующего коэффициента 1( для шара 9 проделывается сходная операция. Излучение вводится в шар

8 через отверстие 11 и полушария основного шара 7 снова раздвигаются. Получают аналогичную градуиравачную функцию

Затем полушария основного шара 7 сдвигаются и излучение вводится в шар 9 через отверстие 12, По изме-. ренному при этом сигналу с фотопрчемника и функции (2) находится коэффициент дискретнога ослабления К, ..для шара 9.

Для определения коэффициента дис-. кретного ослабления К.д шара 10 излучение:вводится в шар 9 через отверстие 12 и раздвигая полушария основнога шара 7, получают функпию

Затем полушария основнога шара 7 сдвигают и излучение заводится в шар

10 через отверстие l3. Ло сигналу приемника и из функции (3) апрецеляют величину К1 для шара 10.

И наконец, при заведенном в шар

10 через отверстие 13 излучении раздвигают полушария основного шара 7 и получают функцию

Таким образом, имеем следующие градуировочные функции при введении излучения в шар

67 - К,, "в K8 Кг 1

Г, = К,, I(I(,, где, Св, i „- коэффициент ослабления

Ослабитель оптического излучения Ослабитель оптического излучения 

 

Похожие патенты:

Фотометр // 1170289

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх