Способ регулирования межэлектродного зазора при электрохимической обработке

 

CO!03 СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИ 4ЕОКИХ

РЕСПУБЛИН

„„$0 „„дяддя

<511 4 В 23 Н 7/18 бб

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

1 б а б

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНЯТИЙ (61) 891311 (21) 3797847/25 — 08 (22) 09.10.84 (46) 28.02.86. Бюл. № 8 (71) Уфимский ордена Ленина авиа— ционный институт им. Серго Орджоникидзе (72) В.В.Атрощенко, P.Х.Ганцев, Е.M.Êàëàáóãèíà и P.P.MóõóòäèHîâ (53) 621.9.048.4.06 (086.8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 891311, кл. В 23 Н 7/18, 1980. (54) (57) СПОСОБ РЕГУЛИРОВАНИЯ МЕЖ—

ЭЛЕКТРОДНОГО ЗАЗОРА ПРИ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКОИ ОБРАБОТКЕ по авт.св. №891311, отличающийся тем, что, с целью повышения точности регулирования, вводят циклы искусственного снижения давления струи электролита на входе в рабочую зону межэлектродного зазора и совмещают их с циклами измерения вероятностных характеристик высокочастотных сигналов.

1 12

Изобретение относится к электрофизическим и электрохимическим методам обработки, в частности касается способов регулирования межэлектродного зазора при электрохимической обработке и .является дополнительным к основному авт.св.

У 391311.

Цель изобретения — повышение точ— ности регулирования зазора путем выполнения измерений величин, косвенно определяющих зазор в условиях, максимально приближенных к режимам возникновения крайних замыканий.

На чертеже приведены зависимости выходного сигнала схемы измерения вероятностных характеристик высокочастотных колебаний напряжения U от величины зазора 3 при постоянном давлении струи электролита на входе в рабочую зону межэлектродного зазора (кривая 1) и при совмещении цикла измерения с циклом искусственно— го снижения давления электролита на выходе в рабочую зону межэлектродного зазора (кривая 2).

Способ реализуется следующим образом.

На равных интервалах времени определяют текущие значения вероят— ностных характеристик высокочастотных сигналов, сравнивают со значе— нием, измеренных в начале обработ— ки на первом интервале и принятым за эталон, после чего по результа— там сравнения производят регулирование межэлектродного зазора, причем измерение текущих значений ве— роятностных характеристик высокочастотных сигналов производят пу— тем поочередного измерения на каждом интервале времени вероятностных характеоистик смеси высокочастотных сигналов и помех при рабочем на— пряжении выше напряжения возникновения высокочастотных сигналов в зазоре и вероятностных характеристик помех при рабочем напряжении ниже напряжения возникновения высокочастотных сигналов в зазоре с последующим вычитанием измеренных значений и использованием полученной величины в качестве параметра регулирования.

При этом, циклы измерений совпадают с циклами искусственного снижения давления струи электролита на входе в зону межэлектродного зазора.

14351!

О

t5

ЗО

В процессе обработки высокочастотные колебания напряжения в зазоре образуются вследствие локальных мик— ропробоев межэлектродного промежутка. Микропробои происходят по пузырькам газа, который образуется в результате химической реакции, про— текающей в зазоре, а также эа счет нагрева электролита. При этом, интенсивность микропробоев определяется как величиной зазора, так и концентрацией газовых пузырьков в зазоре. Поэтому при высоком давлении электролита на входе в межэлектродный зазор из — за низкой концентрации газовых пузырьков интенсивность высокочастотных колебаний недостаточна для обеспечения требуемой точности регулирования.

Использование пониженного давле— ния электролита на входе в межэлектродный зазор увеличивает концентрацию газовых пузырьков, а следовательно и интенсивность высокочастотных колебаний, но ухудшает показатели качества процесса обработки.

Кратковременное снижение давления практически не ухудшает качества процесса обработки, а увеличение интенсивности высокочастотных колебаний в момент снижения давления позволяет оценивать межэлектродный зазор с достаточной точностью.

Частоту циклов снижения давления выбирают так, чтобы за счет обработки при пониженном давлении не ухудшалось качество обработки.

Время, на которое снижается давление, должно быть достаточным для только инициирования высокочастотных колебаний в зазоре.

Чувствительносгь способа измере— ния величины межэлектродного зазора определяется на чертеже, как тан— генс угла наклона к кривой зависимости выходного напряжения от зазора.

Как видно на чертеже, при осуществлении способа при искусственном снижении давления чувствительность измерения зазора всегда выше, чем при работе без изменения давления.

Таким образом, повышение чувствительности измерения параметров, косвенно определяющих межэлектродный зазор, реализуемое в способе обеспе— чивает повьш ение точности регулирования межэлектродного зазора, а следовательно и точность обработки.