Способ качественного спектрографического анализа вещества
Изобретение относится к спектральному анализу и может применено в спектральных лабораториях промышленных предприятий и научноисследовательских институтов. При регистрации участка спектра основно-, го порядка на фотопластинке будут зарегистрированы также спектральные линии других порядков. Эти линии могут быть приняты за линии злементов, в действительности отсутствующих в анализируемом образце. С целью повышения достоверности при исключении спектральных линий других порядков неразложенный пучок света пропускает через ступенчатый ослабитель, а о принадлежности линии спектра к дан- HONpy порядку судят по разности почернений этой линии, измеренных по разным ступенькам ослабителя. 1 ил. & (Л
СОЮЗ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК
„„SU „„1249411
А1 д11 4 G 01 N 21/67
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К А BTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР по делАм изОБРетений и ОткРытий (21) 3861677/24-25 (22) 01.03.85 (46) 07.08.86. Бюл. Р 29 (71) Институт черной металлургии (72) Э. Н, Северин (53) 535.37(088.8) (56) Зайдель А. Н. Основы спектрального анализа.-11.: Наука, 1965, с. 134.
Спектрограф с плоской дифракционной решеткой РС-2, Инструкция по обслуживанию.-нКарл Цейсс11, Иена, с. 48-53. (54) СПОСОБ КАЧЕСТВЕННОГО СПЕКТРОГРАФИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ВЕЩЕСТВА (57) Изобретение относится к спектральному анализу и может быть применено в спектральных лабораториях промьппленных предприятий и научноисследовательских институтов. При регистрации участка спектра основно-, го порядка на фотопластинке будут зарегистрированы также спектральные линии других порядков. Эти линии могут быть приняты за линии элементов, в действительности отсутствующих в анализируемом образце. С целью повышения достоверности при исключении спектральных линий других порядков неразложенный пучок света пропускают через ступенчатый ослабитель, а о принадлежности линии спектра к данному порядку су-дят по разности почернений этой линии, измеренных по разным ступенькам ослабителя. 1 ил.
Изобретение относ(,c t .< ральному анализу и и >«;- " б?:: менено в спектральных ?!я?!о1>я,1>( промышленных предпр- .:;: гий исследовательских яп. 1"
Цель изобрe fåt(I.:,;-: (?> и достоверности "-нал:- за
На >.!ео -e>,
ной .линии ме>кд, ст; 1-:::кя ..: волны линии йа чаев .эжP >б?> -; Я>. - .. ( волны данной спектр I (.Ис . (1
4 з — разность г о-"е эне-.; -; . к г
»> >
P,Jr!I>IIQI! .?-..?Н?-.IQ, О..t>;! .? -. ....(..-, > м>ле
> 11(. (>(c l p ê ò 1) ал ь t o I- ? и н «? 1: ° (« "?;-с:Ipê f t>oграмле (I(г- ". к Вм Ослабителя, Пр едв и рит ег?-,но ф >тоэмуль сии c fðä,(" - q - ... (-.
?> э ((» ), Пере,il и;е,-ьк::: пс.:? >о
I>> (> у "та!!явлин яют ст ?? яп - . и соответств ю?1!??и: не ги(трир уют спек т,>I! вещества по фото!.,яст и.-;! (у г:>а>,!1!а со(. топ; ?I". ".о- о уровня;и;т кr-.(t;;-n:-. f
1 азным 1 (! (- " "" "> чен"!!?>, П (к !?>::.—:,ой
",>я?>т !?;,чс p t (?: >!
«(.(1,«(:((«,q -.? и со—
>» э
?ин.п;
:ервс:— зз? > (!?тступень:-;;I» (. чернений . Па (:.> c т:1; с зависим?>с(ью . . которых па:"и.".:..;;;..е со 0 т В е т Г т Б пОГ>i (= Г . . > ! ((((. дя?tногс интоп13я Г?, (?!.? порядка. Исключяк " как принял.tcæ;.!UII«p,;ру?".>(: !»(Отождествление 0 т ?!(!>? ":(; :(((( изводяT как об?,(-цн>.
П p H «? е (.,, !1ре-;.„1>1 сс. ы.- . пр именен ?Кри у cт яно::;? я ра в обр", (-»ях стя.п-....с дуги перемен: —:я-о . ск,.
ДГ-2, сила тока 12, дифрак., ° спектрограф ГП -Р со сме."?ными ками. Анализ сводится к о.ож;? нию наиболес чувствите ?ьных;я- ".ра В 249, 6778 и В 249, 77>3 н ко расположенные спектральные железа делают невозмож??ым обна! следовых количеств по спектру го порядка, Поэтому ан;;;It.. !!f>(..
